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一种新的CMOS组合电路最大功耗快速模拟方法 总被引:2,自引:1,他引:1
过大的峰值功耗会使芯片承受过大的瞬间电流冲击,降低芯片的可靠性及性能,因此有效地对电路最大功耗做出精确的估计非常重要。由于在实际电路中存在的时间延迟,而考虑延时的电路功耗模型计算量较大,因此用模拟方法求取电路最大功耗非常耗时。为了在尽可能短的时间内对VLSI电路的最大功耗做出较为可信的估计,首次提出了二阶段模拟加速方法。对ISCAS85电路集的实验结果表明,这种估计方法具有最大功耗估计值准确和加速明显的优点。 相似文献
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A glance of technology efforts for design-for-manufacturing in nano-scale CMOS processes 总被引:2,自引:0,他引:2
YuHua Cheng 《中国科学F辑(英文版)》2008,51(6):807-818
This paper overviews design for manufacturing (DFM) for IC design in nano-CMOS technologies. Process/device issues relevant to the manufacturability of ICs in advanced CMOS technologies will be presented first before an exploration on process/device modeling for DFM is done. The discussion also covers a brief introduction of DFM-aware of design flow and EDA efforts to better handle the design-manufacturing interface in very large scale IC design environment. 相似文献
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一种新的CMOS电路最大功耗估计方法 总被引:1,自引:0,他引:1
过大的峰值功耗会使芯片承受过大的瞬间电流冲击,降低芯片的可靠性及性能,因此有效地对电路最大功耗作出精确的估计非常重要,为了在尽可能短的时间内对VLSI电路的最大功耗下限作出较为可信的估计,给出了一种新的CMOS电路最大功耗估计方法,ISCAS85电路集的实验结果表明这种估计方法不仅对于无时间延迟功耗计算模型,而且对于有时间延迟功耗计算模型,都具有最大功耗估计值较准确和耗时短的优点。 相似文献
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IDDQ测试是当前倍受国内外业界人士关主的一种新的CMOS集成电路测试方法的技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试CMOS电路的静态电源电流参数值,它可以有效地检测出早斯失效器件。IDDQ测试的关键技术是测试向量自动生成及高效的测试实现技术。 相似文献
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赵树军 《黑龙江工程学院学报》2013,27(2):61-64
电压跟随器的电压放大倍数总是小于且趋近于1,它具有低输出阻抗、高输入阻抗的特点.也就是说在理想的情况下,从前级电路看去电压跟随器相当于断路,从后级电路看去电压跟随器又相当于一个恒压源.在具体电路中,电压跟随器一般做缓冲级和隔离级,并起着前后级阻抗匹配的作用.文中提出一种AB类高性能CMOS轨到轨电压跟随器,电路是以AB类对称式电压跟随器为基础设计的. 相似文献
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