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上海华虹NEC电子有限公司工程一部 《中国集成电路》2007,16(7):36-37
1、简介项目名称:高压0.18μm先进工艺技术,该项目产品属于30V高工作电压的关键尺寸为0.18μm的逻辑器件。在8英寸硅片上经过32层光刻版制作完成的该产品集成了10余种晶体管,可广泛应用于手机、电脑、PDA、电视等液晶显示器的驱动器件。 相似文献
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器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。因此,测试工程师必须对计算机科学编程和操作系统有详细的认识。测试工程师必须清楚了解测试设备与器件之间的接口,懂得怎样模拟器件将来的电操作环境,这样器件被测试的条件类似于将来应用的环境。 相似文献
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Liam Riordan 《电子设计技术》2006,13(9):110-110,112
高速DAC,比如模拟器件(AnalogDevices)公司的AD9776/78/79TxDAC系列,能提供差分输出,但对于低端交流电应用或高精度电平设置应用,配备差分转换电路的单端电流输出DAC提供了一种新颖的方法来生成差分波形控制功能。图1中的基本电路组合了电流输出DAC(即IC1,如8位AD5424D A C)和一个单端至差分运算放大级IC2、IC3A、IC3B——来产生要求的输出。对于双电源应用,可选择DAC的单极工作模式来达到DAC的最优性能。DAC利用单一运算放大器提供了双象限倍增或单极输出电压摆动。DAC的输出需要缓冲器,这是因为对施加到DAC输入端的代… 相似文献
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