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101.
多孔平面的快速边界元划分 总被引:2,自引:2,他引:0
在 3D VL SI互连寄生电容的边界元素法计算中 ,多孔平面的边界元划分是十分困难的问题 .文中提出一种快速划分多孔平面边界元的方法 ,它可高效处理非正交几何边界形状 ,形成规则的梯形元 .与全局扫描线法相比 ,有较高的划分速度、计算速度与精度 相似文献
102.
底层相关的VLSI高层次设计策略 总被引:1,自引:1,他引:0
边计年 《计算机辅助设计与图形学学报》2000,12(11):827-829
在VLSI系统设计、行为设计和逻辑设计过程中,未考虑到的与半导体制造工艺有关的因素(如延迟、功耗问题等)严重影响设计结果的性能,以至使物理设计结果的性能远离原来的设计目标,针对这个问题,文中提出与底层有关的VLSI高层次设计策略,将影响性能的底层参数和信息引入高层次设计中,使得高层次设计结果在进行物理实现之时能满足性能要求。 相似文献
103.
104.
105.
A glance of technology efforts for design-for-manufacturing in nano-scale CMOS processes 总被引:2,自引:0,他引:2
YuHua Cheng 《中国科学F辑(英文版)》2008,51(6):807-818
This paper overviews design for manufacturing (DFM) for IC design in nano-CMOS technologies. Process/device issues relevant to the manufacturability of ICs in advanced CMOS technologies will be presented first before an exploration on process/device modeling for DFM is done. The discussion also covers a brief introduction of DFM-aware of design flow and EDA efforts to better handle the design-manufacturing interface in very large scale IC design environment. 相似文献
106.
一种新型CMOS施密特触发器 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了一种新型的高速度全摆幅CMOS施密特触发器,其结构非常简单,只用了10个MOS管,其中包括两个开关管和两个反向器;通过分析计算给出了新型施密特触发器的阈值电平和磁滞宽度及传输延迟的计算方法,并且此施密特触发器具有磁滞宽度比较容易控制、转换速度快的特点;该电路采用0.6μm的CMOS工艺设计,并通过HSPICE验证,表明这种施密特触发器具有全摆幅输出、几乎不存在静态功耗、传输延迟几乎与负载无关等优点,比较适合在低电压、低功耗、高速便携设备中应用。 相似文献
107.
An efficient VLSI architecture and FPGA implementation of the Finite Ridgelet Transform 总被引:1,自引:0,他引:1
Shrutisagar Chandrasekaran Abbes Amira Shi Minghua Amine Bermak 《Journal of Real-Time Image Processing》2008,3(3):183-193
In this paper, an efficient architecture for the Finite Ridgelet Transform (FRIT) suitable for VLSI implementation based on
a parallel, systolic Finite Radon Transform (FRAT) and a Haar Discrete Wavelet Transform (DWT) sub-block, respectively is
presented. The FRAT sub-block is a novel parametrisable, scalable and high performance core with a time complexity of O(p
2), where p is the block size. Field Programmable Gate Array (FPGA) and Application Specific Integrated Circuit (ASIC) implementations
are carried out to analyse the performance of the FRIT core developed.
相似文献
Abbes AmiraEmail: |
108.
一种新的CMOS电路最大功耗估计方法 总被引:1,自引:0,他引:1
过大的峰值功耗会使芯片承受过大的瞬间电流冲击,降低芯片的可靠性及性能,因此有效地对电路最大功耗作出精确的估计非常重要,为了在尽可能短的时间内对VLSI电路的最大功耗下限作出较为可信的估计,给出了一种新的CMOS电路最大功耗估计方法,ISCAS85电路集的实验结果表明这种估计方法不仅对于无时间延迟功耗计算模型,而且对于有时间延迟功耗计算模型,都具有最大功耗估计值较准确和耗时短的优点。 相似文献
109.
110.
IDDQ测试是当前倍受国内外业界人士关主的一种新的CMOS集成电路测试方法的技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试CMOS电路的静态电源电流参数值,它可以有效地检测出早斯失效器件。IDDQ测试的关键技术是测试向量自动生成及高效的测试实现技术。 相似文献