基于SCANWORKS的模数混合电路板测试程序集设计

针对某型指控系统中的模数转换电路板上含有复杂可编程逻辑器件CPLD以及多路模数转换单元的测试与诊断问题;运用边界扫描测试技术及PXI仪器总线技术研制了该指控系统的板件测试设备,介绍了边界扫描测试软件SCANWORKS,详细说明了利用SCANWORKS软件开发该指控系统模数转换电路板的测试程序集(TPS)的测试方案设计、测试过程和测试结果分析等内容;使用设计的测试程序集对该种模数转换板进行测试和诊断,故障覆盖率达到97.1%;该测试与诊断方法的研究同样适用于其他复杂板件的维修测试与诊断,具有非常重要的实用价值。     

一种基于核设计的SOC测试控制体系结构

随着集成电路复杂性的提高和SOC系统的出现,电路测试的难度也在不断增大,测试问题已经成为SOC设汁的瓶颈。在研究了现存的测试控制结构后提出了基于核设计的SOC测试控制结构,它以边界扫描控制体系为基础,融合多种测试控制方法,支持不同类型的IP核进行测试。从而解决了SOC测试中控制部分的一些问题。     

数据采集器的可测性设计与评估

针对数模混合系统的快速诊断维修问题,以数据采集器作为对象,研究典型数模混合系统的可测性设计及评估;文章首先介绍了两种先进的可测性设计技术:边界扫描技术和内建自测试技术;以某数据采集系统为对象,阐述其关键性能指标,并依据"分块设计"的方法分析了系统各个测试模块的故障类型和采用的可测试性设计方案;最后,利用TEAMS软件建立了数据采集系统的基于多信号流的模型,经计算及仿真对比了可测性设计前后的测试性设计指标;仿真结果表明,增加可测性设计,可以提高电子系统的故障检测率和隔离率,但要增加测试代价,并在一定程度上降低系统的可靠性。     

RISC CPU的边界扫描电路设计与实现

随着集成电路设计规模不断地扩大、复杂性不断地提高,芯核的可测性已成为设计中不可忽视的环节。边界扫描测试技术作为其中一种方法已被广泛地接受和使用。它能够有效地缩短测试施加时间,提高故障诊断率。本文讨论了边界扫描电路的基本结构和测试思想,设计并实现了RISC CPU中的边界扫描电路,电路结构采用Verilog HDL描述,最后使用Modelsim进行仿真并给出仿真结果。     

基于边界扫描技术的板级测试分析

随着支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用,传统的电路板测试方法如使用万用表、示波器"探针",已不能满足板级测试的需求,相反一种基于板级测试的边界扫描技术得到了迅速发展。对边界扫描测试技术的原理进行了剖析,根据边界扫描测试系统的使用规则对板级测试方法进行了分析、提出了整体测试流程,最后在通用测试的基础上进行了二次开发,提出了提高电路板测试覆盖率的方法。     

基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析

为满足当今电路测试和故障诊断的需求,可测性设计(DFT)已成为芯片和系统设计中不可或缺的重要组成部分。IEEE1149.1作为一种标准化的可测性设计方法,弥补了传统测试的缺陷,为复杂的电路互连提供了测试手段。现在大部分的复杂芯片都支持IEEE1149.1标准,怎样利用其来达到更好的测试效果和故障覆盖率是硬件设计人员必须考虑的问题。本文从边界扫描原理入手,通过对一目标板上互连结构的测试,从可测性设计的角度探讨了如何使边界扫描技术得到更有效的贯彻和应用。     

Design-For-Test in a Multiple Substrate Multichip Module

This paper highlights the development and effectiveness of a multichip module (MCM) Design-For-Testability methodology for an application intended for use in a fully electronic active matrix LCD flight instrument. MCM test issues discussed include Design-For-Testability, substratetest, Known-Good Die (KGD) and module level test.The design incorporates IEEE 1149.1 and Built-In-Self-Test features. Bare die pretest is accomplished with a Ball Grid Array (BGA) chip carrierapproach.The hardware consists of a mature digital design comprised of application specific and industry standard integrated circuits.     

边界扫描技术在含DSP电路板测试与诊断的研究与应用

针对含DSP电路板的测试与诊断问题,本文提出一种利用边界扫描技术和传统的外部输入矢量测试相结合的方法,对含DSP电路板中的边界扫描器件的器件及非边界扫描器件进行了测试.测试结果表明:该测试方法对边界扫描器件及非边界扫描器件可进行有效的故障检测和故障隔离,并可将故障隔离至最小的测试单元.同时详细阐述了测试诊断方案、硬件设...     

基于边界扫描的板级测试向量自动生成

针对现有测试向量存在的不足,提出一种可施加到电路板扫描链上的测试向量自动生成方法,该方法利用被测电路的网络表文件和边界扫描描述语言文件,获取器件互连关系、边界扫描信息及扫描链路结构,结合测试算法生成板级测试向量,根据扫描链数目及连接关系将其扩展并生成可施加到扫描链上的链路级测试向量。实验结果表明,该方法能检测被测电路中多条扫描链的固定0、固定1、短路和开路故障,为测试系统提供了实用高效的测试向量。     

一种较优的W-A抗误判互连诊断算法

针对电路板线与(W-A)互连故障诊断问题,提出了一种较优的W-A抗误判互连诊断算法.该算法借鉴线或(W-O)互连诊断算法的研究经验,从数学的角度进行严格的分析证明,得到了一种与较优W-()抗误判互连诊断算法对等的适于W-A故障的互连诊断算法;另外,在保证W-A互连故障诊断能力不变的前提下,较目前较优的等权值互连诊断算法缩短了测试时间.论文给出了算法的详细描述、算法抗误判验证,最后将该算法与两个相近算法进行了性能比较,证明了该算法的有效性.