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991.
AD590是一款性能优良的集成温度传感器。本文介绍了用其设计的一套智能温度检测仪,可广泛用于蓄电池供电、远端检测及一些人不便进入的场所。  相似文献   
992.
介绍了基于24位模/数器件AD7710的直流电压表头的硬件设计和软件实现。阐述了AD7710的模拟电压输入、基准电压输入以及与微处理器的数字接口电路。分析介绍了采样滤波、快速平均、自动量程转换与校准技术。对印制电路板和软件设计等要注意的问题进行了讨论。  相似文献   
993.
本文通过分析磨煤机的功率得出用振动信号代表磨煤机负荷的可行性。介绍了AD536A的工作原理,连接方式及其在中储式制粉系统中球磨机内负荷测量中的应用。  相似文献   
994.
基于STC12C2052AD单片机的线阵LED显示装置的设计   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了一种基于STC12C2052AD单片机的线阵LED图文显示装置。用人眼的视觉暂留原理,将16个LED排列成均匀的一排,直流电机带动LED板飞速旋转,在LED板形成的圆形范围内显示图文信息。霍尔传感器测量转速并自动调节LED的显示位置,红外遥控控制装置的各个功能的切换,光敏电阻返回模拟信号经A/D转换后确定当前环境的光线强度,适当调节LED的亮度,保证不同环境下图文显示的稳定性,此处以单片机自带的定时器设计了一个可红外控制的秒表及英文字母的显示实例。  相似文献   
995.
系统采用ARM920T作为核心处理嚣,以低频信号作为信号源,采用DDS技术,从而实现相频、幅度、频率特性的分析仪器,能够简单地实现信号源的时域和具体参数的波形。系统主要由ARM920T控制处理器、DDS扫频模块、ADC采样模块、DAC输出模块、检波滤波器模块、扫频信号源幅度模块组成。其中处理器采样ARM920T,扫频信号源采样DDS芯片AD9851,检波模块以AD637JQ芯片构成,相位检测模块由AD8302芯片构成,DAC芯片TLV5618控制扫频信号的幅度。实验结果表明,仪器可以检测20Hz~1 MHz左右的频率信号源,可以显示在LCD屏幕上,直观地读出频率、幅度和相位。  相似文献   
996.
研究设计一种基于FPGA总线的多功能数据采集模块,包括硬件模块和FPGA程序,硬件模块分为八个功能单元。FP-GA程序采用Verilog HDL编程开发。经验证性能稳定、可靠性高,可进行长时间、连续大量数据采集;CPCI总线数据传输具有DMA功能高速连续传输不丢帧;总线信号驱动能力强,传输距离远;结构简单,价格低廉,使用方便。  相似文献   
997.
高速数据采集广泛应用于工业、军事、科研及日常生活中。而高速数据采集系统中关键问题是如何将采集到数据及时准确地存储和显示,本文就这一问题进行了分析和探讨,以寻求最佳解决方案。文章中比较详细地介绍了如何利用高速AD转换芯片ADS830构建一个高达60M的采样系统。并介绍了如何实现常见的几种触发方式。  相似文献   
998.
马睿  胡晓吉 《计算机测量与控制》2012,20(9):2510-2512,2522
脉冲发生及捕捉板卡(简称脉冲板)可实现多模式脉冲发生和捕捉计数的功能;采取PCI接口芯片和FPGA配合方案完成与上位机的通讯;采用直接数字式频率综合技术合成目标频率脉冲信号实现脉冲发送功能;采用光电隔离技术捕捉外部脉冲信号实现脉冲捕捉功能;对软硬件进行加固实现高精度、高可靠性、强实时性、可扩展性且能抗恶劣作战环境的军事用途脉冲板。依据国军标相关要求检验脉冲板,并采用脉冲板自环形式测试,结果显示其技术指标有新的突破:步进值可达到1‰Hz,频率精度可达0.01%。  相似文献   
999.
In the low-level RF control field,ADC acquisition accuracy and noise set the boundary of our control ability,making it important to develop low-noise acquisition systems.From the design to test stage,all the noise terms should be understood and characterized.The specific need addressed here is the precision acquisition system for the second Linac Coherent Light Source(LCLS-Ⅱ),led by SLAC National Accelerator Laboratory.Test circuit boards for the LTC2174 and AD9268 ADCs are designed and fabricated by LBNL.An ADC test framework based on FPGA evaluation board to assess performance has been developed.The ADC test framework includes both DSP(Digital Signal Processing) firmware and processing software.It is useful for low-level RF control and other synchronization projects.Investigating the clock jitter between two channels give us an understanding of that noise source.Working with the test framework,the raw ADC data are transferred to a computer through a Gigabit Ethernet interface.Then short-term error signal can be calculated based on a sine wave fit.By changing low-pass filter bandwidth,relative long-term performance can also be obtained.Amplitude jitter and differential phase jitter are the key issues for ADCs.This paper will report the test results for LTC2174 and AD9268 chips.The integral amplitude jitter is smaller than 0.003%,and the integral phase noise is smaller than 0.0015°(measured at 47 MHz RF,100 MHz clock,bandwidth 1 Hz to 100 kHz) for both ADC chips.  相似文献   
1000.
《现代电子技术》2016,(1):105-107
以LabWindows/CVI 2013为上位机软件开发平台,采用单片机AT89S51作为控制核心,通过单片集成两端感温传感器AD590对温度进行采集,由ADC0809实现模拟信号的数字化。经过RS 232C串行通信,在用户界面控件面板上由4个Command Button类型的控件分别实现控制采样、停止采样、清除数据和退出,并实时显示温度波形、最大值和最小值。采取隔离屏蔽等措施,增强了温度实时采集系统的实用性、可靠性。  相似文献   
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