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《电子设计应用》2004,(7):118-118
美国国家仪器(NI)中国有限公司和泰克电子中国有限公司联合宣布推出一系列巡回技术研讨会,以扩展双方的合作空间,并帮助设计工程师们满足日益增长的应用需求。研讨会将于2004年7、8 两月在全国各大重点城市相继举行,会议期间将展示NI LabVIEW 图形化开发软件在泰克的示波器上运行的效果和相关的演示实例。同时, 作为PXI 系统联盟的发起成员之一,NI 将于8 月16 日在北京天鸿饭店举办“2004 年中国PXI 技术和应用论坛”,引领中国用户与全新PXI技术接轨。MATLAB 产品家族是美国 MathWorks 公司开发的用于概念设计、算法开发、建… 相似文献
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用CPLD实现SRAM工艺FPGA的安全应用 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了一种利用CPLD产生的伪随机码来加密SRAM工艺FPGA的方法,并详细介绍了具体的电路和VHDL代码。 相似文献
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基于对比折射法的三维静校正技术及其应用 总被引:7,自引:0,他引:7
在地形起伏剧烈、速度和厚度横向变化大的地区,折射静校正技术的应用受到诸多限制,主要表现在不能准确地识别和拾取来自于地下连续地质界面的折射波,使得精确求取的长波长静校正量困难。为此,提出了一种基于对比折射法的三维静校正技术。介绍了这种静校正技术的方法原理和特点,基于对比折射法的折射波至拾取实质上是一个折射层的对比分析解释过程,因此能准确地拾取折射波至,精确地求解低速带的绝对延迟时;然后利用延迟时和近地表速度模型(等效,时深,空变)反演表层模型,最终一次性完成基准面静校正(包含低速带校正和高程校正)。在黄土塬、沙漠以及沙漠和山地的接合部等地区,利用基于对比折射法的三维静校正技术进行静校正处理,使资料的品质得到了明显改善,反射同相轴连续性好,信噪比和分辨率高,构造形态清晰可靠,提高了勘探精度。 相似文献