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31.
目的提高钼合金表面红外辐射性能与高温抗氧化性能。方法将40%Si、20%Cr、5%Ti、5%SiC、30%Mn O_2五种粉末与酒精、粘结剂按比例混合,经高能球磨6 h后制得均匀悬浮的料浆。采用浸涂工艺对预处理的钼合金试样进行料浆涂覆,在1450℃真空烧结0.5 h后制得黑色涂层试样。通过1550℃高温静态氧化试验和高温粒子薄片红外光谱综合实验系统,分别评价涂层抗氧化性能和红外辐射性能,并通过扫描电镜(SEM)、能谱分析(EDS)、X射线衍射仪(XRD)对涂层氧化前后的形貌与组织结构进行分析。结果钼合金Si-Cr-Ti-SiC-Mn O_2涂层在700、900℃的法向发射率分别达0.85、0.88,在1550℃高温有氧环境下的静态抗氧化寿命达7 h。原始涂层呈四层复合梯度结构,由外到内分别为SiO_2+Mn3O_4+M5Si3(M指Mo、Cr、Ti)、M5Si3+Mo Si2+SiC+Mn3O_4、Mo Si2、Mo5Si3。高温氧化后,涂层四层复合结构由外到内转变为SiO_2+(Cr,Ti)5Si3+Mn Cr2O_4+Mn3O_4、M5Si3+SiC+Mn Cr2O_4+Mn3O_4、Mo Si2、M5Si3。高温氧化过程中,MSi2高硅化物层逐渐转变为M5Si3低硅化物层,涂层表面形成含Mn Cr2O_4尖晶石相和复合硅化物的致密SiO_2玻璃膜。结论 Si-Cr-Ti-SiC-Mn O_2涂层可有效提高钼合金基体的红外辐射性能和高温抗氧化性能,复合硅化物与硅锰复杂氧化物具有良好的抗氧化性能、高辐射性能和自愈合性能。 相似文献
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34.
35.
包渗法制备硅化物涂层的结构形貌及形成机理 总被引:2,自引:0,他引:2
采用包渗法在C-103铌合金基体上制备MoSi2涂层,通过X射线衍射、扫描电镜和能谱分析等手段研究涂层表面、截面形貌以及氧化后涂层结构变化,并分析硅化过程中涂层的形成机理。研究结果表明:包渗法制备硅化物涂层是通过反应扩散形成的,硅化过程服从抛物线规律;该涂层为复合结构:MoSi2相为主体层;以NbSi2相为主、并含少量Nb5Si3相的两相为过渡区;Nb5Si3相为扩散层。在高温氧化环境下,涂层表面生成致密的非晶氧化层,有效地阻止了氧向涂层内扩散。 相似文献
36.
讨论新建机组热力系统硅化合物的来源及去除措施,重点论述了“碱处理洗硅”工艺的特点及在亚临界机组试运中的应用,认为该工艺具有节省除盐水并可大大缩短试运工期等优点,可以在基建机组试运中应用。 相似文献
37.
38.
利用NaCI:KCI:NaF=2:2:1(摩尔比)的碱金属卤化物混合体系为载体,Na2SiF6:Si=8:2粉末为渗硅剂,SiO2为助渗剂,800℃下渗硅5h可实现在AISI3O4不锈钢表面形成Fe3Si型硅化物渗层.采用万能材料试验机进行轴向拉伸试验,用附带能量色散谱仪的扫描电子显微镜进行断面分析.结果表明,渗层中的大空洞为包盐孔洞. 相似文献
39.
作为计算机核心的微处理器芯片问世至今三十多年以来,式样不断翻新,产品性能突飞猛进,有力的带动了信息产业发展,本文回顾了三十年以来从4004微处理器到当今Pentium4的技术发展历程,从芯片所用材料的变更,封装技术及光布线技术发展的角度进一步探讨,展望了微处理器芯片未来的发展趋势。 相似文献
40.
一种增加加热元件寿命的方法,此类元件主要包含钼硅化物和此类基础材料的合金,当所述元件在低温工作时,例如在温度范围从400-600℃。本发明的特征在于加热元件材料包含Mo(Sil—xilx)2,所述材料含足够的铝以基本阻止有害物形成。 相似文献