一种模／数混合型FIR噪声滤波器设计

：针对现有数字FIR噪声滤除技术的噪声放大问题,结合模拟电路的方法,提出一种新的混合型FIR噪声滤波技术。该方法采用电荷泵将锁相环中数字控制的相位误差转换为模拟域电荷,调制器的输出经过一个寄存器链实现一个或数个时钟周期的延时,从中选出若干抽头分别去控制对应的分频器或相位选择器,从而量化所产生的经过各支路鉴相器的瞬时相位误差,在一个多输入电荷泵中合成为模拟域误差电荷,通过提供恒定单位直流增益,解决现有数字FIR噪声滤除技术的噪声放大问题。这种新型的滤渡器具有如下特点：离散时间域工作,模拟失配不敏感,有助于提高线性度,额外硬件开销小。     

谈谈ADC误差对系统性能的影响

本文详细分析了模-数转换误差对数据要素系统的影响。     

采用电压复位技术的像素级模数转换器

This paper presents a 50 Hz 15-bit analog-to-digital converter(ADC) for pixel-level implementation in CMOS image sensors.The ADC is based on charge packets counting and adopts a voltage reset technique to inject charge packets.The core circuit for charge/pulse conversion is specially optimized for low power,low noise and small area.An experimental chip with ten pixel-level ADCs has been fabricated and tested for verification.The measurement result shows a standard deviation of 1.8 LSB for full-scale output.The ADC has an area of 4545 m2 and consumes less than 2 W in a standard 1P-6M 0.18 m CMOS process.     

电容误差平均技术在流水线ADC中的应用

随着流水线ADC精度的不断提高,其转换器性能受到各种电路非线性的严重影响.电容失配是引起非线性的一种主要因素.实践表明,电容误差平均技术是消除失配误差的一种有效途径.介绍几种重要的电容误差平均方法的原理和工作方式,并指出各自存在的优缺点.最后对误差校准技术的发展趋势进行分析与展望.     

工作时钟1GHz超高速电压比较器设计

超高速模数转换电路是现代高速通信和信号处理电路中的重要组成部分,而超高速比较器的设计是超高速模数转换器设计中的关键环节.文中通过综合考虑比较器的传输延时和失调电压等因素,讨论了超高速比较器的设计方法,并在基于1.8V电源电压、TSMC0.18μm CMOS工艺下设计了一个工作时钟为1GHz的超高速电压比较器,经过芯片测试,证明该比较器可以在1GHz时钟下稳定工作,失调电压仅为70μV.该比较器可以用于超高速模数/数模转换器的设计.     

一个电容阵列定制的100MS/s，9bit，0.43mW逐次逼近型模数转换器

本论文介绍了一个带定制电容阵列的低功耗9bit,100MS/s逐次比较型模数转换器。其电容阵列的基本电容单元是一个新型3D,电容值为1fF的MOM电容。除此之外,改进后的电容阵列结构和开关转换方式也降低了不少功耗。为了验证设计的有效性,该比较器在TSMC IP9M 65nm LP CMOS工艺下流片。测试结果如下：采样频率100MS/s,输入频率1MS/s时,有效位数（ENOB）为7.4,bit,信噪失真比（SNDR）为46.40dB,无杂散动态范围（SFDR）为62.31dB。整个芯片核面积为0.030mm2,在1.2V电源电压下功耗为0.43mW。该设计的品质因数（FOM）为23.75fJ/conv。     

用于高精度∑-△数模转换的多级插值滤波器的设计技术

提出了一种用于20bit ∑-△数模转换器中的内插滤波器的有效实现方法,内插滤波器的过采样率为128.该方法使用多级结构以降低滤波器系数的复杂度和有限字长效应.同时提出了基于系数混合基分解的多相半带滤波器的无乘法器实现方法,它降低了控制逻辑的复杂程度,并大大节省了芯片面积.芯片采用0.13μm CMOS工艺实现,整个插值滤波器面积小于0.63mm2.整个电路系统仅用简单的硬件单元实现,且结构规整,这有利于大规模集成电路制造,并可应用于高精度数据转换电路中.     

应用于高速CMOS图像传感器的10比特列并行循环式ADC

This paper presents a high-speed column-parallel cyclic analog-to-digital converter(ADC) for a CMOS image sensor.A correlated double sampling(CDS) circuit is integrated in the ADC,which avoids a stand-alone CDS circuit block.An offset cancellation technique is also introduced,which reduces the column fixed-pattern noise(FPN) effectively.One single channel ADC with an area less than 0.02 mm~2 was implemented in a 0.13μm CMOS image sensor process.The resolution of the proposed ADC is 10-bit,and the conversion rate is 1.6 MS/s. The measured differential nonlinearity and integral nonlinearity are 0.89 LSB and 6.2 LSB together with CDS, respectively.The power consumption from 3.3 V supply is only 0.66 mW.An array of 48 10-bit column-parallel cyclic ADCs was integrated into an array of CMOS image sensor pixels.The measured results indicated that the ADC circuit is suitable for high-speed CMOS image sensors.     

基于三维集成的红外焦平面阵列技术

随着像素单元越来越小、阵列规模越来越大、帧频越来越快,传统的IRFPA面临很大的集成技术发展瓶颈。基于三维集成的红外焦平面阵列(3D-IRFPA)通过堆叠芯片集成了A/D转换器、数字信号处理器、存储器等模块,可突破像元面积、阵列规模、帧频等瓶颈,实现探测器更强大的功能和更高的性能。本文介绍了3D-IRFPA技术的结构原理、优势、面临的挑战,以及最新技术进展。     

一种用于16位流水线ADC的多比特子DAC电容失配校准方法

多比特子DAC的电容失配误差在流水线AIX:输出中引入非线性误差,不仅严重降低AEK、转换精腰.而且通常的校准技术无法对非线性误差进行校准.针对这种情况,本文提出了一种用于16位流水线ADC的多比特子DAC电容失配校准方法.该设计误差提取方案在流片后测试得到电容失配误差.进而计算不同输入情况下电容失配导致的MDAC输出误差,根据后级的误差补偿电路将误差转换为卡乏准码并存储在芯片中,对电容失配导致的流水级输出误差进行校准.仿真结果表明.卡《准后信噪失真比SINAD为93.34 dB.无杂散动态范围SFDR为117.86 dB,有效精度EN()B从12.63 bit提高到15.26 bit.