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31.
CHEN YingMei WANG ZhiGong & ZHANG Li Institute of RF- & OE-ICs Southeast University Nanjing China 《中国科学:信息科学(英文版)》2011,(6):1293-1299
A high-scale integrated optical receiver including a preamplifier, a limiting amplifier, a clock and data recovery (CDR) block, and a 1:4 demultiplexer (DEMUX) has been realized in a 0.25 μm CMOS technology. Using the loop parameter optimization method and the low-jitter circuit design technique, the rms and peak-to-peak jitter of the recovered 625 MHz clock are 9.4 and 46.3 ps, respectively, which meet the jitter specifications stipulated in ITU-T recommendation G.958. In response to 2.5 Gb/s PRBS input da... 相似文献
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根据不同任务的需求,测试系统已经更多的开始关注系统之间的数据共享。IEEE提出了一种把与同步相关的时间信息封装在数据报文中的技术,使组网连接简化,从而有效地解决了测试系统实时性问题。讨论了IEEEl588精密时间同步协议的工作原理和它与传统测试系统同步方式的不同,以及在测试系统网络化的前提下,采用这一同步协议解决网络化测试系统时间不确定性的问题。 相似文献
33.
实时时钟在工业系统中具有良好的应用前景.本系统以微控制器LPC2131为核心控制器,控制内部实时时钟,实现对秒、分、小时等各个时间寄存器的准确操作,通过串口将采集到的数据发送到上位机.本文详细给出硬件设计总体框图、设计原理和软件实现的方法,得出了实验结果.这种实时时钟的控制方法,很容易应用到现代工业以及各种智能化应用系... 相似文献
34.
IEEE 1588精密时钟同步协议2.0版本浅析 总被引:3,自引:0,他引:3
在分布式测控系统中,各分布式设备、独立的智能传感器、作动器与系统之间的时钟同步是系统测控数据有效性的关键。IEEE 1588精密时钟同步协议有效地解决了分布式测控系统时间同步问题,也是新测试系统总线标准LXI的核心技术之一。首先介绍了IEEE 1588时钟同步的基本原理,之后主要针对最新发布的IEEE 1588 2.0版本所采用的新技术、新方法进行了分析,为进一步研究打下基础。 相似文献
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36.
突发模式误码测试仪与一般连续误码测试仪不同,其接收端在误码比对前要实现在十几位内,对具有相位跳变特点的信号进行时钟提取和数据恢复,并且在误码比对时须滤除前导码和定界符,仅对有效数据进行误码统计。本文提出一种基于FPGA实现的高速突发模式误码测试仪设计方案,并介绍该方案的总体设计过程,以及FPGA中主要功能逻辑模块的工作原理和控制系统的设计。该测试仪应用于1.25GHz GPON系统突发式光接收模块的误码测试中,具有较好的性能和实际意义。 相似文献
37.
针对多数无线传感器网络时钟同步方案存在的仅纠正时钟偏移问题,提出一种新的解决方案,整合时钟偏移同步和时钟速率同步,通过3个连续的消息传输实现单跳同步,采用分层的生成树实现多跳同步。仿真实验结果表明,与现有的同步方案比较,该方案的同步错误更小,能够获得更长的再同步周期。 相似文献
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39.
This paper proposes an integrated shift register circuit for an in‐cell touch panel that is robust over clock noises. It is composed of 10 thin film transistors and 1 capacitor, and the time division driving method is adopted to prevent the negative effect of display signals on the touch sensing. Two pre‐charging nodes are employed for reducing the uniformity degradation of gate pulses over time. In particular, the proposed circuit connects a drain of the first pre‐charging node's pull‐up thin film transistor (TFT) to the positive supply voltage instead of clock signals. This facilitates to lower coupling noises as well as to clock power consumption. The simulation program with an integrated circuit emphasis is conducted for the proposed circuit with low temperature poly‐silicon TFTs. The positive threshold voltage that shifts up to 12 V at the first pre‐charging pull‐up TFT can be compensated for without the uniformity degradation of gate pulses. For a 60‐Hz full‐HD display with a 120‐Hz reporting rate of touches, the clock power consumption of the proposed gate driver circuit is estimated as 7.13 mW with 160 stages of shift registers. In addition, the noise level at the first pre‐charging node is lowered to ?28.95 dB compared with 2.37 dB of the previous circuit. 相似文献
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