首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   5234篇
  免费   213篇
  国内免费   154篇
电工技术   705篇
综合类   275篇
化学工业   223篇
金属工艺   188篇
机械仪表   609篇
建筑科学   176篇
矿业工程   130篇
能源动力   41篇
轻工业   205篇
水利工程   75篇
石油天然气   34篇
武器工业   99篇
无线电   1037篇
一般工业技术   249篇
冶金工业   55篇
原子能技术   10篇
自动化技术   1490篇
  2024年   28篇
  2023年   59篇
  2022年   91篇
  2021年   85篇
  2020年   61篇
  2019年   69篇
  2018年   40篇
  2017年   68篇
  2016年   78篇
  2015年   114篇
  2014年   272篇
  2013年   217篇
  2012年   263篇
  2011年   298篇
  2010年   349篇
  2009年   414篇
  2008年   460篇
  2007年   468篇
  2006年   476篇
  2005年   438篇
  2004年   264篇
  2003年   232篇
  2002年   117篇
  2001年   101篇
  2000年   87篇
  1999年   62篇
  1998年   58篇
  1997年   60篇
  1996年   53篇
  1995年   37篇
  1994年   38篇
  1993年   29篇
  1992年   24篇
  1991年   33篇
  1990年   27篇
  1989年   21篇
  1988年   1篇
  1987年   1篇
  1986年   2篇
  1985年   2篇
  1984年   2篇
  1983年   2篇
排序方式: 共有5601条查询结果,搜索用时 9 毫秒
991.
对比研究缺光子孔径斜率置零复原法和缺光子孔径去除复原法的波前复原误差。首先研究了单子孔径缺光的情况,分析表明:缺光子孔径斜率置零法的波前复原误差呈现随子孔径中心相对全口径中心的半径的增大而增大的规律,即孔径中心部分的缺光子孔径的复原误差小,孔径边沿缺光子孔径的复原误差大;而缺光子孔径去除法的波前复原误差在孔径上分布比较均匀并且较小。缺光的子孔径数目增加后,波前复原误差也随之增加。对比研究了多子孔径缺光的情况,结果表明缺光子孔径去除复原法虽然计算量大,但波前复原误差要小得多。  相似文献   
992.
本文介绍了SIMENS公司的逻辑加密IC卡SLE4428的基本组成特点、操作指令和时序以及与单片机的接口电路。IC卡接口电路加入短路保护设计,以防止插入非法卡损坏其他元件。  相似文献   
993.
近年来某些领域的复杂嵌入式计算系统对于小型化的需求越来越迫切,但是常规的小型化设计手段存在处理器运算负荷加重,需要频繁处理中断事件等缺陷。针对这样的问题,提出了一种复杂嵌入式计算系统的新型硬件架构,该架构将处理器模块与接口模块合并为一个模块,去除了原接口模块中的协处理器及相关芯片,在现场可编程门阵列中集成一个指令执行电路来依据主处理器提供的指令自动进行各接口数据的发送、接收和预处理工作,减轻了主处理器的运算负荷,并且主处理器也无需频繁访问接口和处理接口中断。实际应用表明,该新型架构达到了体积小,功耗低,重量轻的设计目的,并且解决了常规小型化设计方法所存在的问题,可以在各领域的复杂嵌入式计算系统小型化设计中进行推广。  相似文献   
994.
基于MMX指令实现G.728定点算法优化   总被引:1,自引:0,他引:1  
ITU-T建议是国际电信联盟于1992年制定的比特率为16kb/s的低延时CELP类语音编码器.G.728AnnexG是其补充定点算法建议.该文首先介绍了G.728定点算法的特点和Intel MMX技术,然后详细讨论了用MMX指令对G.728的LD-CELP定点算法实现优化一些关键技术,最后给出了优化前后算法速度的对比.  相似文献   
995.
随着SystemVerilog成为IEEE的P1800规范,越来越多的项目开始采用基于SystemVerilog的验证方法学来获得更多的重用扩展性、更全面的功能覆盖率,以及更合理的层次化验证结构。本文主要提出了一种基于SystemVerilog的VMM验证方法学的验证环境。在这个验证环境中,验证了一个8位的MCU,这个MCU主要应用在数据卡项目中,主要特点是时钟周期与指令周期相等,并且相对于标准MUC指令需要时钟周期较少。通常验证MCU都会应用以前的16进制代码读入ROM中,通过仿真观察波形以及输出来确认功能正确,每次只能根据实际应用程序测试对应的一部分MCU功能,缺少一个量化的指标,而且每次改动MCU,需要重新检查结果,效率比较低,而且验证质量无法保证。这里实现了用SystemVerilog来搭建一个基于VMM验证方法学的可移植、重用、扩展、完全自动检查、具有层次化结构的MCU验证平台。这里运用了VMM方法学,设计了一个层次化的验证结构,可以较简单地移植并验证其他类型的MCU,抽象了MCU指令,并且通过约束产生随机指令激励,可以实现遍历所有指令以及地址,另外功能覆盖率模型帮助能够收集并监测覆盖率。  相似文献   
996.
对于是否能找到达标的部件来满足WEEE和RoHS指令的要求,我们早已经被灌输得很多了,以至于我们忽视了一个更加重要的问题。这些指令的最终目的并不是要确保产品达标,或者开发出有效的回收计划,而是要避免使用有害物质,进而也就不需要回收计划了。  相似文献   
997.
随着欧洲的RoHS和WEEE指令已于2006年7月1日开始执行,许多元件供应商面临着使其产品符合无铅环境的挑战。两个指令都要解决将铅从元件中去除的问题。半导体公司必须选择高性价比、与含铅焊料逆向兼容,并与无铅焊料前向兼容的无铅镀层策略。逆向兼容表示无铅元件能够用锡铅(SnPb)焊料回流工艺安放在PCB上。前向兼容表示目前的锡铅工艺能够在面板组装中,与无铅焊料一起使用。  相似文献   
998.
《电子元件与材料》2006,25(4):49-49
随着欧盟RoHs指令生效日期的日益临近,无铅制造已经不再仅仅是一个话题,而是不可回避的现实。  相似文献   
999.
为了帮助电子组装行业更好地执行无铅化的要求,IPC推出“IPC RoHS无铅电子组装加工能力认证计划。”这一深入的审核计划将检查电子制造服务(EMS)厂商及原始设备制造商(OEMs),确保这些厂商的设备有能力生产符合RoHS指令关于无铅化要求的产品。  相似文献   
1000.
从2010年1月1日起,相关产品出口至欧盟,如果误用滥用CE标志,将受到欧盟的重罚。按现行规定,在欧盟市场销售的工业产品必须贴有CE标志,否则不得上市销售。玩具指令(88/378/EEC)、机械指令(98/37/EEC)、低电压指令(73/23/EEC,2006/95/EC)等许多欧盟的重要指令均对CE认证标志作了要求。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号