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11.
The 1/f noise in photovoltaic (PV) molecular-beam epitaxy (MBE)-grown Hg1−xCdxTe double-layer planar heterostructure (DLPH) large-area detectors is a critical noise component with the potential to limit sensitivity of the cross-track infrared sounder (CrIS) instrument. Therefore, an understanding of the origins and mechanisms of noise currents in these PV detectors is of great importance. Excess low-frequency noise has been measured on a number of 1000-μm-diameter active-area detectors of varying “quality” (i.e., having a wide range of I-V characteristics at 78 K). The 1/f noise was measured as a function of cut-off wavelength under illuminated conditions. For short-wave infrared (SWIR) detectors at 98 K, minimal 1/f noise was measured when the total current was dominated by diffusion with white noise spectral density in the mid-10−15A/Hz1/2 range. For SWIR detectors dominated by other than diffusion current, the ratio, α, of the noise current in unit bandwidth in(f = 1 Hz, Vd = −60 mV, and Δf = 1 Hz) to dark current Id(Vd = −60 mV) was αSW-d = in/Id ∼ 1 × 10−3. The SWIR detectors measured at 0 mV under illuminated conditions had median αSW-P = in/Iph ∼ 7 × 10−6. For mid-wave infrared (MWIR) detectors, αMW-d = in/Id ∼ 2 × 10−4, due to tunneling current contributions to the 1/f noise. Measurements on forty-nine 1000-μm-diameter MWIR detectors under illuminated conditions at 98 K and −60 mV bias resulted in αMW-P = in/Iph = 4.16 ± 1.69 × 10−6. A significant point to note is that the photo-induced noise spectra are nearly identical at 0 mV and 100 mV reverse bias, with a noise-current-to-photocurrent ratio, αMW-P, in the mid 10−6 range. For long-wave infrared (LWIR) detectors measured at 78 K, the ratio, αLW-d = in/Id ∼ 6 × 10−6, for the best performers. The majority of the LWIR detectors exhibited αLW-d on the order of 2 × 10−5. The photo-induced 1/f noise had αLW-P = in/Iph ∼ 5 × 10−6. The value of the noise-current-to-dark-current ratio, α appears to increase with increasing bandgap. It is not clear if this is due to different current mechanisms impacting 1/f noise performance. Measurements on detectors of different bandgaps are needed at temperatures where diffusion current is the dominant current. Excess low-frequency noise measurements made as a function of detector reverse bias indicate 1/f noise may result primarily from the dominant current mechanism at each particular bias. The 1/f noise was not a direct function of the applied bias.  相似文献   
12.
分别利用Ga2O3粉末和Ga2O3凝胶作为Ga源,采用NH3为N源,在950℃下,分别将两种反应物与流动的NH3反应20 min合成了GaN微晶。用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、选择区电子衍射(SAED)对微晶进行结构、形貌的分析,特别是对两种不同途径合成GaN微晶的XRD进行了分析比较。结果表明,当Ga源温度为950℃时两种不同的合成途径均可得到六方纤锌矿结构的GaN单晶颗粒,在氮化温度为850℃和900℃时,利用Ga2O3粉末作为Ga源,仅有少量的Ga2O3转变为GaN;而采用Ga2O3凝胶作为Ga源,在相同的温度下,大部分凝胶经过高温氨化反应均可转化为GaN。  相似文献   
13.
In the presented work some properties of a recently developed Si3N4/SiC micro/nanocomposite have been investigated. The material was tested using a pin on disc configuration. Under unlubricated sliding conditions using Si3N4 pin at 50 % humidity, the friction coefficient was in the range of 0,6 ‐ 0,7. The reduction of humidity resulted in a lower coefficient of friction, in vacuum the coefficient of friction had a value of about 0,6. The wear resistance in vacuum was significantly lower then that in air. The wear patterns on the Si3N4+SiC disc revealed that mechanical fracture was the wear controlling mechanism. Creep tests were realized in four point bending configuration in the temperature interval 1200‐1400 °C at stresses 50,100 and 150 MPa and the minimal creep deformation rate was established for each stress level. The activation energy, established from the minimal creep deformation had a value of about 360 kJ/mol and the stress exponent values were in the range of 0.8‐1.28. From the achieved stress exponents it can be assumed that under the studied load/temperature conditions the diffusion creep was the most probable creep controlling mechanism.  相似文献   
14.
