直流输电典型换相失败案例分析

我国直流输电快速发展,换相失败是直流输电最常见的故障。结合实际工程几起换相失败案例,从直流输电最基本的换相过程描述交流系统扰动、误触发、丢脉冲等原因引起的换相失败,分析了几种典型原因引起的换相失败的波形差异,阐述了直流输电换相失败的一般性原理,即某种原因导致的阀的无序导通可能引发换相失败,最后从电网规划、控制保护系统优化等方面提出了建议以提高直流输电运行可靠性。     

紫外光通信脉冲位置索引调制

在紫外光通信中,应当充分考虑带宽需求、差错性能的平衡问题。针对该问题,基于DPIM提出了一种脉冲位置索引调制(Pulse Position Index Modulation)方式,详细描述了调制结构,分析了带宽需求、传输容量和差错性能,并与其他几种调制方式进行了比较。理论分析和仿真结果表明:PPIM的差错性能比OOK、DAPIM、DAPPM、FDAPIM更优,仅劣于DPIM;但其带宽效率优于DPIM、DAPPM、FDAPIM,劣于DAPIM和OOK。PPIM能实现性能方面较好的平衡,在紫外光通信系统中具有一定的应用前景。     

电除尘器使用的新一代脉冲高压电源

从社会发展的需求——粉尘排放标准的日益提高出发，介绍了当前电除尘器高压电源的研究热点——新一代脉冲高压电源的特点和电路工作原理及电路参数设计原则，可供电力电子工程技术人员参考。     

基于MAC序列的相位编码准连续波的研究与应用

本文在讨论用二相编码信号构成的准连续波的数学模型和模糊函数的基础上,引入新的二元序列--MAC序列,并对其产生以及自相关特性进行了详细研究。通过对采用该序列编码的准连续波信号的周期单码重复时和多码重复的模糊函数进行仿真,其结果具有很好的图钉状,即有较高的距离和多普勒分辨率;并将MAC序列的相位编码准连续波应用在波形设计中,脉压仿真结果表明相比较m序列码,MAC序列更适用于目标检测。     

极紫外啁啾多层膜反射镜的拟合分析

设计并制备了极紫外啁啾多层膜反射镜,利用同步辐射反射率测试装置完成了样品反射率的测试,采用单纯形算法拟合了反射率测试曲线,分析了顶层Si的氧化对拟合结果的影响.拟合结果表明,2块样品的Si-on-Mo粗糙度为0.4 nm和0.5 nm,Mo-on-Si粗糙度为0.8 nm和0.9 nm,顶层Si的氧化是影响极紫外啁啾多层膜反射镜反射率的重要因素.     

SLR算法在MRI中的模拟方法与实验研究

在磁共振成像中,运用Shinnar-Le Roux算法设计射频脉冲,不仅可以避免Bloch方程引起的非线性问题,而且能有效地抑制旁瓣激发,以获得理想的激发带宽.首先介绍了SLR脉冲设计思想,然后基于密度矩阵理论,应用计算机模拟方法对所设计脉冲的激发带宽进行模拟.最后,给出了测量射频脉冲激发带宽曲线的脉冲序列,并用MRI实验加以验证.     

无线光通信中基于FPGA的高效编码调制器设计

基于无线光信道和脉冲位置调制(PPM)信号的特点,将Turbo乘积码(TPC)引入其中,完成了Turbo乘积码和PPM调制硬件电路的设计制作.分别对系统能获得的调制增益和编码增益进行了详细的实验测试,证明了该设计方案可行,实验结果表明:在信息速率为155.52 Mb/s,闪烁指数为0.1,调制阶数M=4,误码率(BER...     

