太阳能LED驱虫与照明系统的开发和设计

太阳能LED驱虫与照明系统由太阳能电池板、壳体及设置在壳体下端的光源、光控开关、蓄电池和光源下端的捕捉器组成,通过产生波长为380 nm的紫光LED灯,吸引田园中相应的飞虫,再用捕捉器进行捕杀,达到物理驱虫的效果,同时通过白光LED灯达到照明的效果。该系统吸收了相关田园驱蚊灯的优点,并用新型的太阳能电池作为驱动能源,光效益高,自动性强,能起到田园驱虫的效果。且结构简单,易于操作,造价低廉,寿命长,环保,故有使用和推广价值。将该系统放在田园中,能在一定程度上提高农产品产量。     

利用LabVIEW产生字模的LED显示屏设计

介绍了一种基于LabVIEW与FPGA的LED汉字显示屏,其利用LabVIEW软件灵活、简便地从计算机的汉字库中提取汉字字模并转换为供FPGA直接调用的十六进制字模数据。通过在LabVIEW中进行图像信息扫描的方式得到任意汉字的字模,然后经串口传递给FPGA控制显示汉字。该方法的字模由上位机生成,省去了建立字模库步骤,简化了显示过程,实用性较强。     

信息无线传输控制器设计

设计了一种基于短距离无线通信技术传输信息的文字信息编辑控制器,可实现中英文信息编辑、存储和无线收发,并与LED显示屏之间进行点对点无线通信,可以使LED显示屏脱离微机和有线网络单独工作,信息更新更加方便。讨论了短距离无线通信的抗干扰机制,介绍了信息编辑器的功能、硬件组成、软件设计和及相关问题。     

MAX6951型LED驱动器及其应用

MAX6950/6951是Maxim公司推出的串行接口LED显示驱动器,内部集成16进制译码器和亮度控制器.介绍MAX6951的结构特点、工作原理及与LPC2214型ARM微控制器配合使用的软硬件实现.     

汽车自动变速器示教板的设计

利用单片机控制发光二极管和光纤来模拟汽车自动变速器的油路、阀体及其故障现象，采用键盘和LED显示器进行人机交互，操作方便简单，软件成功地模拟自动变速器的核心技未——自动换档功能，使学生能够清晰地领会自动变速器的工作原理。     

多位LED串行显示电路设计与应用

74HC595A芯片具有串行输入、并行输出功能,利用该集成电路可设计多位LED(发光二极管)串行显示电路。文中介绍了利用该芯片设计的12位LED串行显示电路,详细说明了该电路的工作原理及编程思路,并给出了参考程序。该电路只占用单片机3根口线,较并行显示方式极大地节省了系统资源,已在实际系统中得到应用。     

多路热释电红外智能检测报警装置

被动型热释电红外报警器把红外线的隐蔽性很好地应用于报警系统中。利用热释电红外传感器作为探头，进行非接触式远距离检测，将感测到的红外信息转换成电压信号，经过单片机处理，完成数码显示和语音报警功能，从而实现了防盗报警功能，达到了安全防护的目的。     

提高LED稳定性的高精度数控恒流源

近年来发光二极管越来越多的用作近红外光谱仪器的光源,发光二极管的稳定性直接影响光谱分析结果。本文介绍了一种用于提高LED光源稳定性的高精度数控恒流源电路,该电路基于单片机设计,由D/A转换电路和电流源电路组成,结构简单,输出从0￣165mA连续可调,恒流精度达到0.04%,光强稳定度优于±0.02%,结果满足光谱测量的要求。     

LED显示屏高灰度扫描控制的FPGA实现

本文在分析LED显示屏的显示扫描控制方法的基础上,提出了用并行结构实现高灰度扫描控制的方案,设计了基于FPGA的8位并行输入LED扫描控制芯片,并结合外围电路、显示面板及计算机构成了LED大屏幕显示系统,实现了LED显示屏的256级灰度显示,在简化系统硬件结构的前提下取得了清晰稳定的画面显示。     

Long‐term Reliability Prediction of 935 nm LEDs Using Failure Laws and Low Acceleration Factor Ageing Tests

Numerous papers have already reported various results on electrical and optical performances of GaAs‐based materials for optoelectronic applications. Other papers have proposed some methodologies for a classical estimation of reliability of GaAs compounds using life testing methods on a few thousand samples over 10 000 hours of testing. In contrast, fewer papers have studied the complete relation between degradation laws in relation to failure mechanisms and the estimation of lifetime distribution using accelerated ageing tests considering a short test duration, low acceleration factor and analytical extrapolation. In this paper, we report the results for commercial InGaAs/GaAs 935 nm packaged light emitting diodes (LEDs) using electrical and optical measurements versus ageing time. Cumulative failure distributions are calculated using degradation laws and process distribution data of optical power. A complete methodology is described proposing an accurate reliability model from experimental determination of the failure mechanisms (defect diffusion) for this technology. Electrical and optical characterizations are used with temperature dependence, short‐duration accelerated tests (less than 1500 h) with an increase in bias current (up to 50%), a small number of samples (less than 20) and weak acceleration factors (up to 240). Copyright © 2005 John Wiley & Sons, Ltd.