全球移动通信系统(GSM)广泛的应用于现代通信系统就在于其良好的兼容性,不同的移动设备之间在遵守一定协议规范的条件下可以相互通信;本设计测试的是GSM第11系列GSM11.10,他包括诸多测试项,只对接收机参考灵敏度电平在GSM900与DCS1800两个频段进行测量。给出了传统形式下的手动测试和自动测试平台的比较,并建立了收信机参考灵敏度指标的自动测试平台。  相似文献   
15.
同步是DS/FH混合通信系统的关键技术之一。根据跳频系统中对同步的要求,介绍了一种适用于DS/FH混合扩频通信系统的跳频同步方法,采用同步字头和精准时间相结合的方法实现跳频同步。对同步性能进行了分析,结果表明该跳频同步方法同步时间短,捕获概率高。  相似文献   
16.
 An efficient finite element model is presented for the static and dynamic piezothermoelastic analysis and control of FGM plates under temperature gradient environments using integrated piezoelectric sensor/actuator layers. The properties of an FGM plate are functionally graded in the thickness direction according to a volume fraction power law distribution. A constant displacement-cum-velocity feedback control algorithm that couples the direct and inverse piezoelectric effects is applied to provide active feedback control of the integrated FGM plate in a closed loop system. Numerical results for the static and dynamic control are presented for the FGM plate, which consists of zirconia and aluminum. The effects of the constituent volume fractions and the influence of feedback control gain on the static and dynamic responses of the FGM plates are examined. Received: 13 March 2002 / Accepted: 5 March 2003 The work described in this paper was supported by a grant awarded by the Research Grants Council of the Hong Kong Special Administrative Region, China (Project No. CityU 1024/01E).  相似文献   
17.
随着更加精细的SMT、BGA等表面贴装技术的运用,化学沉镍金(ENIG)作为线路板最终表面处理得到了越来越广泛的应用,同时可怕的“黑盘”现象也随之更广泛地“流行”起来,直接导致贴装后元器件焊接点不规则接触不良。为了贯彻执行最好的流程控制和采取有效的预防措施,了解这种焊接失败的产生机理是非常重要的,及早的观测到可能发生“黑盘”现象的迹象变得同样关键。本文介绍了一种简单的预先探测ENIG镍层“黑盘”现象的测试方法-镍层耐硝酸腐蚀性测试,这种测试可以用于作为一种常规的测试方法监测一般化学沉镍溶液在有效使用寿命范围内新鲜沉积的镍层的质量。利用Weibull概率统计分析在不同的金属置换周期(MTO)下镍层的可靠性能表现。结合试验结果得出了一个镍层耐硝酸腐蚀性的判定标准。  相似文献   
18.
介绍了用单根光纤传输测量信号和功率信号的光功率推动液体压力测量仪及其工作原理。该仪器以电容式压力传感器的δ元件作为压力检测元件,采用低功耗前置器电路和简单直杆结构,实现了便携式测量。测量范围为O~100kPa,精度为O.01kPa。  相似文献   
19.
本文从设备管理工作中最为基本的设备采购及设备建档两个方面探讨了如何将GB/T15481-2000《检测和校准实验室能力的通用要求》用于指导检测实验室的设备管理实际工作。  相似文献   
20.
在实验室条件下对用丙烯腈-苯乙烯共聚物在硫酸存在下的水解磺化产物(HSAS)处理的泥浆性能进行了评定。HSAS处理的泥浆有较小的滤失性,较好的耐盐和抗高温性。  相似文献   
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