ZTA陶瓷基板力学和光学性能的研究

以α-Al2O3粉体为主相材料,添加不同含量的ZrO2(体积分数0%~28%),采用流延成型工艺和常压烧结方法制备ZTA陶瓷样品,研究ZrO2的含量、气孔率、基板厚度以及白度对ZTA陶瓷基板力学和光学性能的影响。结果表明:随ZrO2含量增加,断裂韧性和抗弯强度呈现先增大后减小的趋势,ZrO2含量为体积分数20%时达到最大值,分别为5.7 MPa·m1/2和865 MPa;当ZrO2含量低于体积分数12%时,随气孔率增加,反射率升高;此外,ZTA陶瓷基板的厚度增加,反射率升高;白度下降,反射率也随之降低。最终制备出一种反射率达到100.7%,满足LED高光效需求的ZTA陶瓷基板。     

聚丙烯泡沫/铁氧体复合吸波材料研制及应用

介绍了一种新型发泡聚丙烯微孔泡沫吸波材料,并与铁氧体吸波材料进行复合后,在30～1 000MHz的宽频带范围内有优异的反射性能.将复合后的材料应用在3m法电磁兼容暗室,其归一化场地衰减性能仿真计算结果在±4dB以内,其中绝大部分值在±2dB以内,满足高性能电磁兼容电波暗室的设计要求.发泡聚丙烯微孔泡沫吸波材料相对于传统的聚氨酯泡沫吸波材料具有洁净不脱粉、不吸水、耐热性好、硬度强、长期使用不垂头变形等优点,为下一代暗室的建设提供了更多的选择.     

基于非稳态随机过程的近红外反射率鲁棒估计算法

反射率估计在计算机视觉、计算机图形学等领域具有重要作用.为了精确获取反射率,提出一种基于非稳态随机过程的近红外反射率鲁棒估计算法(RENA).该算法以Kinect二代传感器采集结果计算初始反射率,并建立反射率加性噪声模型,同时提出光照度鲁棒估计的概念,简化反射率图像非稳态随机过程模型.实验表明,RENA算法的反射率估计结果优于其他去噪算法,适用于室内场景的反射率图像高精度估计.     

吸波涂层雷达反射率原位测量技术

目的 为满足吸波涂层在装机条件下雷达反射率原位测量的迫切需求,提出一种基于天线近场测试的雷达反射率原位测量技术。方法 设计小型化超宽带天线、收发去耦结构以及屏蔽罩,构建原位测量探头,并与微波扫频模块和数据处理模块集成,研制出雷达反射率手持式宽频测量仪并。结果 经对比验证,在-17～0 dB反射率范围以及2～18 GHz频率范围内,该测量仪测量结果与弓形系统测量结果偏差小于1.5 dB。结论 该测量仪适用于厚度为1.5 mm以内已涂覆涂层雷达反射率的准确测量。     

PET基材上介质保护层对高反射银膜性能的影响

为了解决纯银高反射膜耐候性不佳、附着力差的问题,在聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)基材上制备了Al2O3/Ag/CrN结构,通过多组对照试验评估保护层对反射银膜耐候性和力学性能的影响.结果 表明:Al2O3前保护层显著提高了反射膜的耐腐蚀性能;CrN后保护层提高了膜层的附着力性能;综合耐候性、反射率、附着力等性能,PET/Al2O3/Ag/CrN膜层中Al2O3优选厚度为10 nm,CrN优选厚度为20 nm.     

可记录光盘存储材料的发展历程

1引言光盘存储技术是继缩微技术(始于40年代)和磁性存储技术(始于60年代)之后发展起来的一种崭新的信息存储技术。可录光盘通过激光束照射到旋转的圆盘(由保护层、记录介质层、反射层及基片组成)上,利用记录介质层所发生的物理或化学变化,从而改变光的反射和透过强度而进行二进制信息的记录。     

用微波ECR等离子体增强磁控溅射沉积法在玻璃上镀膜

利用微波ECR等离子体增强磁控溅射沉积技术在玻璃表面制备了硅膜.研究了所得硅膜的表面形貌、附着力和化学稳定性及其红外-可见光谱特性.结果表明此法制备的硅膜均匀性好,附着力及化学稳定性高,对近红外波段有较低的透过率和较高的反射率.     

一种单负材料对的反射型带阻滤波器

为了探索利用单负材料在微波器件中应用的可能性,建立了基于单负材料对的反射型带阻滤波器的等效传输线模型,理论推导了其工作原理,提出了设计方法,并对其性能进行了数值仿真.结果表明:在一定的频率范围内具有较好的滤波特性.从而验证了本文提出方法的可行性.     

表面涂层对毫米波频段反射面天线电性能的影响

目的确定反射面天线表面涂层参数,并验证表面涂层参数对毫米波频段反射面天线电性能的影响。方法采用金属导电率、金属层厚度、二氧化硅层厚度等参数,通过电磁软件仿真、涂层试片加工、电性能实测等方法对反射面电性能开展研究。首先对各种反射面表面涂层材料的参数及反射率的计算公式进行定性分析,再采用全波电磁仿真软件HFSS对不同表面涂层参数下的电性能开展电磁仿真,比较均匀平面波激励无限大平面的反射率参数性能。在确定涂层参数的基础上,加工试验样片,采用接收机等效噪声温度测量法,在54 GHz和183 GHz频段完成对涂层试片的电性能测试。结果在理论分析、仿真计算取得一致的结果下,获取了天线反射面表面金属层厚度与反射率的关系,结合工程实际加工经验,确定了反射面金属层的建议厚度为1～2μm。确定了金属层表面涂覆二氧化硅层在厚度小于2μm的情况,对反射面天线电性能影响可忽略。获取了相同厚度的不同种类金属对反射面电性能的影响。结论在理论分析与仿真分析结论的指导下,完成了1.8μm铝+0.1μm SiO2试验样片的加工及反射率实测,实测结果与仿真结论一致。     

分光棱镜的分光性能测试研究

分光棱镜在光学系统中广泛应用 ,主要研讨分光棱镜的分光特性 (透射率与反射率 ) ,重点分析了棱镜在光学系统中转动时的分光特性变化。采用半导体激光器作为光源 ,用照度计作为测试表 ,对较多分光棱镜零件进行了测试 ,对测试数据进行了计算和分析 ,指出了分光棱镜设计、制造和测试应注意的问题