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气体微流量标准装置的研制 总被引:4,自引:1,他引:4
气体微流量标准是校准气体微流量的一种装置,可用于传递型和应用型参考漏孔及气体微流量计的校准。它由恒压式微流量计、流量校准系统、待校流量引入系统和测量与控制系统四部分组成。恒压式微流量计的变容室采用了活塞液压驱动波纹管结构,活塞的平动由恒力矩测速电机驱动导轨平动机构完成,活塞的位移用精密光栅尺测量。在流量测量过程中,测量与控制系统将变容室和参考室之间的压力差控制在工作压力值的0.01%之内。该标准装置可采用直接测量法和比较测量法对气体微流量进行校准,其量程为1.71~1.22×10-5PaL/S,不确定度<2%。 相似文献
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一直以来内存泄露都是程序员们非常关心的一个大问题,通过借助一些工具,程序员可以查找到程序中存在的内存泄露的问题。内存溢出的出现会给程序员带来很多的烦恼。本文针对.NET环境中的内存泄露问题进行分析并指出应如何正确使用c#的垃圾回收机制。 相似文献
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以纯He、及一定浓度He、Xe、SF6与N2的混合气体示漏, 研究了将浓度检漏法获得的非氦示漏气体漏率转化为He标准漏率的可行性。研究结果表明, 对于纯粘滞流和纯分子流, 依据现有的理论, 通过粘滞系数、压力、温度、分子质量等参数的校正, 可以进行不同示漏气体间漏率的转换。但由于He分子直径小, 与其它示漏气体分子显著不同, 即便在相同漏孔、相同压力条件, 其流动状态也可能存在差异, 进而影响计算结果的准确性。对于过渡流, 由于其流动状态的复杂性, 可以按照分子流和粘滞流漏率转换方法界定漏孔He标准漏率的范围。对于粘滞流, 相同压力条件下不同示漏气体漏率的差异主要由气体粘滞系数引起, 采用混合气体示漏时各组分具有相同的泄漏速率;当漏孔中气流处于过渡流或分子流时, 混合气体各组分会出现不同的泄漏速率, 当气流为分子流状态时, 各组分泄漏速率差异达到最大。 相似文献
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航天器推进系统、热控系统、环控系统及流体回路系统有严格的泄漏指标要求,基于质谱分析的检漏方法存在本底信号干扰及重复性较差等难点,建立了工质原位检漏方法的理论模型,分析了质谱室直接进样与分流进样的特点,确定了分流进样的技术方案;通过试验,获得了大气环境取样条件下质谱室工作压力与本底信号的关系;同时,通过氦气、氪气、氙气等标准漏孔重复性试验获得了工质气体校准系数与本底信号的关系,并验证了系统检漏灵敏度满足航天器检漏要求。 相似文献
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随着分子流漏孔的广泛应用, 迫切需要一种制作简单、成本低廉且流导可控的分子流漏孔制作方法。本文基于阳极多孔氧化铝 (AAO) 模板, 利用打孔硅片作为掩膜和支撑材料, 制作出不同有效面积的AAO新型分子流漏孔, 然后使用自主设计的动态差压法漏孔测量设备, 以氮气、氦气和氩气作为测试气体对所制作的直径分别为2和13 mm圆形AAO分子流漏孔流导进行了测量。实验结果表明, 漏孔的流导测量值接近理论计算值, 流经AAO漏孔的气体始终保持分子流状态, 即流导维持不变。AAO分子流漏孔具有制备工艺简单、成本低、流导可控且可预测不同种类气体流导等优点。 相似文献
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基于常压氦质谱累积检漏,提出了航天器推进系统漏率测试不确定度评定方法,建立了一元一次线性数学模型,运用最小二乘法理论对比分析了氦气累积过程和漏率标定过程的A类和B类不确定度计算结果,试验验证检漏不确定度评定的影响因素,认为氦气累积过程B类不确定度对航天器推进系统漏率测试结果的不确定度评定影响较大,而B类不确定度主要来源于检测仪器的固有测试误差,同时总结了检漏仪测试数据变化量与漏率测试不确定度的关系,为提高航天器推进系统漏率计算结果精准性指明了方向。 相似文献
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针对被校漏孔接头种类繁多,接头漏气难以避免且其值测量不方便的问题。采用两种方式进行修正:一方面利用进退活塞得到两个修正的体积系数,推导出接头漏气和漏孔漏率引起的差压变化之比的测试方法,用以修正接头漏气的影响;另一方面通过粘滞流公式推导出微小压力差下气体漏率与压力差近似成正比。通过调整校准室的压力,利用差分的原理减少漏气对校准结果的影响。两种修正方式的采取,解决了常规漏孔接头漏气难以原位测量或减小到可以忽略的问题,降低了对被校漏孔接头的要求,提升了体积补偿法的测量准确度和工作效率,同时将校准下限延伸到10-7Pa·m3/s。 相似文献
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