面向虚拟试验的可视化应用生成工具研究与实现

虚拟试验能够很好地辅助实物试验,缩短型号研制周期,降低研制费用;虚拟试验应用工程是开展虚拟试验的基础,基于GEF图形编辑器,研究并实现了一种面向虚拟试验可视化应用生成工具,具有可视化应用工程编辑、应用工程框架代码生成等功能;支持在可视化界面中定义VOM图元和APP图元之间的发布、订阅关系,最终生成应用工程框架,并通过应用实例验证了该可视化应用生成工具的实用性,较好地提高了虚拟试验应用工程的开发效率.     

载人航天器系统测试智能通用化数字接口设计

航天器系统接口种类和数量繁多,以往的测试系统需要针对卫星接口进行专门地面测试设备接口设计,工作量大,通用性差;为提高系统设计效率,文章提出了一种基于PXI总线技术的高性能通用数字接口模块设计方法,在给出模块结构的基础上,详细介绍了该模块的硬件主体及接口设计原理,并给出了软件设计策略及用户接口函数的定义;该模块具备多通道、大数据量同时收发的功能,已成功地应用于多个型号的测试系统;经过应用验证,该模块能够满足测试系统的使用需求.     

多站遥测数据快速融合软件设计与实现

在多站测控系统的飞行试验中,为了快速得到完整有效的测试结果,提高多站遥测数据的利用率,提出了一种利用同步码、帧计数、时码、遥测T0和子帧计数等信息对多站数据进行快速融合的方法,并在VC环境下开发了多站遥测数据快速融合软件;通过在实际飞行试验中的应用,该软件能够快速完成多个遥测站的遥测数据融合,融合后的数据包含了各原始数据文件中的全部有效数据帧;实践表明该数据融合方法和软件的融合效果好、速度快,具有很强的实用价值.     

试验训练使能体系结构(TENA)的进展与应用情况

未来的作战与训练概念高度依赖于以网络为中心的作战能力,美国国防部认为迫切需要在试验与训练领域建立一种能克服当前“烟囱式”设计、实现靶场资源之间互操作、重用和可组合的新技术。美军借鉴了多种体系结构的研究和应用成果,构建了试验训练使能体系结构(TENA)。本文对TENA的进展、在美军靶场中的最新应用情况及未来发展方向进行阐述,并描述了针对我国靶场资源现状所带来的启示。该体系结构将为未来开发精细强大的试验和训练系统提供必要的支撑。     

C波段无线网络通信技术及在飞行试验遥测中应用构想

在分析国内外C波段无线网络通信研究进展基础上,结合现行飞行试验遥测中遇到的技术瓶颈,提出了将C波段无线网络通信技术应用于飞行试验遥测中的构想,建立基于C波段的无线网络的空地一体化遥测网络体系。C波段空地网络化遥测链路的建立,扩展遥测数据传输可用频段的同时增加上行通道,建立机载网络系统与地面监控网络的网络通信链路,为未来空天地一体化遥测网络的建立建立技术基础;同时利用通用的网络管理流程,对整个测试资源动态配比,提高试飞效率。     

一种飞行试验FC航电系统的采集网络时延测试方法

针对飞行试验FC总线测试的特点,文章提出了一种飞行试验FC航电系统的采集网络时延测试方法,在不影响原航电系统信息传输结构与特性的前提下,测试到通信消息从航电子系统端口发出的精准时刻,解决了航电FC采集网络时延测试难题;通过对某试验机的FC采集网络时间延迟测试,提高了飞行试验某航电子系统的试验计算精度,证明了该方法在工程中的有效性。     

应用虚拟仪器技术的超高频 RFID 读写器设计*

射频识别技术在资产管理领域中逐渐受到青睐,针对现有识别技术开发周期长、测试速度慢的弊端,论文提出采用虚拟仪器和数字信号处理技术,结合自定义超高频协议,研究了一种新的读写器系统。该系统用软件代替硬件实现超高频射频识别,能对超高频RFID标签自动测试,能够实现电子标签从物理层到应用层的一致性测试,能对多种宏观参数测量和分析。实验结果表明,该系统在单标签及多标签的情况下能克服单一标准的限制,很好地模拟读写器调制、解调、编码、解码、循环冗余校验、逻辑控制等基本功能,具有成本低、集成度高和扩展性好等优势。     

一种基于电流积分法的ADC典型静态参数测试方法研究

高位ADC的测试中,对输入信号的质量要求较高,一般的混合信号测试系统难以达到要求。论文提出了一种基于电流积分法的高位ADC典型静态参数测试方法,充分利用了聚丙烯电容在积分线性度方面的优势,搭建了合理的测试电路,并在ATE上完成了对某款14bit ADC的典型静态参数测试,实验表明,该方法设计简便,通用性强,而且测试效果良好,具有较强的实用性。     

开关电源加速贮存寿命方法研究

开关电源具有体积小、重量轻、效率高等诸多优点,凭借其自身的诸多优势,开关电源已经广泛应用于航空航天、通信、以及电子类。由于应用领域的广泛性,开关电源的可靠性引起了人们的重视。论文以阿伦尼斯(Arrhenius)模型为基础,设计了一整套针对开关电源的可靠性评价和寿命预计的试验方案。该方案对试验器件施加温度应力,加速器件的失效过程,并通过一定的加速模型和统计分析方法,外推出正常工作条件下产品的寿命特征。     

集成电路测试系统总定时精度自动校准程序设计

在高速集成电路测试应用中,当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时,其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns的偏差都将导致整个测试时序严重偏离,使测试结果失去意义。系统总定时精度(OTA)就是反映测试系统提供的信号驱动或比较沿是否在预期的时间范围内,各信号之间的相对时间是否准确的关键时间参量,必须进行校准保证其溯源性。论文以V93000集成电路测试系统为例,介绍了集成电路测试系统总定时精度自动校准程序的设计方法。