黄金首饰的鉴定（X射线能谱仪应用之一）

利用Ｘ射线能谱仪定量测定黄金首饰成分，选择合理测试参数，经多次测定取其平均值而获得其成分，并借助改变加速电压，判断成分波动范围的合理性。     

CIAE2170型脉冲形状甄别器的研制

研制的ＣＩＡＥ２１７０型脉冲形状甄别器已应用于中子物理、中子核数据测量及裂变物理实验中，进行１５００ｈ以上，连续工作２００ｈ的长期工作的考验，稳定可靠。它的各项技术性能经严格测试，在国内没有同类产品能与之相比，达到国内领先、国外同类仪器的先进水平。特别是它的温度稳定性在５—４５℃范围内，达到＜０．１０ｎｓ／℃。     

汉字环境下开发全自动X射线荧光光谱仪RDX1800软件系统

在Compaq 386计算机上(IBM兼容),使用 MS-DOS 5.0以及联想汉字系统成功地开发了全新的全自动X射线荧光光谱仪RDX 1800软件系统。实现了全部参数的输入、输出、结果的打印以及结果报表等数据处理的彻底的汉字化。     

材料研究中系列试样的单标样法 X 射线定量分析

本文提出了用一个标样进行系列试样 X 射线定量相分析的方法.它克服了一般 X 射线定量方法需要混合研磨和手续烦复的缺点以及无标样 X 射线定量方法存在病态方程不易解决的问题.该方法对常规 X 射线定量分析具有普遍的实用性.     

X射线衍射角度的单片机测量系统

为精确测量Ｘ射线衍射角度，并使测量过程逐步智能化，开发了以８０３１为基础的单片机光编码角度测量系统，用以代替原有的机械角度测量系统，测角精度为１０，无往复调整误差。     

半绝缘GaAs单晶化学配比的X射线双晶衍射Bond方法测量

本文利用Ｘ射线双晶衍射Ｂｏｎｄ方法，精确测量了各种条件下生长的半绝缘ＧａＡｓ的晶格参数．建立了过量Ａｓ在晶体中存在的间隙原子对模型，在理论上找到了影响半绝缘ＧａＡｓ晶格参数的根本原因．并建立了半绝缘ＧａＡｓ晶格参数与化学配比的关系，实现了化学配比的无损测量．这对于ＧａＡｓ单晶的制备和相关光电子器件的研究具有重要意义．     

热壁外延制备n-PbTe/p-Pb_(1-x)Sn_xTe异质结

用改进的HWE装置，在BaF2衬底上制备n－PbTe／p－Pb_（1-x）Sn_xTe反型异质结的工艺及测试结果。SEM，XRD检测表明它是单晶异质结，I－U曲线表明它具有良好的整流特性。此外用C－U截距法测定了它的内建电势差Ud。     

美国ASME标准（1995版）中有关射线照相检验要求的重点及评述

介绍美ＡＳＭＥ锅炉压力容器法规（１９９５版）中有关射线照相才质量评要求的特点和要点，并结合工业实践与理论，中标，欧标等作了总评。