脉冲偏压频率对TiSiN/TiAlN纳米多层膜结构和性能的影响规律

目的 研究脉冲偏压频率对TiSiN/TiAlN纳米多层薄膜结构和性能的影响,优化工艺参数,以提高薄膜的性能.方法 采用脉冲偏压电弧离子镀,在M2高速钢和单晶硅基底上以不同脉冲偏压频率沉积TiSiN/TiAlN纳米多层薄膜,采用扫描电子显微镜(SEM)、能谱仪(EDS)、X射线衍射仪和纳米压痕仪,研究脉冲偏压频率对TiSiN/TiAlN纳米多层薄膜的表面形貌、元素成分、截面形貌、相结构和纳米硬度的影响.结果 TiSiN/TiAlN纳米多层薄膜表面的大颗粒直径主要集中在1μm以下,随着脉冲偏压频率的变化,大颗粒的数量为184～234,所占面积为40.686～63.87μm2;主要元素为Ti元素和N元素,所占原子比分别为48％和50％,Si和Al元素的含量较少;多层结构不明显,截面形貌可观察到柱状晶的细化,80 kHz时出现片状化结构;以(111)晶面为择优取向,晶粒尺寸在20 nm左右;纳米硬度为28.3～32.3 GPa,弹性模量为262.5～286.8 GPa.结论 50 kHz时,TiSiN/TiAlN纳米多层薄膜表面大颗粒的数量最少,为184个;70 kHz时大颗粒所占面积最小,为40.686μm2;晶粒尺寸在50～60 kHz时发生细化,60 kHz时,晶粒尺寸达到最小值19.366 nm,纳米硬度和弹性模量分别达到最大值32.3 GPa和308.6 GPa,脉冲偏压频率的最佳频率范围为50～70 kHz.     

脉冲偏压频率对TiSiN薄膜的微观结构和性能的影响

采用脉冲偏压电弧离子镀技术,通过改变脉冲偏压频率在M2高速钢基体上沉积TiSiN薄膜,利用扫描电镜(SEM)、能谱仪(EDS)、X射线衍射仪(XRD)等仪器,研究脉冲偏压频率对TiSiN薄膜的表面和截面形貌、元素成分、相结构的影响,并通过纳米压痕仪测试了TiSiN薄膜的纳米硬度和弹性模量。在统计的视场内(9×10³ μm²),TiSiN薄膜表面的大颗粒直径在0.30~7.26 μm之间,脉冲偏压频率从40 kHz到60 kHz,数量由495个减少到356个,之后随着脉冲偏压频率增加到80 kHz,大颗粒数量又增加到657个;当脉冲偏压频率为60 kHz时,TiSiN薄膜表面大颗粒和微坑缺陷数量最少,Si原子含量达到最小值0.46%;脉冲偏压频率为50 kHz时,TiSiN薄膜以非柱状晶的结构进行生长,厚度达到最小值1.63 μm;脉冲偏压频率为60 kHz时,柱状晶结构细化,薄膜的致密度增加。不同脉冲偏压频率下TiSiN薄膜都在(111)晶面位置出现择优取向,Si以非晶态Si₃N₄的形式存在于TiSiN薄膜中,没有检测到Si的峰值,形成了TiN晶体和Si₃N₄非晶态的复合结构。脉冲偏压频率60 kHz下TiSiN薄膜的表面大颗粒最少,纳米硬度达到最大值34.56 GPa,比M2高速钢基体的硬度提高了约3倍。当脉冲偏压频率为50 kHz时,TiSiN薄膜的腐蚀电位达到最大值－0.352 V(vs SCE),比基体提高了723 mV,自腐蚀电流密度达到0.73 μA/cm²;当脉冲偏压频率为70 kHz时,TiSiN薄膜的腐蚀电位达到－0.526 V(vs SCE),自腐蚀电流密度达到最小值 0.66 μA/cm²。     

FFT在激光测距系统中的应用

文章从激光的特点和原理出发,简要介绍了相位法激光测距的基本原理,着重突出了FFT(快速傅里叶变换)在高精度中短距离测量上的应用以及在本系统中的优势,从理论上论证了FFT的原理,提出了在DSP上实现FFT的方法。在文中的末尾给出了该方法的误差,并且分析了误差来源,提出了减小误差的方法,提高了系统的测量精度和稳定性。