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101.
S. Xu  J.D. Long 《Vacuum》2006,80(6):621-630
The development, operation, and applications of two configurations of an integrated plasma-aided nanofabrication facility (IPANF) comprising low-frequency inductively coupled plasma-assisted, low-pressure, multiple-target RF magnetron sputtering plasma source, are reported. The two configurations of the plasma source have different arrangements of the RF inductive coil: a conventional external flat spiral “pancake” coil and an in-house developed internal antenna comprising two orthogonal RF current sheets. The internal antenna configuration generates a “unidirectional” RF current that deeply penetrates into the plasma bulk and results in an excellent uniformity of the plasma over large areas and volumes. The IPANF has been employed for various applications, including low-temperature plasma-enhanced chemical vapor deposition of vertically aligned single-crystalline carbon nanotips, growth of ultra-high aspect ratio semiconductor nanowires, assembly of optoelectronically important Si, SiC, and Al1-xInxN quantum dots, and plasma-based synthesis of bioactive hydroxyapatite for orthopedic implants.  相似文献   
102.
103.
Undoped (IO) and Sn-doped In2O3 (ITO) films have been deposited on glass and polymer substrates by an advanced ion beam technologies including ion-assisted deposition (IAD), hybrid ion beam, ion beam sputter deposition (IBSD), and ion-assisted reaction (IAR). Physical and chemical properties of the oxide films and adhesion between films and substrates were improved significantly by these technologies. By using the IAD method, non-stoichiometry and microstructure of the films were controlled by changing assisted oxygen ion energy and arrival ratio of assisted oxygen ion to evaporated atoms. Relationships between structural and electrical properties in ITO films on glass substrates were intensively investigated by using the IBSD method with changing ion energy, reactive gas environment, and substrate temperature. Smooth-surface ITO films (Rrms ≤ 1 nm and Rp-v ≤ 10 nm) for organic light-emitting diodes were developed with a combination of deposition conditions with controlling microstructure of a seed layer on glass. IAR surface treatment enormously enhanced the adhesion of oxide films to polymer substrate. The different dependence of IO and ITO films' properties on the experimental parameters, such as ion energy and oxygen gas environment, will be intensively discussed.  相似文献   
104.
The metalorganic chemical vapor deposition of aluminum oxide has been studied over a wide process parameter range. Electrical properties of as-grown and annealed layers have been investigated using planar aluminum/aluminum oxide/silicon capacitors. The best processing conditions resulted in a leakage current of 10 nA/cm2 at an equivalent oxide thickness of 3.6 nm. In addition, the film conformality was evaluated on silicon trench structures with aspect ratios of up to 60. Excellent step coverage of over 90% (thickness at trench bottom to thickness at trench middle) was achieved at temperatures below 400 °C and a pressure of 100 Pa. After annealing the electrical properties of these layers, analyzed on planar test structures, were comparable to the results obtained at higher deposition temperature.  相似文献   
105.
利用发射光谱(Optical emission spectroscopy,OES)对感应耦合等离子体增强化学气相沉积(Inductivelycoupled plasma enhance chemical vapor d印osition,ICPECVD)类金刚石(Diamondlike carbon,DLC)膜过程中的各种基团进行分析,并对不同条件下薄膜沉积速率以及薄膜显微硬度进行测试.分析结果发现,感应耦合等离子体源激发甲烷等离子体中存在比较突出的碳氢离子成分,从而促进形成高硬度的DLC膜.而且射频功率、沉积气压等沉积参数的变化对DLC薄膜沉积过程的中性基团、离子基团以及原子氢等成分都有着明显影响,从而最终影响薄膜沉积过程及薄膜性质.  相似文献   
106.
溅射超薄Ag膜中的晶格畸变   总被引:1,自引:0,他引:1  
用直流溅射法制备了厚度从11.9到189.0nm的超薄Ag膜。X射线衍射(XRD)分析表明:样品中的Ag均为面心立方多晶结构,粒径从6.3到14.5nm。通过晶格常数的计算发现:晶格畸变为收缩,且随着粒径的减小收缩率增加,最大值为1.1%。结合不同方法制备纳米Ag材料的研究结果,讨论了影响晶格畸变的主要因素。  相似文献   
107.
108.
109.
根据现有喷射沉积设备的喷射几何关系推导了柱状沉积坯生长的数学模型,并利用该模型对沉积器的临界下降速度进行了初步估算。  相似文献   
110.
对当前低温沉积陶瓷涂层的技术进行了综述,包括液相沉积法、溶胶-凝胶法等,并分析了各种低温沉积技术的优缺点,展望了低温沉积技术的发展前景.  相似文献   
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