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71.
利用硫酸软骨素(chondroitin sulfate,CS)在云母基底上通过浇铸法制备的自组装膜为基底,诱导草酸钙在其上的凝集生长。发现当硫酸软骨素的浓度为1.Omg/ml时在该膜体系中可形成规整的周期性草酸钙环状沉淀。这种有序的环状结构可能是耗散结构的一种具体表现形式。利用原子力显微镜(atomic forcemicroscope,AFM)和傅立叶红外光谱仪对这种结构进行了表征,实验结果显示合适浓度下形成的CS膜在一定程度上可以抑制草酸钙的凝集结晶,表明高分子基质与无机离子间强烈的相互作用对无机盐的成核结晶有显著影响,为探讨结石的形成与抑制提供了一定的实验依据。 相似文献
72.
用溶胶-凝胶技术在Bi(100)衬底上制备了单层和渐变型多层的BaxSr(1-X)TiO3薄膜,其膜层组分分别为:Ba0.7Sr0.3TiO3,Ba0.8Sr0.2TiO,Ba0.9Sr0.1TiO3,BaTiO3,对生长制备出的多层BaxSr(1-X)TiO3薄膜进行了变角度椭偏光谱测量,通过椭偏光谱解谱分析研究,首次得到了BaxSr(1-X)TiO3多层膜结构不同膜层的膜厚和光学常数,其结果显示:椭偏光谱分析得到的不同膜层的膜厚与卢瑟福背向散射测量得到的结果基本相符;渐变型多层膜中BaTiO3薄膜的折射率比单层BaTiO3薄膜折射率大许多,与体BaTiO3的折射率相接近,这说明渐变型多层膜中BaTiO3薄膜的光学性质与体材料的光学性质接近。 相似文献
73.
掺杂聚苯胺导电膜的制备及对核设施表面铀的去污 总被引:3,自引:0,他引:3
制备了掺杂导电聚苯胺可剥离膜,首次采用涂膜、电解联用去污方法,进行涂膜电解去除渗透到核设施金属材料内部形成氧化物的铀。在膜中,聚苯胺、盐酸、EDTA-2Na含量各为4%、0.5%~1%、1%;电解电压2.3V、电解时间25min~30min时,其去污率可达99%,优于其它的方法。 相似文献
74.
干凝胶自蔓延燃烧法制备纳米级的MnZn铁氧体 总被引:5,自引:0,他引:5
以硝酸铁、硝酸锌,硝酸锰和柠檬酸为原料,利用溶胶-凝胶法和干凝胶自蔓延燃烧工艺制备了纳米的MnZn铁氧体。利用热分析(TG-DTG)研究了干凝胶自燃烧过程,并且利用X衍射(XRD)、透射电子显微镜(TEM)研究了PH值、温度,成胶时间以及燃烧温度对MnZn铁氧体的晶体结构,晶体组成和粒径大小的关系。实验结果表明,在较低的PH值和适当的成胶时间下,通过微波外界加热维持干凝胶的自蔓燃烧可以制得粒径为10-20nm之间,晶型良好的立方尖晶石结构MnZn铁氧体。 相似文献
75.
一种供电时间比传统手机电池更长、更经济的手机燃料电池已成为众所瞩目的开发热点,有专家称不久将成为手机的标准配置。以色列特拉维夫大学开发出一种手机燃料电池,使用10ml甲醇,可以实现13.5小时的通话时间和642小时的待机时间。据悉,这种手机燃料电池的关键技术在于电解质膜。手机燃料电池在注入燃料时,一般都要使用泵同时注入甲醇和水。而特拉维夫大学开发的电池则可回收燃料电池单元产生的水,不用水泵等设备就可重新将水注入到燃料电池单元中。意法半导体公司ST成功开发出了面向手机等小型便携终端的燃料电池小型化技术。利用这种燃料电池小型化技术, 相似文献
76.
Measurement Method of the Thickness Uniformity for Polymer Films 总被引:1,自引:0,他引:1
YANGHong-liang RENQuan FANYun-zheng 《半导体光子学与技术》2003,9(2):128-132
Several methods for investigating the thickness uniformity of polymer thin films are presented as well their measurement principles.A comparison of these experimental methods is given.The cylindrical lightwave feflection method is found to can obtain the thickness distribution along a certain direction.It is simple and suitable method to evaluate the film thickness uniformity. 相似文献
77.
78.
薄膜的截面TEM样品制备 总被引:1,自引:0,他引:1
薄膜材料的厚度仅为微米量级或者更薄,对其微结构的研究十分困难,许多表征方法难以采用。透射电子显微分析(TEM)是薄膜材料微结构研究最重要的手段之一。尽管采用TEM平面样品研究薄膜的微结构在样品制备方面相对容易,但由于薄膜依附于基材生长,且通常具有择优取向和柱状晶生长等微结构特征,因而采用截面样品从薄膜生长的横断面进行观察和研究,可以得到更多的材料微结构信息。但是薄膜的TEM截面样品制备过程较为繁杂,难以掌握。已有的文献主要介绍了Si基片上生长薄膜的TEM截面样品制备方法,对金属基片薄膜截面样品的制备方法介绍不多。 相似文献
79.
80.