平面阵列波导光栅波导模式参量的分析

用周期波导的方法分析平面阵列波导光栅(AWG)的本征方程及波导模式参数,结果表明波导传播常数是带状分布的,与波导间隔有关。分析结果对器件的优化设计有一定的指导意义。     

常压炉炉管及转油线的腐蚀

通过对常压炉炉管及转油线腐蚀情况的分析,认为该炉发生转油线腐蚀泄漏的主要原因是原油含硫量升高、冲刷加剧、材质不适合以及设备老化等。针对腐蚀的成因采取了对整个转油线进行包盒子处理、材质升级、摸清活性硫在装置中的分布情况和腐蚀规律、开展高温部位定点测厚、避免高含硫原油直接进入装置等措施。     

中国大陆PCB产业自动化的现况与未来

从中国大陆PCB发展的现况分析实行设备自动化连线为企业所创造的价值。设备自动化连线是中国大陆PCB必须面临的改革出路。     

差分跳频通信系统的特点及性能

文章介绍了一种新型的短波跳频通信技术——差分跳频,分析了差分跳频技术区别于常规跳频技术的主要特点。针对按序列检测的信号接收方法,对差分跳频通信系统在AWGN信道下的性能进行了理论分析,同时做出相应的计算机仿真,证实了差分跳频通信技术和按序列检测方法的结合,使通信系统在AWGN信道下的性能得到了比较显著的提升。     

试油井选层压裂新工艺及现场试验

设计新型可洗井封隔器，保障油井有反洗井通道，有效防止封隔器以上砂埋所引发的管柱砂卡事故，并对新型封隔器、控制开关、密封接头、同心大通径压力计托筒等井下工具组合优化。解决了多层油井任意选层压裂、求产、测井温一体化的难题。     

光纤光栅感温火灾探测报警系统在原油罐区的应用

通过对现有罐区火灾自动报警技术的认真考察、对比,在石西集中处理站原油罐区安装了光纤光栅感温火灾探测报警系统.该报警系统的传感信号是光的波长变化,传感器及其探测系统是靠光缆连接而进入被测现场,它具有高安全性、高可靠性、高绝缘性、高抗电磁干扰性、防潮耐蚀、寿命长等其他传统火灾探测报警系统无法比拟的优越性能.阐述了其系统构成和运行效果.该系统在石西集中处理站运用效果良好.     

集输系统热回水管线腐蚀分析

中国石油天然气股份有限公司华北分公司第三采油厂油气集输系统热回水管线普遍存在着腐蚀问题,影响原油生产和集输的正常运行。介绍了腐蚀较严重的13个站点的水质普查、水质结垢倾向和腐蚀性情况,并在水质分析的基础上进行了热水管线腐蚀因素的试验研究,确定腐蚀主要因素为水中的溶解氧含量高,从而造成腐蚀。     

正确区别教师的职业道德与违法行为

从师德和法律这两个不同的概念入手,剖析现实教学中存在的种种负面行为,这些行为中有违反 道德和违反法律之分.在加强师德教育的同时,应该加强法治教育,应该知道遵守法律是每个公民应尽的义 务,你首先是个好公民,你才可能是个好教师.从这个意义上说,加强师德教育,守法是基础.     

选择测试阀在现场测试中的应用

选择测试阀是新一代全通径压控式测试器，在结构和性能上有了本质的创新，使现场操作更加简便、安全，对井筒条件要求低，更适用于高温、高压、深井、气井的地层测试，拓宽了地层测试和其它井下作业的兼容性。经7井次应用，其安全性、可靠性越来越得到认可。     

Characterisation of interfaces in nanocrystalline palladium

Structures of grain boundaries and triple line junctions in nanocrystalline materials are of interest owing to large fractions of atoms in nanocrystalline materials being at these interfacial positions. Grain boundary and triple line junction structures in nanocrystalline palladium have been studied using high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM). The main micro structural features observed include the varying atomic structures of grain boundaries and the presence of disordered regions at triple line junctions. Also, there is variation in lattice parameters in different nanocrystalline grains. Geometric phase analysis is used to quantify atomic displacements within nanocrystalline grains. Displacement fields thus detected indicate links to the interface structures.