一种生成卵形曲线的方法

利用几何变换的方法解决了卵形曲线的生成问题。以椭圆作为变换的初始曲线,按照所给条件对其使行变换。讨论了该曲线的形成过程,创建了相应的数学方程。分析了方程中各参数的意义及所表达的曲线的特性,并根据所建的数学方程进行编程、验证,结果表明,所绘出的图形与分析完全吻合。     

基于几何特性的三次均匀B样条曲线构造描述

基于B样条曲线是分段的Bézier曲线段的集合这一数学特性,通过剖析三次均匀B样条曲线的数学表达及其几何意义,由曲线的几何特性给出了各曲线段Bézier点的几何表示。每段B样条曲线段(三次Bézier曲线段)对应的4个Bézier特征顶点,可以导出该曲线段的B样条基函数。依此为基础,描述了三次均匀B样条曲线构造的原理和过程,并给出了不同曲线段数情况下曲线特征构造和插值构造的相关公式。     

基于有效交叉点搜索的点串等距边界环生成算法

提出了一种根据零件截面点串边界曲线生成等距加工轨迹的新算法。当点串边界曲线的等距环自交或内外环相交时,根据边界上交叉点的穿越深度判定出有效交叉点,在有效交点处的四段进出边中选取一对转角最大的进边与出边连入环中,形成环形加工轨迹。该算法已在自主开发的RPM数据处理软件中成功应用。该算法提高了已有数据处理软件的稳定性;并在此基础上实现了RPM的OFFSET加工轨迹的生成。     

油田产量预测系统的研制

如何有效地预测油田的未来产量一直是油藏工程研究中的一项重要内容,准确地预报油田开发过程中的动态产量,是合理调整油田规划和制定方案,实现优化开发和管理的重要依据。本文研究了几种新的预测方法(基于人工神经网络的稠油预测模型、灰色预测模型、CAR预测模型等),并首先将其应用于油田产量预测。本文开发的预测系统集成了20多种常规的和新型的预测方法,对油田产量的预测及管理都能够给出有价值的数据。在充分并准确采集油田各单位产量信息及建立切合实际的数据模型的基础上,将油田产量信息采集与处理、预测与管理等环节,有机地结合成为一个整体。实际预测结果表明,该方法可以取得较好的预测效果。     

基于广义逆矩阵的B样条曲线节点消去算法研究

为了能运用广义逆矩阵理论来研究B样条曲线的节点消去问题，以解决在B样条曲线曲面拟合过程中产生的冗余节点数据，提出了一种基于广义逆矩阵的B样条曲线节点消去算法，该算法首先利用广义逆矩阵在处理奇异性问题上的独特作用来获得B样条曲线的节点可以消去的充要条件；然后在此基础上，又提出了消去多个节点的算法，算法对每个可以消去的节点都可计算相应的广义逆矩阵，而且仅进行一次矩阵的相乘即可得到由消去这个节点而产生的新的控制顶点和节点。实验表明，该算法的精度优于或近似于现有的Tiller算法，而时间效率则同于或近似于Tiller的算法。由于通过调整算法中的误差阈值，可以有效地控制消去节点后的曲线与原来曲线的误差，因此算法可以用于工程实践。     

基于椭圆曲线的代理多签名方案的安全性分析

在一个安全的代理签名方案中，只有指定的代理签名人能够代表原始签名人生成代理签名．基于椭圆曲线离散对数问题，纪家慧和李大兴提出了一个代理签名方案和一个代理多签名方案，陈泽雄等人给出了另外两个代理多签名方案．但是，在他们的方案中，原始签名人能够伪造代理签名私钥．为了抵抗原始签名人的伪造攻击，改进了代理签名密钥的生成过程，并对改进的方案进行了安全性分析．     

超分辨率图像重建方法研究

超分辨率图像重建就是由低分辨率图像序列来估计高分辨率图像，已成为当前研究的热点。对超分辨率的概念和应用场合进行了阐述，对空域的几种主要重建方法进行了详尽分析与比较，并研究了压缩域中的重建方法，指出了各自的优点与不是。研究表明，超分辨率重建具有广泛的应用前景，其成像模型、运动估计、重建算法和实时实现将是今后研究的重点。     

用于参数曲线自由变形的一种新的缩放因子

提出一种用于参数曲线自由变形的新的缩放因子，用该因子此去作用（缩放）待变形曲线，从而使曲线发生形变。通过交互改变控制参数，可达到预期的变形效果。实验表明，这种方法数学背景简单，易于控制，重复使用可获得丰富的变形效果，适用于几何造型、计算机动画等领域。     

分布式并行测井曲线仿真系统的研究与实现

本文介绍了分布式并行测井曲线仿真系统的开发过程，详细描述了它的分析与设计，论述了数据并行化、人机交互等技术在分布式并行系统中的实现，最后给出了相应的实例及实现方法。     

基于测量数据优化修匀的特性曲线样条插值方法

针对传感器特性曲线拟合存在的一些问题,提出了测量数据优化修匀思想以有效消除测量数据的随机误差.应用数值处理软件Matlab结合实验数据研究了基于不同修匀方案的特性曲线的三次样条插值表示并提供了可视化的结果.经过对比不难发现,依据优化修匀数据的三次样条插值误差明显减小,可应用于任意类型传感器或其它仪器仪表的特性曲线的描述与分析.