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薄膜的截面TEM样品制备 总被引:1,自引:0,他引:1
薄膜材料的厚度仅为微米量级或者更薄,对其微结构的研究十分困难,许多表征方法难以采用。透射电子显微分析(TEM)是薄膜材料微结构研究最重要的手段之一。尽管采用TEM平面样品研究薄膜的微结构在样品制备方面相对容易,但由于薄膜依附于基材生长,且通常具有择优取向和柱状晶生长等微结构特征,因而采用截面样品从薄膜生长的横断面进行观察和研究,可以得到更多的材料微结构信息。但是薄膜的TEM截面样品制备过程较为繁杂,难以掌握。已有的文献主要介绍了Si基片上生长薄膜的TEM截面样品制备方法,对金属基片薄膜截面样品的制备方法介绍不多。 相似文献
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本文报道在650℃的衬底温度下实现了MOCVD在(100)面和(111)面上生长GaAs与Al0.4Ga0.6As的不同选择性。这一衬底温度比国际上以前报道的要低,对制作适于光电器件的GaAs/AlGaAs量子阱层比较有利。用此技术,在GaAs非平面衬底上生长了GaAs/Al0.4Ga0.6As量子阱,并用扫描电镜、低温光致发光谱及偏振激发的光反射率谱技术进行了研究。结果不仅证明了MCCVD外延生 相似文献
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超深冲IF钢退火过程中织构变化的ODF分析 总被引:5,自引:0,他引:5
采用ODF分析方法对IF钢冷轧板在退火过程中织构变化进行了分析。结果表明,随退火时间的延长,冷轧IF钢板在呔α,γ取向线上的{100}〈110〉,{112}〈110〉,{111}〈110〉,{111}〈112〉织构有所增减,其中{111}〈112〉织构明显增加。最终形成以{111}〈110〉,{111}〈112〉为主的退火织构。这正是使IF钢获得优良深冲性能必要条件。 相似文献
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冷轧形变量对钛板材再结晶织构形成的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
采用三维晶体学取向分布函数(CODF)分析法研究了工业纯钛板材不同冷轧形变量对织构形成的影响。结果表明,冷轧形变量为50-70%时,再结晶退火后形成了(2118)(0110)和(1018)(1210)的部分纤维织构,而在30%较低或86%较高的形变量冷轧时,形成典型的轧制织构(2115)(0110)和再结晶织构(1013)(1210)型式。 相似文献
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20.
用销钉型螺杆纺丝,产量约高20-30%,且熔体质量了,温度均匀一致。但在设计计算时缺少产量有效系数。本文对进口机器进行测试,并经分析,算出有效系数,以设计计算需要。 相似文献