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李秀华 《电子工业专用设备》1996,25(2):36-37
集成电路外壳对可靠性的影响及质量控制李秀华(西安微电子技术研究所710054)1前言集成电路的可靠性主要取决于芯片的质量与封装技术的高低,而外壳的质量又是影响封装技术的关键。做为集成电路专业制造厂,使用白陶瓷、黑陶瓷、金属圆外壳、菱型外壳等几十个规格... 相似文献
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简述了GaAs IC CAD技术开发应用的现状及发展趋势,提出了我国在GaAs IC CAD技术开发应用方面的建议。 相似文献
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本文提出了激光功能微调技术在高精度混合集成电路上的应用,讨论了关键技术问题,并以实例具体说明。该技术的应用为研制高精度混合集成电路开辟了新途径。 相似文献
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近年来,可编程逻辑器件已广泛应用于计算机系统,数据处理,接口技术和工业控制等领域中。本文阐述了可编程阵列逻辑拓差分和多相键控发送端中的应用,结果表明,与中小规模集成电路设计方法相比,采用可编程阵列逻辑器件的设计方法不仅体积小,功耗低,可靠性高,而且安装,调试过程更为简便。 相似文献
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IC塑料封装中的损伤 总被引:1,自引:0,他引:1
芯片集成度的提高和大面积化,封装多针脚、细引线、小型化等会引起器件可靠性的下降。本文依据强度理论和试验,预测塑料封装中的损伤模型并提出了减少损伤,增加了可靠性的措施。 相似文献