密炼机上辅机及混炼系统的微机自动控制装置

MYH—1型系统控制软件可用于各种配方,由微机实现自动调整;实现对生胶、炭黑、粉料、油料的自动密闭加料、称量、投料;实现混炼能量控制,保证混炼质量,缩短混炼时间;对每车混炼胶的混炼参数、原材料称量实行统一管理。介绍了开发内容、系统特点和应用效果。     

共振点测试方法的研讨

包装件或产品的共振频率、振动传输比、阻尼等因素组成了包装系统的动态特性,它是由包装材料与整体包装系统共同决定的。包装系统的动态特性能够反映出在一定的运输环境（冲击、振动）下,包装对产品的保护能力。因此在进行包装设计时,经常需要测试包装件或产品的共振频率,根据共振点来设计包装系统,避免包装件在实际运输过程中发生共振现象。     

变井储系数的确定方法及其在反褶积分析中的应用

中针对变井储试井分析问题，给出了确定变井储系数及计算续流量的方法，并用反褶积分析积分析方法解释了未出现径向流的早期测压数据，给出了解决早期试井资料分析问题的有效方法。     

高台阶土场的稳定性与底部泄流

从厂坝铅锌矿排土作业之急需，提出了基底为薄层表土建设超高台阶排土场，证实了超高土场定性一，实现了土场底部大块体泄流及安全生产，并实现效益１．０８６亿元，。     

Ge／Pd／n—GaAs低阻欧姆接触的SIMS分析

采用Ｇｅ／Ｐｄ／ＧａＡｓ结构和快速热退火在ｎ－ＧａＡｓ上形成了低阻欧姆接触，利用二次离子质谱技术揭示和讨论了低欧姆接触形成的机理。比较了采用Ｘ＾＋和ＧｓＸ＾＋信号检测的Ｇｅ，Ｐｄ，Ｇａ和Ａｓ的深度分布。结果表明采用ＣｓＸ＾＋可以提供更准确的结果和成分信息。     

二次谐波产生的4.75μm激光

可重复生长的非线性红外晶体ＡｇＧａＳｅ２是Ⅰ－Ⅲ－Ⅵ２簇化合物之一。具有４２ｍ对称的负单轴特性。使用光栅选频要中调谐ＴＥＡ ＣＯ２激光器输出的９Ｐ支线泵浦ＡｇＧａＳｅ２晶体可产生波长４．７５μｍ左右的激光。晶体长度为６．７ｍｍ，在１０．６μｍ处按Ⅰ类相位匹配加工。     

飞行时间二次离子质谱--强有力的表面、界面和薄膜分析手段

二次离子质谱（Secondary ion mass spectrometry，简称SIMS）是一种对表面灵敏的质谱技术，建立在表面各种类型带正、负电荷原子或分子发射的基础上。用飞行时间（Time of flight，简称TOF）仪器对这些二次离子进行质量分析，能确保并行质量登录、高质量范围、高流通率下的高分辨和精确质量测定这些优异性能。配合细聚焦扫描一次离子束，可在优于1nm的高深度分辨和优于50nm的横向分辨本领下，实现对表面优于单层ppm(百万分之一）量级的极高检测灵敏度。当今TOF－SIMS已发展为一种成熟且完善的表面分析技术。极高的灵敏度，再加上即使对大分子及不易挥发性分子都独具的敏感性，使它成为很多高技术领域不可缺少的分析手段，这些领域包括微电子学、化学和材料科学以至纳米技术和生命科学等。本文简述了TOF－SIMS的原理、仪器及其多方面的应用和展望。     

一种新的二次电缆屏蔽层接地方法

提出一种新的二次电缆屏蔽层接地方法，即在开关场的一端经适当电阻接地，位于控制室的另一端直接接地。就不同电磁干扰耦合方式下二次电缆屏蔽层采用新型接地方法和传统接地方法时的抗干扰效果进行了分析比较，并对较为复杂的感性耦合方式进行了着重分析，发现采用新方法可以获得较好的电磁兼容效果，并可有效解决因地电流过大而可能烧毁屏蔽层的问题。     

UV-LIGA深度光刻机平滑衍射技术研究

UV-LIGA深度光刻技术是加工微型机电系统的一项重要的微细加工技术。介绍了一种平滑衍射效应的位错强度叠加原理，它采用了蝇眼积分透镜去平滑衍射，并模拟数值计算了硅片表面的光强分布，最后给出了光刻结果。