纳米钨粉粒度分布的表征研究

采用X射线小角散射法（SAXS）和光子相关谱法（PCS）测试了纳米钨（W）粉的粒度分布。结果表明,采用SAXS测试出的纳米W粉的粒度分布与透射电镜观察和比表面积法测试结果十分接近,能较为准确地表征纳米W粉的一次颗粒的粒度分布;但为了得到可信的结果,所选择的X射线衍射仪的最小可测试角必须足够小。PCS法测试的纳米W粉的粒度随分散条件的变化而变化,所提供的最佳分散条件可用于测定二次颗粒的粒度分布。     

X射线源透射式工业计算机断层扫描成像技术在复合材料工件检测中的散射修正

在X射线源透射式工业计算机断层扫描成像技术（X-TICT）中，X射线透射物质时，发生了Compton光子散射现象，有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影。因此，必须进行散射修正。利用X射线透射物质时X光子散射遵循的Compton散射强度方程，结合X射线与物质相互作用的特性，建立了有效去除X—TICT在复合材料工件检测中光子散射问题造成的图像伪影的散射修正模型。探头的总计数减去散射光子数，即可有效去除X-TICT在复合材料工件检测中散射光子造成的伪影。     

基于独立分量分析的X射线图像增强方法

为了改善由于散射造成的X射线检测图像对比度低,被测工件细节不易显示等缺点。针对退化图像中散射的分离,提出一种盲参数估计分离散射算法,该算法在假定图像由独立散射光谱组成的基础上,通过对散射偏振分析建立盲分离模型,来实现X射线图像的增强。采用小波变换得到图像子带图像,对盲参数间接估计。理论分析和实验结果表明,该算法在抑制散射的基础上有效的提高了图像的对比度和清晰度。     

在玻璃基片上形成金纳米孔隙可防光散射

日本京都工艺纤维大学的传统未来研究所的科研人员,新近研究成功利用激光照射在玻璃基片上形成由纳米金颗粒构成的纳米孔隙,可有效地防止光散射。用可视光激光器能够在玻璃基片上形成直径〈100nm孔隙,如果金纳米微粒致密地分布在基片上并形成纳米孔隙,就有可能加工成防止玻璃片上的光散射以及其他效果。他们在实验时在玻璃基片上涂覆以粒径20nm的纳米金后再涂上一层20nm厚的高分子涂膜,     

多通道型偏振成像仪的偏振定标

为了解决多通道型偏振成像仪的偏振定标问题,提出了一种基于积分球无偏光源的偏振定标方法。通过研究偏振光束与光学器件的相互作用,推导出多通道型偏振成像仪的矢量辐射传输模型,确定了需要标定的参数。运用无偏光源标定系统的偏振效应,基于矢量辐射传输模型对中心视场绝对辐射定标系数、光学镜头起偏度和系统低频相对透过率等关键参数进行了标定,通过分析标定结果求解了系统全视场的穆勒矩阵。最后,使用可调偏振度光源验证了仪器典型视场的偏振定标精度。研究结果表明,基于无偏光源的偏振定标方法可以有效提高多通道型偏振成像仪的偏振定标效率;经偏振定标后仪器在目标偏振度低于20%时的偏振测量误差小于1%,满足大气气溶胶测量精度的要求。     

不同光学模型对颗粒测量结果的影响

通过试验得出在颗粒粒度测量中,采用Mie散射模型或Fraunhofer衍射模型对检测结果有一定的影响,从理论上对产生差异的原因进行了分析。     

全自动激光粒度分布仪的研制

研制一种基于Mie散射理论的全自动激光粒度分布仪,介绍了其硬件工作原理和软件设计方案。该粒度仪能够实现自动测试、自动光路校准、自动进水、自动排水、自动消除气泡、自动清洗等功能。上位机采用VC++6.0设计服务器端监测界面,实现参数设置、数据计算、报表、打印等功能。试验表明:所设计的粒度仪能够准确自动地完成样品的典型粒径测量,具有准确可靠、测试速度快、重复性好、操作简便等特点。     

GPC-十八角激光光散射联用法测定聚乳酸的分子量及分子量分布

介绍了一种用于可生物降解医用高分子材料聚乳酸（PLA）及其改性高分子的分子量和分子量分布测定的GPC-十八角激光光散射联用技术。给出了该方法的实验原理、实验步骤和方法，并对其分析测试过程中的关键实验技术及实验结果进行了详细的讨论。实验获得了满意的结果，该方法可作为常规测定聚乳酸（PLA）及其改性高分子分子量及其分布的测定方法。     

PCS亚微米及纳米颗粒粒度测量仪的研制

介绍一种利用光子相关光谱技术进行亚微米及纳米颗粒粒度测量的PCS粒度仪的工作原理和设计。     

网络化在线颗粒测量仪软件的设计与实现

介绍网络化在线颗粒测量仪的软件设计与实现。着重说明了实时处理中的几个关键软件问题。