烃源岩热演化停滞时临界剥蚀厚度求取方法——以鄂尔多斯盆地为例

利用鄂尔多斯盆地烃源岩镜质体反射率Ro值、地层剥蚀厚度△H以及埋深H,建立了烃源岩Ro值与原始埋深H之间的关系式。选定初始Ro值以及降温后Ro值的增加值△Ro,根据烃源岩Ro值与原始埋深H之间的关系式,可以得到与之对应的最小剥蚀厚度△H,从而建立△Ro与△H关系图版。然后通过热模拟试验测得样品的初始Ro值．以及降温后Ro值的增加值△Ro,根据该关系图版就可以直接读出与之对应的最小临界剥蚀厚度△H。据此．初步指出了鄂尔多斯盆地石炭-二叠系煤在其遭受抬升剥蚀之后．能够持续生烃的源岩分布范围,为我国一些地层埋深变浅盆地的资源量的计算提供了理论证据。     

水分胁迫下甘蔗冠层光谱反射率变化规律研究

该文在盆栽实验的基础上,分析了水分胁迫下甘蔗苗期和分蘖期冠层光谱反射率的变化规律。试验结果表明在可见光波段和近红外波段,随着土壤含水量的增加,甘蔗苗期和分蘖期的冠层光谱反射率逐渐升高。通过对水分胁迫下的甘蔗苗期和分蘖期冠层光谱反射率差异显著性分析检验,结果表明：在近红外波段（760～1200nm）,不同土壤水分处理间,冠层光谱反射率差异显著;曲线回归分析表明近红外波段的光谱反射率与土壤含水量呈极显著正相关关系。     

一种陶瓷复合吸波材料的表面分形表征及其性能研究

通过RCS(雷达截面)综合测试系统,对实验室自制的陶瓷复合吸波材料的吸波性能与材料表面形貌进行研究,结果表明:(1)陶瓷复合吸波材料表面存在分形的重要特征,所制3块材料的表面灰度分维数分别为2.3602、2.3907、2.6255;(2)实验频率范围内,陶瓷复合吸波材料的相对反射率与发射频率存在显著线性关系;(3)随着发射频率的升高,不同表面形貌的材料的相对反射率的升高速率不同;(4)陶瓷复合吸波材料的相对反射率随发射频率的变化速率(斜率)与材料表面分维数存在极其显著的线性相关性.     

基于反射光强度检测的棱镜SPR传感器

提出一种基于Kretschmann结构的新型棱镜表面等离子体波共振(SPR)传感方法.基于常规SPR角度检测系统,固定入射光角度,检测不同待测液体介质所对应的光强反射率,实现对液体相关性质的检测.通过建立理论模型和数值模拟,考察棱镜基体类型、金属薄膜介电常数和厚度、入射光波长等参数对SPR光强反射率的影响,进而提出耦合系数η用以衡量SPR效应强弱和变化趋势.此检测方法可省去常规角度调制系统中精密角度旋转装置,无需实时调整光探测器接收角度,并可根据需要动态调整检测范围.     

高级银镜还原剂

秦皇岛玻璃工业研究设计院自行研制的高级银镜还原剂为国内首创的专利产品,银的转化率在80%以上,银膜厚度均匀,反射率高,经国家玻璃质量监督检验中心检测,各项性能指标均符合标准要求,经国内青岛台玻、秦皇岛耀华优能、张家港华尔润等数条生产线使用,一致反映良好。目前国外同类产品售价在     

光电法精确检测平面粗糙度

提出了一种方便快捷,精度高的检测平面粗糙度的新方法.即以粗糙度不同的平面对光的反射率不同来判定平面粗糙度.阐述了该方法的检测原理,并给出了经验公式及数据处理方法.     

YBa2Cu3O7—δ晶体的反射率特征研究

利用光电倍增管显微光度计对YBa2Cu3O7-δ晶体在不同波长入射光下的反射率值进行了测定，并据此绘制了该晶体的反射率色散曲线，由此得知，YBa2Cu3O7-δ晶体在四个标准波长λ＝470，546，589，650nm的入射光下的反射率值，Rg分别为15.74%,16.33%,16.25%,16.47%,Rm或Rp分别为11.55%,12.01%,11.80%,11.72%。根据实验结果和理论分析可以推知，YBa2Cu3O7-δ晶体的反射光性方位为：Rp=α，Rm=b,Rg=c;其c轴方向上的反射色颜色指数Rvis=16.3,λd=611,Pe=0.0567;α或b轴方向上的反射色颜色指数Rvis=11.95,λd=-502,Pe=0.0609。     

准噶尔盆地地热场特征与油气

本文根据准噶尔盆地760个测温点资料,结合盆地构造演化过程对盆地地热场特征及其与油气的关系进行了探讨。认为准噶尔盆地是一个较冷的盆地,地热场偏低,而且烃源岩偏老,以致生油气门限深度偏大,给勘探工作造成一定困难。     

多光谱扫描仪遥感测量海冰图象中亮度与厚度关系研究

本文利用海冰分类图象,以海冰厚度、波长和反射率之间建立的模型为理论基础,通过对海冰样区大量统计运算及各种回归结果的比较,导出了多光谱扫描仪3、4、5、6四个波段海冰亮度灰级与海冰厚度的关系式,利用这一关系式算出的海冰样区的冰厚分布数值图具有直观、定量的特点。     

MOCVD生长GaN薄膜的实时干涉曲线分析

金属有机化学气相沉积（MOCVD）生长系统中通常用激光干涉曲线对材料生长进行实时监控.根据薄膜干涉原理,通过建立反射模型,对GaN薄膜的生长干涉曲线振幅的变化与其生长模式及表面粗糙度的关系进行了详细的阐述和分析.结果表明：干涉曲线中的振幅会随薄膜表面粗糙度的增大而衰减,其衰减程度与粗糙的变化快慢有关,根据材料的实时干涉曲线可揭示其在不同生长过程中的生长模式和定量分析样品表面粗糙度.