存储器内建自测试技术在芯片设计中的应用

针对SoC芯片中存储器模块的测试问题,在结合设计工具的基础上,提出了存储器的测试结构和方法,并且讨论了存储器模型的应用与调试.     

FPGA的测试

随着ＦＰＧＡ的发展,测试ＦＰＧＡ的技术也得到了相应的发展,出现了不少有关ＦＰＧＡ的测试方面的文献,有些讨论逻辑资源的测试,也有一些讨论连续资源测试。     

基于软件内建自测试模板内容的研究*

受到硬件测试中BIST(内建自测试)技术和可测试性设计的启发,在国家自然科学基金项目“软件内建自测试”中提出了软件内建自测试的思想。给出了模板的程序流程中有效语句的定义、流程的存储格式以及独立路径的计算,此外还对程序变量跟踪链表进行了研究。     

Neural network-based analog fault diagnosis using testability analysis

A fault diagnosis procedure for analog linear circuits is presented. It uses an off-line trained neural network as a classifier. The innovative aspect of the proposed approach is the way the information provided by testability and ambiguity group determination is exploited when choosing the neural network architecture. The effectiveness of the proposed approach is shown by comparing with similar work that has already appeared in the literature.     

BiCMOS电路可测性设计探讨

本文提出了ＢｉＣＭＯＳ电路的实用可测性设计方案，该方法与传统方法相比，可测性高，硬件花费小，仅需额外添加一个ＭＯＳ管和两个控制端，就可有效地用单个测试码测出ＢｉＣＭＯＳ电路的开路故障和短路故障，减少了测试生成时间，可广泛应用于集成电路设计中。     

K故障诊断可测性的公树条件

模拟电路K故障诊断有两种方法：超定偏差方程相窖性判断法和双线性求值判断法。本文从拓朴上论述了使用这两种方法时电路的全局可测性和局部可测性。提出了简明的称为公树条件的评判方法。公树条件易于用来从可测性角度对两种诊断方法进行比较。在电路可测性设计时也方便使用。最后以一个例子说明双线性求值判断法的可测性要好得多。     

复杂电子装备智能测试性设计技术

电子装备测试性设计技术的分析,从CAD的发展入手.依照"并行工程"的思想,建立装备测试性智能设计系统层次结构和模型.测试性智能设计的关键技术,包括知识表示方法、知识获取途径和知识应用三方面.     

UPS供配电系统的可信性与可测试性

介绍UPS及其供配电系统的几种结构形式,并对UPS供配电系统可信性及可测试性进行分析,提出提高UPS及其供配电系统可信性及可测试性的方法。     

组合数字集成电路测试生成技术研究

介绍了数字集成电路测试的基本概念,包括测试的分类,以及可控性、可观性、可测性、故障、失效和缺陷等概念;概述了测试的基本过程及测试生成概念和原理;着重阐述了组合数字集成电路的各种测试生成算法,包括异或法、步尔差分法、路径敏化法、D算法、PODEM算法和FAN算法等,这些算法是测试图形生成的基本方法,在具体应用中可灵活选用。     

具有错误修复的非齐次马尔可夫模型

软件可靠性工程是对软件的质量进行管理和控制的实用性学科,而软件可靠性模型又是软件可靠性工程的基础之一,为了保证靠性模型的估测精度,好的软件可靠性模型应该包括对测试覆盖的说明,并且能够反映的错误修复过程。本文在基于测试覆盖的ＮＨＰＰ模型的基础上,讨论了一有反映软件错误修复过程的非齐次马尔可夫模型。