容差扩展原则及其应用

本文提出容差扩展的三原则,并按该原则分析了电压比较器μA710(SN52510,TEXAS),提出了改进方案.按该方案集成的电压比较器FBC_(01)与同样条件下的μA710相比,成品率提高两倍,迟延时间缩小四倍,参数一致性显著提高.     

基于LM3914的电平切割细分电路

常规电平切割细分电路的细分数越高,细分电路所需的比较器也越多,会造成电睡结构烦杂,装调困难,这是限制细分数的实际原因。以点／线显示驱动器ＬＭ３９１４替代常规电平切割细分电路中的比较器阵列,可以减少比较器芯片的使用数量,提高电路的集成度,增强系统的可靠性。对ＬＭ３９１４采用级联,还可有效地提高细分电路的细分数。     

一种低失调CMOS比较器设计

本文在研究各种比较器失调消除技术基础上,提出了一种用于ADC电路的高速高精度比较器失调消除技术.该比较器由主动复位和共模箝位的预放大器和输出锁存器构成,通过负反馈自适应调整比较器输入失调电压,降低了开关电容沟道电荷注入和时钟馈通对比较器精度的影响.仿真结果表明,在Chartered 0.35μm COMS工艺下,电源电压3.3V,调整后的比较器失调误差为34μV,比较速率100MHz.     

逐次逼近A/D转换器综述

从逐次逼近A／D转换器（SA-A／D）的工作原理出发，分别对其核心模块D／A转换器和比较器进行了讨论。SA-A／D转换器中的D／A转换器可分为电压定标、电流定标和电荷定标三种，重点分析了三种目前应用较多的并行电容、分段电容和RC混合结构。SA-A／D转换器中的比较器可分为运放结构比较器和锁存（latch）比较器，实际常常使用这两种结构级联的高速高精度比较器，并配合失调校准技术，达到较高精度。最后，简要总结了SA-A／D转换器的研究现状，阐述了其在精度、速度和功耗三个方面的发展状况。     

基于0.18 μm CMOS工艺的超高速比较器

给出了基于TSMC 0．18μm CMOS工艺的1．8V超高速比较器的设计方案；对比较器速度和失调进行综合，设计了一个1GHz超高速低失调比较器；通过Monte Carlo仿真，验证该比较器的失调电压分布范围为-4．5～4．5mV，并进行了版图设计。该比较器应用于低电压A／D转换器设计中，可达到6位以上的精度。     

一种基于带隙比较器的过热保护电路

设计了一种基于带隙比较器的过热保护电路。该电路可用于功率集成电路和电源管理芯片中。采用0.6μmBiCMOS工艺对电路进行了仿真。结果表明,该电路对温度灵敏度高,关断和开启温度点受电源电压和工艺参数变化的影响很小。通过比较器的迟滞功能防止了热振荡现象的发生。     

美的EP1910电磁炉电路原理图及实测数据

美的EP1910电磁炉电路原理图如图1所示。图中四电压比较器LM339（U2）引脚功能及实测数据见表1。[第一段]     

提高FPGA-PWM计数器性能的位交换

当你需要一些模拟输出,并且系统中有一片FPGA时,你可能选择采用一个PWM模块和一个简单的低通滤波器,如图1所示.FPGA的输出通常是一种固定频率、可变占空比的波形,由一个计数器和一个数字比较器生成(表1).     

模拟与混合信号

高可靠性的CMOS运算放大器和比较器；极小边界声波过滤器；含高准确度温度传感器的24位I^C四通道增量累加ADC；用于高速信号切换的单刀双掷模拟开关；低功耗高精度运算放大器.     

采用单片机直接实现A／D转换技术的研究

本文介绍一种利用单片机内部的模拟比较器直接实现模拟量到数字量转换的模型，并阐述了该模型应用中存在的技术问题，探讨了相关应用的技术措施。