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51.
基于c-Si(P)衬底的a-Si/c-Si异质结模拟研究 总被引:1,自引:0,他引:1
本文中研究了影响 a-Si/c-Si 异质结界面复合的主要因素: 表面固定电荷 ,缺陷态载流子俘获界面: ,以及界面缺陷态密度 。当缺陷能级 接近c-Si本征能级,且 满足时,缺陷态复合中心复合速度达到最大。AFORS-HET 软件模拟显示, a-Si/c-Si界面能带不连续显著影响电池Voc、界面缺陷态密度大于1*1010 cm-2.eV-1时,界面态密度的增加会严重降低电池Voc,但其对电池电流密度影响不大。对于c-Si (P)/a-Si (P ) 结构异质结,C-Si衬底的势垒 和a-Si材料内的势垒 对降低c-Si (P)/a-Si (P ) 结构的接触电阻和界面复合速度,表现各不相同。 相似文献
52.
Han Zhang Bing Zhang Yiwen Zhang Zeng Xu Haozhong Wu Ping‐An Yin Zhiming Wang Zujin Zhao Dongge Ma Ben Zhong Tang 《Advanced functional materials》2020,30(35)
Actualizing full singlet exciton yield via a reverse intersystem crossing from the high‐lying triplet state to singlet state, namely, “hot exciton” mechanism, holds great potential for high‐performance fluorescent organic light‐emitting diodes (OLEDs). However, incorporating comprehensive insights into the mechanism and effective molecular design strategies still remains challenging. Herein, three blue emitters (CNNPI, 2TriPE‐CNNPI, and 2CzPh‐CNNPI) with a distinct local excited (LE) state and charge‐transfer (CT) state distributions in excited states are designed and synthesized. They show prominent hybridized local and charge‐transfer (HLCT) states and aggregation‐induced emission enhancement properties. The “hot exciton” mechanism based on these emitters reveals that a balanced LE/CT distribution can simultaneously boost photoluminescence efficiency and exciton utilization. In particular, a nearly 100% exciton utilization is achieved in the electroluminescence (EL) process of 2CzPh‐CNNPI. Moreover, employing 2CzPh‐CNNPI as the emitter, emissive dopant, and sensitizing host, respectively, the EL performances of the corresponding nondoped pure‐blue, doped deep‐blue, and HLCT‐sensitized fluorescent OLEDs are among the most efficient OLEDs with a “hot exciton” mechanism to date. These results could shed light on the design principles for “hot exciton” materials and inspire the development of next‐generation high‐performance OLEDs. 相似文献
53.
文章基于第一性原理研究了碱金属掺杂的SnO2的能带结构以及态密度.研究结果表明:掺杂能够使能级增多,很好地调节带隙值.Li,Na,K,Rb掺杂的SnO2材料,价带顶有能级穿过费米线,材料呈现出半导体特性.其中Rb掺杂使材料在费米面附近产生杂质能级.而Cs,Fr掺杂的SnO2材料,价带顶向低能级方向移动,费米能级不再穿过价带,费米线附近出现轨道杂化,两者相比Fr掺杂使费米面附近能级分布更加离散.掺杂后SnO2的反射率变化主要体现在可见光以及紫外区域,吸收边发生了红移,对实现SnO2光催化起很大作用. 相似文献
54.
In this paper, a new method is introduced to obtain the energetic distribution of the interface states (density of states; DOS) extracted from the photo-conductance of organic thin film transistors (OTFTs) which exhibit varied transfer characteristics under illumination with different photon energies. The method was applied to pentacene OTFTs, and the results were compared with existing data. The major findings were not only the existence of the well-known peaks of DOS at 1.82 eV (free exciton of pentacene), and at 1.49 eV (extrinsic exciton due to dihydropentacene) but also new peaks were found at 1.25 eV, 1.29 eV, 1.31 eV, and 1.35 eV in the mid-gap. The new peaks were strongly enhanced under exposure to oxygen, and thus seem to be related to the defects associated with the presence of oxygen. 相似文献
55.
56.
运用afors-het软件对β-FeSi2(n)/a-Si(i)/c-Si(p)结构的太阳能电池进行模拟,依次讨论了本征层、发射层、界面态对电池性能的影响。结果表明:添加本征层电池性能提高,但随着本征层厚度的增加载流子收集率下降、串联电阻增大,造成电池光电转化效率下降;发射层厚度的增加使得载流子的收集率下降造成光电转化效率下降,同时发射层掺杂浓度增大虽然使得内建电场强度增大,但载流子的复合也会加大,最终使得电池性能保持稳定;界面态使得电池性能下降,为使电池获得较好性能,界面态密度应尽可能小于1011 cm–2·e V–1。通过优化,最终使得该结构的太阳能电池光电转化效率达到17.00%。 相似文献
57.
本文研究了光场初态为激发相干态或其叠加态时强度耦合Jaynes-Curnmings模型的动力学演化。对原子反转以及光场的反聚束效应进行了讨论. 相似文献
58.
Takayuki Sawada Yuji Yamagata Kazuaki Imai Kazuhiko Suzuki 《Journal of Electronic Materials》1996,25(2):245-251
Interface properties of MBE-grown ZnSe/GaAs substrate systems formed on variously pretreated GaAs surfaces, which include
standard chemically etched (5H2SO4:1H2O2: 1H2O), (NH4)2Sx-, NH4I-, and HF-pretreated surfaces, are investigated by capacitance-voltage (C-V) and deep level transient spectroscopy (DLTS)
measurements. A HF-pretreated and annealed ZnSe/p-GaAs sample showed marked reduction of interface state density, Nss, with Nss,min below 4 x 1011cm-2 eV-1 near Ec- EFS= 1.0 eV. The value is about one order of magnitude smaller than that of the standard chemically etched interface, and comparable
to (NH4)2Sx- pretreated interface. Nevertheless, C-V characteristics of ZnSe/nGaAs samples, which were measured for the first time, indicate
that interface Fermi level, EFS, is not completely unpinned due to the interface states located above the midgap. A consistent result was obtained by DLTS
method in determining EFS position. The influence of Nss distribution on vertical current conduction is also analyzed. It is found that U-shaped interface states with Nss(E) > 1 x 1013 cm-2 eV-1 above the midgap may cause an excess voltage drop larger than a few volts at the interface. 相似文献
59.
考虑原子与腔场在大失谐悟上的相互作用,本文研究了如何利用态选择测量技术来产生二项式叠加态和激发相干叠加态,这两种量子加态在一定极限或参数选择下都可变成客观可区分量子叠加态。 相似文献
60.