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991.
TC-SCAN组合移动式数字DR成像系统图像动态校正技术研究 总被引:1,自引:0,他引:1
组合移动式数字DR成像系统中,由于门架在轨道上运行过程中发生变形,生成的图像中产生横纹,在轨道很长的滚装车辆检测系统中这种横纹现象更明显。介绍了这种横纹产生机理,研究了相应的校正消除方法,并设计了实用的动态校正方法。 相似文献
992.
通过钢管截面CT图像,可以获取其大部分的参数指标,全面检测钢管质量.但是CT图像重建往往需要大量投影数据,这些数据的采集和计算非常耗时.为了加快钢管检测的速度,本文研究了少投影条件下钢管截面的图像重建算法并通过模拟数据验证了其重建的效果.我们分别用ART、MAP和OSEM这三种迭代重建算法对仿真模型进行了重建试验,并根据钢管本身的先验知识分布对算法做了改进,使重建图像质量有了明显的改善.模拟试验的结果表明,ART、MAP和OSEM算法可以实现少于20组投影数据下钢管截面较为精确的重建,并且可以做到10组投影下的近似截面重建. 相似文献
993.
994.
TANG Shibiao MA Qingli YIN Zejie HUANG Huan 《核技术(英文版)》2007,18(3):172-175
In this work, characteristics of using PSFs (plastic scintillation fibers) coupled with CCD (charge-coupled devices ) to build area detectors for high energy X-ray imaging are studied with a Monte Carlo simulation, which cover an energy range of a few hundred keV to about 20 MeV. It was found that the efficiency of PSF in detecting X-ray with energy above a few hundred keV is low. We can use large incident flux to increase the output signal to noise ratio (SNR). The performance can also be improved by coating PSF with X-ray absorption layers and the MTF of the system is presented. By optimizing the absorption layer thickness, the crosstalk of the area detector built with PSF decreases. 相似文献
995.
拍长和折射率是表征保偏光纤产品性能的重要指标,随着保偏光纤在光纤通信和光纤传感等领域的广泛应用,对拍长和折射率参数的准确测量十分重要。基于白光干涉技术研制了保偏光纤拍长测量装置,通过测量保偏光纤上两个应力点之间的几何长度和对应耦合点之间的光学长度,实现了拍长的高精度测量,重复性优于4μm。基于数字全息显微层析成像技术,研制了保偏光纤折射率测量装置,通过记录不同旋转角度下的数字全息图,经滤波反投影处理后重建保偏光纤的二维横截面的折射率分布,实现了折射率的高精度测量,重复性优于10-4。 相似文献
996.
马羽荣 《中国铸造装备与技术》2014,(3)
直读光谱仪检测球墨铸铁终铁液碳含量出现较大偏离,通过直读光谱仪、碳硫分析仪、热分析仪分析结果对比,找差距原因。通过金相分析、电镜能谱分析,从根本上找出影响光谱分析结果准确性的主要因素,确定提高试样品白口化程度作为改善方法。 相似文献
997.
998.
由于能够减小系统自身的热噪声和提高系统信噪比,低温光学是实现高灵敏度红外探测的必要手段。提出了一种将脉冲管制冷机用作冷源的透射式低温光学系统。这种新型低温光学系统可用于体积和重量受限而又需要进行高灵敏度红外探测的场合。从光学设计、光机结构设计和内部热噪声分析等方面说明了透射式低温光学系统的设计过程。搭建了用于对脉冲管制冷机冷却光学系统的可行性进行验证的试验系统,并从系统内部热噪声的角度对低温光学的有效性进行了验证。实验结果表明,经过3 h,透镜温度由300 K降至设计温度150 K,继续降温则可达到最低温度105 K。测试过程中,透镜保持完好,验证了将脉冲管制冷机用作冷源的可行性。用黑体和320×256元碲镉汞探测器对光学系统自身的热噪声进行了测试。结果表明,当光学系统的温度从300 K降至215 K时,其自身热辐射减少了75%。这与理论分析结果一致,验证了低温光学降噪的有效性。 相似文献
999.
1000.
信噪比是微光成像系统的关键参数,决定了成像系统的性能与成像质量。给出了互补金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor, CMOS)图像传感器微光成像系统的信噪比模型,仿真计算了系统的信噪比与信号、噪声的关系。搭建了信噪比测试环境,完成了系统信噪比测试实验。实验结果表明,理论值与实测值一致。最后,根据信噪比分析结果对给定系统进行了参数优化。计算结果显示,优化后的系统在1 mLux照度下,信噪比能达到4.5。信噪比的研究为基于CMOS微光成像系统的总体设计与优化提供了理论依据。 相似文献