两种基于弯曲损耗的光纤测试仪器原理及应用

光纤通信技术的飞速发展带动了光纤测试仪器的发展。主要对两种利用弯曲损耗对光纤进行检测的仪器——光纤识别仪、光纤对线器的原理、结构及其在光纤通信工程中的应用进行了阐述，两种仪器可以在不中断光纤通信的情况下对光纤进行检测，极大地降低了对光纤通信系统的影响，对光纤通信系统具有重要意义。     

混合动力电动汽车用电机及驱动控制器的电磁兼容设计

电机及驱动控制器作为电动汽车的关键部件,其电磁兼容设计对于保证电动汽车的可靠运行非常重要.介绍了国家十五项目中某混合动力轿车用电机及控制器系统的电磁兼容措施,分别从控制电路、信号电缆、功率电路及屏蔽机箱等工程角度进行了分析和设计.该系统的电磁兼容性符合GB/T17619-1998的要求,且已应用于实际混合动力电动汽车,运行情况良好.     

“锲而不舍 金石可镂”——上海秀派公司2．45GHz有源RFID标签技术的成功之路

上海秀派公司坚持自己的技术长项——2．45GHz有源RFID,充分发扬该种RFID的特长,记者采访该公司时了解到了开发方面的很多细节、成功案例和实施经验。我们不但非常推崇该公司的“锲而不舍”的意志,而且还意识到如果秀派公司的成功经验一旦辐射到中国的RFID行业中,一定会把这项在国外诞生的技术更好地植根于中国的土壤,使之更加适合中国的实用环境。     

微杯电子纸及其后加工制程

SiPix利用独特的微杯(Microcup)结构和顶部灌注封装技术，通过连续整卷高速涂布的制程成功地制造出高性能的双稳性、装填电泳微粒的电子纸。SiPix可提供下列两种规格形式任意的EPD卷式成品：(A)用于有源矩阵EPD和直接驱动产品的可剥离保护膜／已灌装及密封的Microcup／无图案导体膜夹层卷；及（P）用于无源矩阵的行导体膜／已灌装及密封的Microcup／列导体膜夹层卷。已经开发出将EPD卷制成不同的显示模块或产品的简单的后续加工制程。     

加油站油品损耗的管理问题分析及解决办法

针对加油站在油品进、销、存方面因管理和人为作弊而产生的损耗大问题，提出了解决办法：各环节交接手续要严密完备；发货方实施保量运输，选择信誉好的承运方；在销售、储存方面应加强管理，推行加油站计量员、账务员集中管理，主要账表电子表格化，及时上报主管部门，执行责任追究制并与效益工资挂钩。     

自喷井电动清蜡绞车的研制

针对目前石油钻采用清蜡绞车总体结构设计不合理以及实用性不强等技术难题,研制开发了自喷井电动清蜡绞车。该绞车的核心部件包括过载保护安全装置、牙嵌离合器轴套、自动/手动互换装置、计量装置以及密封装置。在清蜡绞车自动工作中,当清蜡刮刀遇到较大阻力时,清蜡绞车将接收到反馈信号,可实现智能停车,自动转换为手动状态,以便操作人员检查和排除故障,从而确保了操作的安全性,延长了设备的使用寿命。1000余台电动清蜡绞车的现场应用表明,该产品可以大大降低原油的开采成本,具有良好的经济效益和社会效益。     

温度采集仪调理电路的isp实现技术

介绍温度采集仪调理电路的结构及工作原理,简单介绍在系统可编程模拟器件ispPAC10的基本结构,并借助于PAC Designer软件详细描述ispPAC10实现温度采集仪数据放大器具体方法和步骤。与传统的模拟电路设计方法相比,运用isp技术实现的温度采集仪调理电路具有简洁可靠、开发周期短等特点。     

一种用于三电平逆变器的SVPWM调制方法研究

本文从二极管箝位型三电平逆变器的基本结构出发，分析其输出状态，推导出六角形空间电压矢量图。然后从一种改进的，可以减小开关损耗，避免高的dv／dt三电平空间矢量PWM调制策略出发，建立了基于Matlab的详细仿真方案，验证了方案的可行性。文章给出了扇区判断的算法流程图，脉冲生成模块的内部结构图，其中的扇区判断的算法和脉冲生成方法对于用DSP实现三电平SVPWM具有重要的参考价值。     

减振器在自导系统结构设计中的应用

通过对减振器结构设计的理论分析，建立了减振器的数学模型，同时通过设计的模拟装置对减振效果进行了实测，效果良好。     

Signal Integrity: Fault Modeling and Testing in High-Speed SoCs

As we approach 100 nm technology the interconnect issues are becoming one of the main concerns in the testing of gigahertz system-on-chips. Voltage distortion (noise) and delay violations (skew) contribute to the signal integrity loss and ultimately functional error, performance degradation and reliability problems. In this paper, we first define a model for integrity faults on the high-speed interconnects. Then, we present a BIST-based test methodology that includes two special cells to detect and measure noise and skew occurring on the interconnects of the gigahertz system-on-chips. Using an inexpensive test architecture the integrity information accumulated by these special cells can be scanned out for final test and reliability analysis.