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信号频率在100MHz以上时,材料性质对薄膜多芯片组件(MCM-D)的性能变得越来越重要。本文讨论高频下材料性质对MCM-D的电性能的影响。着重讨论介电常数、介质损耗角正切、互连金属电阻和互连金属趋肤深度等对系统性能的影响。对常用的MCM-D材料的这些性质作了比较。 相似文献
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将薄膜电容真空计的测量室接于被测密闭容器,静态真空室接于一个比较容器,即组成一台压差式漏率测试仪。首先使两容器压力平衡,真空计读数为零。当被测容器存在漏孔时,真空计薄膜两侧形成压差,真空计指示读数,继而计算出该容器的漏率。应用商品真空计在抽真空测试时,检测的最小可测漏率达10-4~10-5Pa·L/s;而在充压测试时,因受气体温度变化的影响,灵敏度会降低几个量级。该仪器有可能具备寻找漏孔位置和确定漏孔漏率的功能。 相似文献
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通过对LD(7Cr7Mo3V2Si)模具钢起塑性压缩变形后的金相组织观察研究,分析了变形参数、原始组织对变形后金相组织的影响。 相似文献
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用经过不同热处理的40Mn2钢进行了两种磨料磨损试验研究,讨论了热处理和热处理引起的力学性能及显微组织的变化对钢的耐磨性的影响。 相似文献
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