PXI高速数据采集卡

PXI高速数据采集卡PXI一9820的分辨率为14位，频宽为30MHz，配备两组可同步采集的模拟输入端，两组同时使用时的采样频率为65MSPS，采集一组模拟输入时的采样频率可达130MSPS，输入可由软件选择为-1～1V或-5～5V，输入阻抗可选择为50Ω或1．5MΩ，最高可支持512MB的标准SDRAM，提供数秒的储存空间。具有软件触发、模拟触发与     

聚合物熔体的非等温平板收缩流动的数值模拟

用有限元法模拟了Carreau流体在4：1平板收缩口模中的非等温挤出流动，采用3节点的三角形单元对速度、压力和温度进行等阶插值，运用特殊的罚函数处理流体的不可压缩条件，解决了压力场的数值振荡问题，并用改进的Newton迭代法对非线性方程进行求解，成功地计算了Carreau流体在平板收缩流动中的速度、压力、粘度以及应力的分布，同时得到温度场的分布，计算的应力分布与实验的结果及Renardy的分析结构相符。     

基于均匀圆阵的信号二维方向角互相关估计

针对复值乘性和加性噪声同时存在的情况,提出一种基于均匀圆阵的信号二维方向角互相关估计方法.本文推导出互相关估计公式,分析了估计的统计性能,给出了最优参数选择原则.在不改变均匀圆阵阵列流形的情况下,此方法抑制了信号中的乘性和加性噪声,且计算量小.计算机仿真证明了此方法的有效性.     

非稳定井流模型的半解析解

为了提高非稳定渗流计算的计算精度 ,通过数学分析得到了水位传导系数随时间变化时 ,一类非稳定渗流井流模型的半解析解 ,并进行了计算比较     

光传送网中客户信号的映射和复用

文章主要介绍了光传送网(OTN)中光传输模块(OTM)的映射、复用结构、光通道数据单元(ODUk)的时分复用以及客户信号的映射方法．     

非接触式全场三维激光ESPI与Shearography(NDT)测试技术

本文介绍最新激光电子散斑干涉技术ESPI与Shearography激光错位检测技术的基本原理及其应用.该技术足近十年间发展起来的最新的光测技术,它们的特点是非接触式全场三维测试,适用于新材料研究、电子元器件与构件的力学性能试验、振动测试及无损检测.国外的应用表明,ESPI技术可以提供快速、全场、三维的测试信息,能解决许多目前电测方法所不能解决的复杂问题,是目前具有广泛工程应用前景的先进的光测技术.     

专业电声系统的信号噪声比和动态范围

从事专业声频工作专业人员对电声设备的许多重要技术指标都是很熟悉的。随着近几十年技术、工艺的进步和许多设备的数字化,有些传统上重要的技术指标如频率响应、谐波失真等都已不再是问题,几乎任何一台设备都可达到频率响应20~20kHz±0.5dB,在全频带内谐波失真小于0.1％的水平。与此同时,另外有些重要指标例如最高输入电平、最     

逻辑分析仪在教学实验中的应用

硬件教学实验必须由验证性向设计性转变，才能达到培养学生设计能力和处理问题的能力。而逻辑分析仪是数字系统设计的常用工具．对于实验和教学都起着不可忽视的作用。     

用CMOS工艺实现非接触IC卡天线的集成化设计

论述了用CMOS工艺实现非接触式IC卡天线的集成化需要考虑的各个方面,建立了集成天线的模型,给出了合理的设计方案,并通过实验验证了模型和设计方案.实验结果表明,采用片上天线完全可以提供非接触式IC卡工作所需要的能量.在频率为2 2 .5 MHz、感应强度为6×10 - 4 T的磁场中,面积为2 m m×2 mm的集成天线可以为10 kΩ的负载提供1.2 2 5 m W的能量.     

X射线光刻掩模背面刻蚀过程中的形变仿真

开发了理论模型以验证有限元方法用于X射线光刻掩模刻蚀过程数值仿真的正确性。利用相同的有限元技术，对X射线光刻掩模的背面开窗、Si片刻蚀过程进行数值仿真。结果表明，图形区域的最大平面内形变(IPD)出现在上、下边缘处，最大非平面形变(OPD)出现在左、右边缘处。此外对Si片单载荷步刻蚀和多载荷步刻蚀的仿真进行比较，结果表明图形区域最终的形变量与Si片刻蚀的过程无关。