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衬底温度对Al2O3薄膜微观组织和电阻率的影响 总被引:2,自引:1,他引:1
为了研究衬底温度对Al2O3薄膜表面形貌和绝缘性的影响,用奥氏体不锈钢作衬底,在不同温度下用直流反应磁空溅射法直接衬底Al2O3薄膜。把在室温、100℃,250℃和400℃下衬底的样品,用SEM,EDS,XRD观察分析薄膜的微观组织,用绝缘电阻仪测量薄膜电阻。结果表明:衬底温度升高,薄膜表面晶粒度增大;薄膜电阻率随其温度升高而下降。 相似文献
82.
按照正切规则,给出了不同夹具下与基片位置有关的薄膜微柱体的生长公式,并直 观地模拟计算了这些薄膜的微观结构,反映了不同夹具下生长的薄膜结构差异与特点。 相似文献
83.
<正> 一、前言 电子陶瓷薄膜基片的生产,长期以来国内一直采用滚轧法生产。它的生产效率低、成本高、产品质量差,工人劳动条件差(冬夏用电扇吹风),不能满足大生产的要求。 相似文献
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85.
86.
阮世池 《电子科技大学学报(自然科学版)》1998,27(6):605-608
电子探针显微分析法(EPMA)能把试样微区形貌分析与微区成分分析有机地结合起来。利用这一特点,文中对Au/Cr/Bi12GeO20声表面波器件作了显微分析研究,探明了薄膜电极脱落发生在Cr膜与Bi12GeO20基片的界面上。由于Cr膜与基片间是弱的简单附着机制,并且Cr膜承受着强烈的内应力,最终导致薄膜电极脱落。 相似文献
87.
88.
王洪宇 《电子工业专用设备》2010,39(8):49-51
低温共烧陶瓷技术(Low Temperature Co-fired Ceramic LTCC)是近年来兴起的一种相当令人瞩目的多学科交叉的整合组件技术,广泛用于基板、封装及微波器件等领域。主要介绍当前广泛用于检测混合电路板、LTCC陶瓷基板、PCB裸板故障的飞针测试设备在陶瓷基片测试中的工艺研究。 相似文献
89.
90.
当叉指换能器在基片上激励声表面波模式时,同时伴随着体声波的激励。文章根据叉指换能器的激励原理,采取对压电基片背面开槽抑制叉指换能器体声波进行了实验研究。分别在ST、LT、LN压电基片上背面开槽并制作了中心频率为28MHz、70MHz、71MHz、120MHz声表面波滤波器。实验观察了体声波的抑制情况,并得出了具体实验数据。 相似文献