基于MATLAB中SIMULINK的控制系统优化设计

用ＭＡＴＬＡＢ中ＳＩＭＵＬＩＮＫ的强大的仿真功能．配以单纯形法优化程序、时域性能计算程序，形成控制系统时域性能优化设计环境，方法实用、简单，有效提高控制系统的设计效率。     

PID算法在DCS中的应用

介绍了数字ＰＩＤ参数通用整定方法－－最优化法和工程整定方法，大部分是理论与实际相结合的经验总结，可供分散控制系统的调试人员和维护人员参考、借鉴。     

约简二阶段单纯形法

单纯形法是线性规划中最常用、最有效的算法之一。采用单纯形法解线性规划问题,要先求得一个初始基可行解,其常用方法有大M法和二阶段法等。通常,由于大M法的M值过大而导致较大的计算机舍人误差,故不宜上机。对于普通二阶段法,当约束条件为不等式时,要先加入松驰变量使之成为     

用透过率测试曲线确定半导体薄膜的光学常数和厚度

介绍了一种简单而准确地确定薄膜光学常数和厚度的方法.借助于Forouhi-Bloomer物理模型,用改进的单纯形法拟合分光光度计透过率测试曲线,获得半导体薄膜的光学常数和厚度.对射频磁控溅射和直流反应溅射制备的玻璃基板上的α-Si和ZnO薄膜进行了实验,拟合的理论曲线和实验曲线吻合得非常好.计算得到的结果与文献报道的结果和台阶仪的测量结果一致,误差小于4%.该方法对无定形或多晶的半导体薄膜都适用,也可以用于计算厚度较薄的薄膜.     

Si基Sr1.8Ca0.2NaNb5O15薄膜的合成及光学特性研究

利用溶胶-凝胶法,在Si(001)单晶衬底上逐层生长四方钨青铜结构的Sr1.8Ca0.2NaNb5O15(SCNN)薄膜。利用X射线衍射(XRD)仪、扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)等技术研究了薄膜的微结构,结果表明,SCNN薄膜在厚度较小的状态下可呈现出明显的(001)择优取向,而随着厚度的增加择优取向受到抑制,颗粒尺寸增大,薄膜的多晶态的趋势增强。然后通过测量薄膜在400~780nm光谱范围内的反射率曲线,采用Sellmeier色散公式分析折射率非均匀性的影响,通过改进的单纯形法计算拟合出SCNN薄膜的折射率和厚度,其中厚度的结果利用SEM加以验证,而折射率的变化则与薄膜结晶态的变化保持一致。     

国际数学规划领域的热点问题:线性规划内点法

论述20世纪80年代至今的国际数学规划领域的热点问题线性规划内点法的出现和它的理论体系、研究现状及其发展,同时也讨论了传统的单纯形法的最新进展以及内点法与单纯形法的对比测试,展现了该领域当前的研究现状与发展趋势.     

基于单纯形法的PID整定及其在气动压力伺服系统中的应用

利用无需计算梯度值的单纯形法进行PID控制器的参数整定,并且巧妙地利用MATLAB最优化工具箱加以实现,避免了复杂的编程计算。将其应用于气动压力伺服系统的控制器设计中,实验结果表明,利用该方法设计的PID控制器响应速度快,超调量小,精度高,完全可以满足气动压力伺服系统的控制要求。     

基于单纯形法正弦信号波形参数求解方法

提出基于单纯形法精确求解正弦波波形参数的方法,实验表明该方法能够准确、快速地获得波形参数,具有很强的实用性.