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991.
实验研究了水辐射分解作用对高放废物深地质处置容器材料的影响。在高放废物深地质处置库附近的地下水,受辐射线作用后分解出氧、氢和氧化产物(例如H_2O_2等),于是在高放废物容器周围形成一个氧化场,导致高放废物中的某些重要放射性核素(例如U,Np和Tc)易溶于水,并向远域迁移。本实验中的含FeSO_4(0.13 mol/L)水溶液在吸收剂量为0、20、60、180、500kGy的射线作用下,其氧化还原电位(Eh)值由+357mV增至+414 mV;在不同吸收剂量的射线作用下,金属Cu、金属Al、0.357 mv金属Fe和不锈钢(后者是我国拟采用的高放废物包装容器材料),在水溶液中的氧化侵蚀强度,分别比在无辐射情况下的大0.2-6.1倍。 相似文献
992.
^17O系统的R矩阵分析 总被引:2,自引:1,他引:1
采用多道多能级R矩阵理论,全面系统地分析~(17)O系统中10.5 MeV激发能以下有关~(16)O(n,n)~(16)O·~(16)O(n,a)~(13)C和~(13)C(a,a)~(13)C的全部实验数据。有关~(16)O的中子反应截面计算值被收入中国评价数据库CENDL-2和美国的评价数据库ENDF/B-6。对在R矩阵分析中如何确定本底、道半径和边界条件等问题予以讨论。 相似文献
993.
Modified Imidazoles: Degradation Inhibitors and Adhesion Promoters for Polyimide Films on Copper Substrates 总被引:1,自引:0,他引:1
Polyimide films on copper substrates that are exposed to elevated temperatures and an oxidizing environment will be subject to degradation. In order to halt this degradation without changing the properties of the system, a polymeric agent could be placed between the polyimide and the copper. This paper will investigate three such materials that will not only slow down the degradation of the polyimide and the oxidation of the copper, but will also improve adhesion within the system. Fourier transform infrared reflection-absorption spectroscopy (FTIR-RAS) will be used to investigate the polyimide/polymeric agent/copper system. 相似文献
994.
995.
A. Kussmaul S. Vernon P. C. Colter R. Sudharsanan A. Mastrovito K. J. Linden N. H. Karam N. H. Karam S. C. Warnick M. A. Dahleh 《Journal of Electronic Materials》1997,26(10):1145-1153
We have used spectroscopic ellipsometry to perform real-time monitoring during metalorganic chemical vapor deposition growth
of AlGaAs (on GaAs) and InGaAs (on GaAs and InP). Optical constants for these materials were obtained up to growth temperatures
of 600 to 700°C. This information permits real-time extraction of composition and layer thickness from the raw ellipsometric
data at sample rates on the order of 0.5 Hz. We describe closed-loop control of composition and total layer thickness on AlGaAs-based
structures, including Bragg reflectors. In-situ data obtained on double-heterostructure quantum-well laser structures demonstrate that spectroscopic ellipsometry is an extremely
powerful monitoring and quality-control tool, giving important real-time information on complex structures that would be difficult
and time-consuming to obtain after growth. 相似文献
996.
997.
多传感器检测是使用多种(或多个)传感器对同一被测对象进行广泛的测量。应用多传感器检测技术和多传感器数据溶合技术对车削加工中的零件外圆尺寸检测进行了实验研究,结果表明,多传感器检测技术能够满足现代检测技术对信息的精确要求,使得检测监控系统更加准确、可靠。 相似文献
998.
李毅 《核电子学与探测技术》1995,15(3):184-188
多丝正比室中电子的最大漂移时间是逃逸门电路中的一个重要参数。这个参数的选择将影响逃逸门工作方式的多丝正比室的整体性能。通过实验测量得到了多丝正比室中电子的最大漂移时间的实际值和最大漂移时间随多丝正比室工作状态的变化,测量结果在实际中得到应用。 相似文献
999.
The thermal stability of interfaces between metals (Ni, Pt, Ti, Mo) and III-V compound semiconductors has been investigated
by the application of Rutherford backscattering spectrometry. Metal diffusion and interfacial lattice disorder of the semiconductors
were analyzed for various metal/semiconductor samples annealed at temperatures up to 500°C. The interfaces of Ni/GaAs and
Ti/GaAs were found to be more stable than those of Ni/In-based semiconductors and Ti/ In-based semiconductors, respectively.
Faster diffusion of Pt atoms was ob-served in In-and As-containing materials than in P-containing materials. Mo/ semiconductor
interfaces were the most stable. 相似文献
1000.