NIST:光学显微技术作为有效纳米测量手段

<正>最新实验结果证明:美国国家标准与技术研究院(NIST)几年前研发的技术可以使光学显微镜以纳米级的分辨力测量物体三维形状,远低于光学显微技术正常的分辨力极限(对于绿光大约是250nm)。该成果有望使这项技术成为纳米器件,例如,下一代微芯片制造的有用质量控制工具。NIST实验显示离焦扫描光学显微(TSOM)技术能够探测3-D形状细微差别,揭示直径小于50nm的物体中尺寸小于1nm的变化。2013年NIST的模拟研究显示:TSOM技术理论上可以达到这一点,目前新的测量结果使其在实际中得到证实。     

医用超声诊断仪检定中的问题和探讨

探讨检定医用超声诊断仪声强输出的测量方法,以及如何获得宽频探头的最佳深度和分辨力。     

提高高频雷达带宽的多载波技术研究

天波雷达工作在高频段,其工作带宽受电离层特性和人工信号干扰的限制,工程信号带宽一般只有十几千赫兹。利用多输入多输出(MIMO)原理,研究发射一组正交多载波调制的带宽为十几千赫兹的线性调频(LFM)信号照射目标,在接收端经匹配滤波和等效发射波束成形技术重建这一组回波信号成宽带信号,以增大雷达系统信号带宽。理论分析表明:在不考虑高频雷达多模多径情况下,发射N个频率间隔f_p=B的正交多载波调制LFM信号,在接收端采用匹配滤波和空时信号处理技术,将使接收信号带宽提高大约N倍。采用Watterson短波信道模型的仿真结果验证了理论分析的正确性。这表明在高频雷达多径环境不严重时,采用该方法可以提高雷达的距离分辨力。     

超高分辨力微型光谱仪的光学系统设计

由于光谱仪的尺寸限制,微型光谱仪在满足一定光谱范围时,其分辨力往往难以小于0.1 nm。而一些特殊应用场合要求光谱仪不仅具有微小的尺寸,还要求具有极高的光谱分辨力。本文基于Zemax光学设计软件,通过选择合适的初始结构参数与评价函数,自动优化准直镜、聚焦镜、柱透镜、光栅,以及CCD间倾角和距离,设计出光谱分辨力高达0.05 nm,尺寸为90 mm×130 mm×40 mm的Czerny-Turner结构微型光谱仪。在此基础上优化出8个光栅倾斜角度,使微型光谱仪光谱分辨力在优于0.05 nm的同时,波段范围达到了820 nm~980 nm。所设计的光谱仪具有超高的光谱分辨力、微小的外形尺寸与适中的光谱范围等特点。     

合成孔径雷达相干目标的分辨力评定

通常对合成孔径雷达图象分辨力的评定是以雷达系统参数来考虑的。实际上由于合成孔径雷达本身成象的特点,其图象分辨力也是同目标特性密切相关的。本文通过数学分析,将相干目标的分布模型与图象的可分辨条件结合在一起,提出了与目标特性相关的雷达图象分辨力评定标准可分辨概率,并针对不确定目标的特性提出了平均可分辨概率的概念。针对所提出的分辨力评定标准,本文给出了计算示例,从计算结果中可以看出,目标特性对于雷达图象的分辨力有很大的影响,在设计或者评定雷达图象分辨力时应当考虑到目标特性的影响。     

一种提高谱分析频率分辨力的算法

本文介绍了影响信号时域序列经ＦＦＴ运算后，频率分辨精度的原因，以及如何合理的选拔参数来保证一定的频率分辨力，提出了一种提高频率分辨力的算法，并通过运算得以倒流验证，给出了算法的Ｃ源程序。     

基于后小波处理的超分辨力图像复原算法

介绍了最大后验概率(MAP)复原超分辨力算法发展现状,然后着重介绍了基于Markov随机场的泊松最大后验概率复原算法(MPMAP)和小波滤波方法。以MPMAP算法为基础,提出了基于后端小波滤波处理和Markov分布的最大后验概率算法(PWMPMAP),试验证明这种算法具有很强的抑制噪声和振铃现象的能力,与MPMAP算法相比,复原效果明显提高,对红外热图像等低信噪比图像尤为有效,以30 dB的红外“建筑物”图像为例,相对MPMAP算法,峰值信噪比(PSNR)可以提高0.4 dB左右。     

一种利用多核解卷积提高雷达角分辨力的方法

解卷积方法可以提高雷达的角分辨力,但传统的解卷积算法对噪声很敏感,且有可能无解。给出了多核解卷积方法的最优滤波器,分析了多核解卷积的输出信噪比,指出其抗噪声性能要优于单核解卷积。最后将多核解卷积的方法运用到单脉冲雷达中。仿真结果表明,在输入信噪比为20dB的情况下,该方法还能够得到很好的结果。     

二摄像机式立体摄像系统几个参数的分析

本文分析二摄像机式立体摄像系统几个参数，这些参数是①深度分辨力，②立体摄像区域，③显示畸变量。并且分析了这些参数之间的相互关系。