基于SPM技术的纳米信息存储薄膜的研究进展

扫描探针显微技术SPM可以在原子或分子尺度上对表面进行表征和修饰，应用SPM技术可以在薄膜表面形成纳米级的信息点阵，特别适合发展超高密度的信息存储，是一种非常有希望代替传统磁存储，光存储的纳米级存储技术，本文介绍了纳米信息存储薄膜的研究进展，并对其制备技术和读写机制进行了初步的探讨。     

非对称型外差激光探针

本文描述用于检测微振动的非对称型外差激光探针系统及实验结果。实验数据表明,系统检测灵敏度为1×10~(-4)nm/(Hz)~1/2将本系统用于检测薄膜电路在交变电热下的微振动以及表面波聚焦换能器的辐射声场分布,得到满意的结果。     

基于米氏散射及夫朗和费衍射的FAM激光测粒仪

提出了综合运用夫朗和费衍射和米氏散射，即在大粒径范围内采用夫朗和费衍射理论，而在小粒径范围内采用米氏散射理论，来改善小粒径范围内的测量精度，保证激光测粒仪在整个粒径范围内的测量精度。     

用硫磺盖帽电探针测定工业炸药爆轰压力

文中介绍了利用硫磺盖帽电探针测定工业炸药爆轰压力的方法，并对煤炭工业常的４类１１个品种炸药的爆轰压力进行了实际测量。     

激光核聚变靶表面几何参数扫描探针测量技术

应用改造的原子力显微镜（AFM）作为传感系统，配合精密回转气浮轴系和三维微定位装置，实现了对激光核聚变靶球圆周方位形状误差的精密测量。采用该测量技术获得的靶球表面几何参数的测量数据及分析结果可为制靶工艺提供检测手段，并为激光打靶实验提供准确的靶球表面形貌参数。     

离子探针分析锑化铟器件表面沾污

本文描述用离子探针显微分析法研究锑化铟器件表面沽污的情况。研究发现:各工艺过程中采用的容器、化学试剂、去离子水及工作环境,都是杂质沽污的主要来源。离子探针显微分析法促进了工艺的改进,使阳极氧化工序的沾污杂质由13种减少到7种,Na、K和Ca杂质的含量也大大下降。中测腐蚀工序沾污杂质由11～13种减少到4～6种。器件表面沾污的减少使器件性能得到改善,φ2mm器件的阻抗由10kΩ提高到60～70kΩ,成品率也提高一倍左右。     

基于B点磁探针膛内电枢电弧长度与速度分布测量的计算机控制系统的研究

基于B点磁探针的测量原理，建立了电磁轨道炮膛内三维等离子体电枢电弧长度和电弧运动速度测量的数学模型，通过对该模型的分析给出了用于测量膛内电枢电弧长度和运动速度分布的相应推论。开发了用于测量膛内等离子体电枢电弧长度和速度的多通道计算机控制诊断系统，并进行了相应的试验研究。     

电脑—探针微孔测量方法研究

本文讨论了微孔自动化测量装置的原理与结构。电接触探针在微机控制下,在X方向找中心,在Y方向进行孔径测量。该系统不仅能实现测量过程自动化和测量结果自动显示,而且能自动消除测量工作台丝杠螺母反向间隙对测量精度的影响。