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分析了NH4Cl对Al粉直接氮化程度的促进作用,并采用实验的方法进行验证.实验中对NH4 Cl的含量比例进行优化,并通过XRD、SEM、XRF和EDS进行测试、分析和表征.结果表明,当铝粉与NH4Cl的质量比不同时,NH4Cl对Al粉直接氮化起到不同程度的促进作用,产物表现为不同的外观形貌、不同的含量及不尽相同的结晶情况.当Al粉与NH4Cl的质量比为9∶4时,反应产物氮化铝纳米线的含量比较多,且外观形貌最好,结晶情况最佳.最后,结合V-S机制对NH4Cl促进AlN纳米线的生长机理进行了解释. 相似文献
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通过理论计算的方法,系统分析了AlN在Hi-B钢铁素体中的析出形核机制。结果表明,第二相AlN粒子不同析出形核机制下的临界形核尺寸随着温度的降低而降低,形核机制不同,临界形核尺寸不相同,但均匀形核和晶界形核的临界形核尺寸较为接近,同一温度条件下,位错形核的临界形核尺寸最小。第二相AlN粒子以位错形核、均匀形核、晶界形核3种形核机制形核的最快析出温度分别为1 273、1 193、1 293K。同时,温度在1 293K以下时,取向硅钢中AlN在铁素体中以位错形核为主,温度高于1 293K后,AlN的形核机制以晶界形核为主。 相似文献
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商品氮化铝粉料中含有高浓度的氧、碳及金属杂质,需经过高温提纯处理后才能用于物理气相法氮化铝晶体生长。与感应加热相比,钨网电阻加热可有效避免碳、氧等的二次沾污,势必具有良好的提纯效果。本文采用钨网炉对AlN原料进行高温烧结提纯处理,通过X射线能谱仪(EDS)、气体分析技术(IGA)和辉光放电质谱仪(GDMS)对烧结处理后AlN的杂质含量进行了测试分析,结果表明经钨网炉高温烧结处理后,AlN原料中杂质含量明显降低,其中的氧、碳去除效果显著。还进一步分析了杂质挥发、原料损耗随温度、时间变化的规律。 相似文献
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Highly c-axis oriented AlN films, 3.15 μm thick, were grown by rf reactive sputtering technique at 200 °C on bare and Pt-covered Si(100) substrates previously oxidized to a thickness of about 2 μm in wet oxygen atmosphere. A Pt film, 2200 Å thick, was then sputtered on the free surface of the AlN/Pt/SiO2/Si multilayer at 200 °C without breaking the vacuum in order to avoid any oxidation effects of the layers. The multilayers were then annealed in air at 900 °C for different time lengths up to 32 h in order to test the materials' resistivity to harsh environment. The influence of this high temperature annealing (HTA) on the thin films' crystallinity, as well as on the c-AlN piezoelectricity and Pt sheet resistivity was investigated at room temperature before and after each annealing. X ray diffraction investigations revealed that the films' crystallinity was improved by the HTA: the full width of half maximum of the AlN(002) and Pt(111) peaks decreases from 0.39° to 0.24°, and from 0.42° to 0.28° after 32-hours-HTA. Scanning electron microscopy, four points probe and piezoelectricity tests revealed that the morphology and the sheet resistivity (in the range from 0.6 to 0.5 Ω/sq) of the outer Pt film, as well as the AlN piezoelectric constants d33 (in the range from 6.2 to 7.4⋅10−12 C/N) was quite unaffected by the HTA even after 32 h of annealing. 相似文献
98.
99.
100.
also indicate that scattering from half space phonon modes in the channel side plays a dominant role in mobility. 相似文献