硫对注入YSZ单晶的金属铂在退火过程中结晶的影响

秀卢瑟福背散射－沟道技术（ＲＢＳ－Ｃ）和Ｘ射线衍射技术（ＸＲＤ）研究了Ｐｔ和注入ＹＳＺ（Ｙ２Ｏ３稳定的ＺｒＯ２）后产生的损伤和退火过程中损伤的恢复及注入Ｐｔ的晶化，ＲＢＳ－Ｃ分析表明ＹＳＺ室温下的存在较强自退火效应，ＸＲＤ分析结果示出硫以铂的晶化产生很大影响。     

基于场发射三极管结构的离子轰击分析

离子轰击影响场致发射器件的稳定性和工作寿命。本文以碳纳米管场发射三极管结构为例模拟了气体—电子碰撞电离产生的正离子回轰阴极的全过程，对模型中的平面阴极受损的位置和程度进行了的分析；为了减小离子轰击的影响，在三极管中引入了第二栅极利用其离子陷阱效应，并模拟了使用第二栅极后正离子回轰阴极的全过程和阴极受损情况。模拟结果证明，加入离子陷阱结构后可以明显改善场致发射三极管的离子轰击问题。     

微通道板大量放气的原因

本文分析了微通道板(MCP)在烘烤和电子轰击下大量放气的机理,结合有关实验数据给出了放气成分及放气量的相对大小。指出:放出的这些气体不仅对光阴极有毒害,而且对MCP自身的次级电子发射性能还有不良影响,即降低次级电子产额。在此基础上提出了解决MCP大量放气的方法。     

显像（示）管阴极像黑洞状缺陷形成的原因及消除对策

本文通过有关理论依据和试验数据，着重阐述了在显像（示）管测试中，阴极像中心黑洞状缺陷产生的原因以及消除这种缺陷的处理方法。通过这种处理方法处理过的显像（示）管，其整体质量水平（尤其是真空度）将会得到明显的提高。     

H型结构垂直腔面发射激光器

报道了一种结构新颖的Ｈ型垂直腔面发射激光器。器件是由钨丝掩膜一次质子轰击和选择腐蚀相结合制备的，实验已实现在脉宽为２０μｓ，占空比为１１０的脉冲电流条件下的室温激射。     

大功率半导体激光器的腔面钝化

大功率半导体激光器的腔面退化是影响其寿命和可靠性的重要因素,长期以来一直是人们关注和研究的重点。本文利用离子铣结合腔面钝化还原层的方法对大功率半导体激光器的腔面进行处理。结果显示,离子铣腔面钝化能够在一定程度上减少半导体激光器的功率退化,168h加速老化后退化幅度降低4.5%;同时该技术对老化过程中COD阈值降低有明显的抑制作用,可有效减少使用中的突然失效。结果表明,该技术能够改善半导体激光器的腔面特性,器件的可靠性和使用寿命可望得到提高。     

提高考夫曼型离子源束流密度的研究

本文依据金属的索未菲自由电子模型的量子统计理论结果，对提高考夫曼型离子源束流密度进行了研究，取得了一些有价值的结果。     

一种电子枪分析设计

设计一种大功率轰击型六硼化镧电子枪。以传热学理论基础和重要结论为依据,得出能减小阴极电子枪热量损失的几个设计与材料选取原则。利用有限元法对轰击型六硼化镧电子枪阴极模型进行热模拟。依据模拟结果设计一种轰击型六硼化镧阴极电子枪,其发射面直径为2.0 mm,当加热功率为80.0 W时,阴极温度达到1 569℃所发射电子束束流密度达到5.55 A/cm2,并且发射稳定、束斑均匀、发散度小,反复暴露于大气后仍能正常工作。     

Y2O3含量对Y-Gd-Hf-O直热式压制阴极发射性能的研究

为了提高Y-Gd-Hf-O压制式高温阴极的热发射性能,制备了Y2O3/HfO2摩尔比不同的S2O3掺杂Y-Gd-Hf-O直热式压制阴极。测试结果显示,当比值为5/2时,热发射能力最好,1500 ℃下发射电流为2.79 A/cm2。阴极支取直流发射电流密度1.0 A/cm2,在1500 ℃的工作温度下,已经稳定工作了1320 h,并在该温度下经过696 h的10 W连续电子轰击后,发射电流仍保持为初始值的86%,表现出良好的耐电子轰击能力。XPS结合深度刻蚀表明,发射活性层主要集中在距表面50 nm深度范围内。表层SEM、EDS分析表明,阴极经过激活、老炼,活性物质粒径变大,Y/Hf原子比低于初始值,且随着Y2O3含量的提高,阴极表层n型半导体Y2O3-x的含量相应地增加,对改善阴极表面的导电性、降低逸出功和提高阴极的热发射性能有促进作用     

Low-energy He-ion beam modifications the surface properties of biomaterial

In the present work, ultra-high-molecular-weight polyethylene (UHMWPE) films were irradiated with 130 keV He ions. The fluence of the ion beam was ranged from 1 × 10¹² to 1 × 10¹⁶ cm^?2. The chemical, morphological, and crystallite structure changes resulted from the ion bombardment were obtained using different spectroscopic techniques. These techniques were Fourier transform infrared spectrometer, scanning electron microscope, X-ray diffraction, and UV–vis spectrophotometry. The surface free energy for untreated and ion-beam-treated samples was determined by means of contact angle measurements of three different liquids. Our results showed a decrease in the crystallinity of UHMWPE and formation of C=O groups on the polymer surface for modified samples as well. A remarkable shifting in the UV–vis spectra toward lower energy and increase in the optical absorption were observed as the ion fluence increases. Measurements of the contact angle indicate remarkable increase in the surface free energy as a function of ion fluence.