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1.
本系统将IEEE 1149.1标准测试总线扩展为一个多扫描链的测试总线环境,能够快速对多板进行测试,准确定位故障位置和类型。相对于单一连续扫描链测试系统,支持SJTAG的本系统提高了测试吞吐量,能够隔离系统中某个暂不测试的板并对其余板进行测试访问,整体上提高了测试故障覆盖率,并且能够更精确地定位故障。 相似文献
2.
利用嵌入式技术开发了以太网边缘扫描控制器,该控制器实现了以太网接入功能,可以测试任何符合IEEE1149.1标准的器件、电路板和系统。 相似文献
3.
依据IEEE1149.1标准,采用SOPC技术设计了一款高速的边界扫描主控器;用户可对该主控器进行配置,输出测试所需的控制信号,输出的测试时钟TCK频率可达50MHz,大大提高了边界扫描测试效率;同时,开发的具有自主知识产权的边界扫描主控器IP核为SOPC系统可测性设计提供了一个很有实际价值的组件,无需专用边界扫描测试设备即可实现对系统的边界扫描测试功能;经时序仿真波形和数字示波器观测结果验证,该边界扫描主控器所产生的测试信号符合测试要求,设计正确合理。 相似文献
4.
陈庆孔 《计算机与数字工程》2010,38(9):62-65,72
边界扫描技术是标准化的可测试性设计技术,它提供了对器件的功能、互连及相互间影响进行测,极大地方便了对于复杂电路的测试。文章针对XCV600_HQ240,介绍了边界扫描的基本结构、边界扫描测试操作流程、测试接口和IEEE 1149.1标准规定的数据寄存器和指令寄存器,结合FPGA芯片的BSDL文件进行边界扫描配置和测试。 相似文献
5.
为推动边界扫描技术在故障诊断领域中的应用,对边界扫描测试技术进行了研究,设计并开发了一种基于VXI总线的边界扫描测试系统;文章介绍了边界扫描的基本结构和测试原理,并重点介绍了开发边界扫描测试系统软件的流程;实验结果表明,开发的边界扫描测试系统能够利用器件的边界扫描描述文件,自动生成测试向量并完成对数字电路的测试以及故障诊断等任务,同时可以对设置的故障进行精确的定位和隔离。 相似文献
6.
基于JTAG标准的处理器片上调试的分析和实现 总被引:2,自引:1,他引:2
介绍了一种基于IEEE11 49.1标准的嵌入式处理器片上调试的方法,并以一款DSP处理器SuperV2为研究对象,通过扩充JTAG测试访问端口和指令,并在处理器内增加和修改支持调试功能的逻辑,实现了断点设置、外部调试请求和单步执行的调试功能。 相似文献
7.
JTAG接口电路设计与应用 总被引:1,自引:0,他引:1
目前通讯电子产品的芯片、单板、系统的复杂度不断提高,物理尺寸却在不断缩小,JTAG电路的设计也随之成为关系到单板可测性、稳定性和可靠性的重要因素。JTAG测试接口在集成电路工作时,可以控制管脚的状态,由于应用系统的干扰,可能使JTAG测试口出现错误操作,从而影响芯片及其管脚的工作状态,造成芯片不能正常工作,给产品的可靠运行带来隐患。因此,很有必要对JTAG接口电路设计进行探讨,找到一种更合理的JTAG接口电路设计。 相似文献
8.
主要介绍了目前世界上主要流行的一种Flash加载技术——利用JTAG技术加载Flash。文章分为3个部分。首先描述了JTAG加载Flash的原理。然后对JTAG加载Flash的优点做了说明。最后对实验性能做了详细分析。 相似文献
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