基于STM32的真空玻璃传热参数测试装置的研制

真空玻璃传热参数测试装置是一种专门测量真空玻璃传热参数的仪器设备。真空玻璃传热参数表征真空玻璃隔热保温、隔音降噪、防结霜结露等特性。以国标JC/T1079-2008为依据,并根据真空玻璃传热参数测试装置的组成结构,分别对其内部模块、电路控制系统、检测系统平台进行了研究、设计及制作;对真空玻璃在恒温条件下进行多次测试并研究分析了影响真空玻璃传热参数的一系列因素,测试出相应待测真空玻璃样品的传热参数。     

水泥水化动力学模型

水泥的水化是一个复杂的变化过程,很难建立起一套直接用于描述水泥水化完整过程的动力学模型.依据水泥水化过程特点及化学反应动力学原理,明确了成核与产物生长、界面化学反应及扩散控制反应三种基本动力学方式对水泥水化的控制作用过程及转换条件,建立了水泥水化动力学模型.该模型能够直接依据水泥水化程度随时间的变化曲线确定水泥颗粒的水化速度,或在已知有关颗粒水化速度的基础上测算水泥在不同时间的水化程度.与其它模型相比,所建模型更加直观和准确.应用结果表明,提出的理论及方法具有良好的适用性和准确性.     

整形器对入射波形的影响规律研究

为分析整形器对入射波形的影响规律,以紫铜T2材料为研究对象,在14.5 mmSHPB试验设备上开展整形器的直径和厚度、撞击杆速度和长度改变对入射波形状影响规律研究。结果表明:直径增大,整形器的广义强度增大,导致第1个拐点T1提高;厚度增加,整形器受冲击压缩应变率降低、压缩时间增加,拐点T1降低,拐点T2右移;撞击杆速度提高使第1个拐点T1提高,拐点T2位置左移;撞击杆长度对整形器调整入射波形状不产生影响,整形器吸收能量相同。     

任意面形介质光栅的衍射特性分析

采用严格耦合波理论(RCWA)和多层近似法,详细的推导了任意面形介质光栅的衍射问题,得出了其矩阵求解方程,并采用增强透射矩阵法来避免直接求解带来的数值不稳定,提高了计算效率.使用该方法对梯形光栅进行了数值计算,结果表明采用严格耦合波理论和多层近似法,可以方便、有效地求解任意面形介质光栅的衍射效率问题,计算中光栅在不同参数下衍射效率的总和严格等于1,且未有数值不稳定性问题.     

低介电常数、低CTE、高Tg PCB基材的制法

通过实例介绍了低介电常数、低CTE、高Tg印制电路板基材的制法。     

典型场景下电波传播特性建模

为了解决某些典型场景(如海上、山区、丘陵、城区)下无法使用已有基础模型来全面表达电波传播特性的问题,建立了一种在典型场景下,基于确定性抛物方程、适用于多个传输场景的统一电波传播模型。把典型场景等效为损耗介质层来求解边界条件,利用Fourier分步步进法得到相应解,然后得到电波在典型场景下的传播损耗,并进行了理论分析和实验验证。结果表明,在不同传输场景下,将统一电波传播模型与Miller-Brown模型、射线追踪模型进行比较,结果较吻合,验证了其正确性。这一结果对建立一种求解典型场景下电波传播衰落问题的统一电波传播模型是有帮助的。     

表面等离子共振Ag-SnO2复合膜光学传感器

为了研究CuO的不同掺杂浓度对表面等离子共振角的影响,提出一种新型的棱镜耦合法Ag-SnO2(掺杂CuO)复合膜表面等离子共振光学传感器结构.采用射频反应溅射法在清洗处理后的金红石棱镜上依次制备Ag膜(50nm),SnO2膜(50nm),CuO和SnO2膜(50nm)4层膜结构,CuO的厚度依其不同的掺杂体积分数的不同而不同,经过退火实现SnO2薄膜的掺杂得到复合膜.以He-Ne激光62.8nm为入射激励光源,通过采用表面等离子共振实验方法,CuO的掺杂体积分数分别为0,0.01和0.05时,得到共振角分别为59.61°,60.52°和61.3°的结果.结果表明,CuO掺杂的体积分数越大,表面等离子共振的共振角越大.     

EM propagation and backscattering discrete model for medium of sparsely distributed lossy random particles

Electromagnetic wave propagation and backscattering from a random medium are studied. The random medium is modeled by discrete lossy dielectric scatterers, for which the dyadic scattering amplitudes and orientation statistics are known. A method is developed to compute the propagation and backscattering coefficients. The technique is valid for scatterers having characteristic dimensions comparable to a wavelength. The procedure is valid when the albedo of individual scatterers is small, that is, when the scatterers are highly absorbing. Numerical calculations for the propagation and backscattering coefficients are presented, and compared with the literature.     

浅谈特性阻抗板之工程设计与制程控制要点

本文简单地分析了影响PCB特性阻抗的主要因素及特性阻抗板在工程设计与生产制程中的应用和控制要点。     

超大规模集成电路中低介电常数薄膜的制备与检测技术

近年来,低介电常数材料在IC工业中日益受到人们广泛关注,为了降低信号传输延迟和串扰以及由于介电损失而导致的功耗增加,采用低介电常数材料做层间介质是必要的。本文介绍了有关低介电常数材料薄膜的制备方法和基本特性的检测技术。