多模式系统的测试顺序优化

研究了多模式系统的测试顺序优化问题。基于不同模式下测试与故障之间的依赖关系,结合系统故障的先验概率、可用测试的成本以及不同模式的转换费用,构造了该问题的数学描述模型。基于已有的搜索算法提出了一种准多步前向搜索算法,该算法以信息增益为启发策略,可自动获取平均测试费用最少、且能快速实现系统故障检测与隔离的优化测试顺序。最后实例验证了该算法的正确性,证明该算法可解决实际问题。     

基于Bayes变动统计理论的测试性综合评估模型及其稳健性分析

在测试性综合评估研究中,故障检测率(Fault detection rate,FDR)/故障隔离率(Fault isolation rate,FIR)评估结论置信度低是一个非常重要的问题,而导致其评估结论置信度低的主要原因是故障检测/隔离数据为"小子样"数据,为解决该问题,建立在Bayes变动统计理论基础上的模型和方法是非常有效的。利用丰富的可更换单元测试性信息、专家经验等先验信息,确定先验分布参数,实现了将先验信息转化为多元Dirichlet先验分布。在此基础上,基于Bayes变动统计理论研究并建立FDR/FIR综合评估模型,保证"小子样、异总体"阶段性增长试验数据和"小子样"外场使用数据能被有效地融合,并采用仿真方法对模型的稳健性进行分析。结果表明该FDR/FIR综合评估模型和方法,能在小样本数据情况下,有效提高评估结论置信度,缩短装备定型周期,为装备测试性综合评估研究提供重要的理论依据和方法。     

表面安装PCB设计工艺

表面安装技术在电子产品组装生产过程中正得到广泛应用。而印制板的合理设计是SMT技术中的关键,也是SMT工艺质量的保证,本文就表面安装PCB设计时需考虑的一些制造工艺性问题进行了阐述,给SMT设计人员提供一个参考。     

雷达装备测试性设计优化技术

针对雷达装备测试性优化设计的实际技术需求,对雷达测试性优化设计过程进行了分析。以雷达装备各阶段数据为基础,综合考虑测试效能、测试代价、可靠性约束等要素,研究了基于测试代价和测试效能的测试性优化方法,并给出了基于最小测试代价的雷达系统测试性优化模型。针对模型多目标优化求解问题,给出了一种基于改进的粒子群优化算法。该算法引入混沌理论,使初始种群呈现多样性,避免了传统粒子群算法的早熟现象,同时提高了搜索的精度和速度。通过对案例的仿真与验证表明,利用这种改进的粒子群算法对基于最小测试代价的测试性优化模型进行求解时,能够在满足模型目标函数的约束条件下,获得全局最优解。     

An Implementation for Test-Time Reduction in VLIW Transport-Triggered Architectures

In this paper the implementation of the test strategy in a so-called Very Long Instruction Word Transport Triggered Architecture (VLIW-TTA) is discussed. The complete test strategy is derived referring to the results of test synthesis, carried out in the early phase of the design. It takes the area/throughput parameters into account. The test strategy, exploiting the regularity and modularity of the VLIW-TTA structure, remains general for an arbitrary application and instantiation of the TTA processor and is based on the partial scan approach along with the functional test. The test-time analysis, in order to justify our approach and show the superiority over the classical full-scan, has been performed. The results of our strategy are shown in a few examples at the end of the paper.     

多输出电路跳变次数(TC)测试算法

本文提出了一种多输出电路的改进TC测试法。该方法根据多输出电路的输入输出的函数关系把电路按输出分解，然后按照各个输出的相关输入，分别测试输出的响应，从而可以实现对多输出电路的测试，进而说明这种检测的完备性，进一步提出了一种加速测试的方法。     

用于DFT的产品建模方法研究

可检测性是衡量并确保产品功能质量的重要特征参量。运用DFA/M的思想,研究了面向检测的设计（DFT）方法:首先探讨了一般机电产品可检测性的概念,进而提出了广义特征的概念,从而建立有利于产品可检测性评价的产品广义特征模型:并采用基于规则和基于框架的两种知识表示方法分别对可检测性准则、检测工具资源信息进行表达和描述,由此建立支持DFT专家系统的知识库。基于上述思想,在Pro/E平台上开发了DFT专家系统原型,并在产品实例中进行了验证。     

基于改进多信号流模型的运载火箭电气系统测试性评估

对现有测试性建模方法在运载火箭电气系统测试性评估的应用上存在的不足进行分析。针对运载火箭电气系统不同的测试状态,提出基于多信号流模型的多模型综合测试性评估方法;并结合运载火箭电气系统的实际故障模式及测试特点,考虑多故障模式及多值测试,对多信号流模型进行改进,得到基于改进多信号流模型的多模型综合评估方法,并给出了具体的评估流程。以运载火箭时序控制系统为例进行了验证,结果表明,基于改进多信号流模型的多模型综合评估方法能够更为准确地对运载火箭电气系统故障空间及测试状态进行建模,对运载火箭电气系统的测试性评估有效。     

利用研制阶段试验数据制定测试性验证试验方案新方法

现有的测试性验证试验方案,在一定的风险承受能力下都需要较大的故障样本量。针对这一问题,以故障检测率(Fault detection rate,FDR)为验证指标,提出利用研制阶段试验数据制定测试性验证试验方案的新方法。在传统的FDR的统计检验模型基础上,提出产品研制阶段的成败型试验数据的等效折合方法;考虑Beta分布函数的概率特性,将FDR的置信下限估计转化为Beta分布的置信度分位点,求得FDR的置信概率密度函数;引入差异因子 ,用来反映研制阶段产品的FDR水平和产品验证需达到的FDR水平的差异,求得产品验证需达到的FDR的置信概率密度函数;参考风险的定义,重新确定了测试性验证试验方案。由于充分考虑了研制阶段的试验信息,因此在保证有较好的验证效果的条件下,与传统的验证方案相比,可以明显减少故障样本量,或在故障样本量保持不变的情况下降低双方风险。     

系统芯片IP核透明路径构建中的可测性分析

系统芯片的设计方法为测试技术带来新挑战。知识产权模块（IP核）测试访问机制成为测试复用的关键。构建IP核透明路径会对电路的故障覆盖率产生影响。基于门级透明路径的构建方法,通过分析插入电路的控制门和多路器的激活和传播条件,对路径构建对于IP核单固定型故障覆盖率的影响进行分析,给出可测性条件和故障覆盖率的计算公式,无需故障仿真即可估计构造透明路径后电路的故障覆盖率。通过故障仿真实验,证明该故障覆盖率的分析和计算方法是有效的。