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51.
根据惠斯通电桥工作原理,采用回路法可以简便快捷地确定电视地下电缆接地、短路故障点的位置。电容法也是一种常用的检查开路的检测方法。这样维修人员可以迅速排除故障,保证电视节目的正常传送。  相似文献   
52.
提出了一种对标准单元的光学邻近效应校正结果进行复用的方法,并通过将传统标准单元中的所有核心逻辑通过反相器和二选一多路选择器的组合来实现,得到了一套可制造性强的精简标准单元库,从而使OPC复用技术得以有效实施,并将在很大程度上提高芯片生产效率和降低掩模数据存储量.精简标准单元库中单元的电气仿真结果表明其在面积、速度、功耗方面与传统标准单元库相比性能损失很小.  相似文献   
53.
周宠  陈岚  曾健平  尹明会  赵劫 《半导体学报》2012,33(2):025015-6
当集成电路的特征尺寸下降到100nm以下,可制造性设计就变得尤为重要。本文提出了一种65nm可制造性标准单元库的设计方法。通过精简基本单元的数量,降低光学矫正的时间和空间复杂度;利用DFM设计规则和光学模拟仿真对每个单元的版图进行优化以提高整个单元库的可制造性。应用该方法实现的标准单元库在时序,功耗,面积方面与传统标准单元库相比具有很好的性能,并且通过Foundry的TD部门65nm工艺线的可制造性测试,有利于65nm工艺生产良率的提升。  相似文献   
54.
信息技术发展迅猛的今天,传统的图书馆管理已不再能够满足人们的阅读需求.图书馆作为高校校园的基础设施之一,对学生的学习发展起着至关重要的作用.迎合时代发展潮流,建立完善的信息化建设体系,逐步成为高校在发展过程中的重要工作,本文围绕高校图书馆网站的建设方法展开探讨和分析,以期能够为相关的校园建设工作提供些许参考.  相似文献   
55.
高校图书馆面对时代的发展,规划文献信息资源的组织和发展的模式,展现出了高校图书馆中的数字化及网络化信息资源的利用和开发管理,这一项目目前成为高校图书馆中急需探究的课题.  相似文献   
56.
朱维杰 《现代显示》2009,20(1):39-43
LCD驱动器RA8816支持多种控制接口,并且将中文字库、点阵LCD驱动、键盘扫描电路和通用IO口等多种实用的外围电路集成在单颗芯片内部。利用RA8816构成的人机交互系统,软、硬件设计得到极大的简化,不仅更容易控制,而且还能降低系统成本,是构成微机控制系统人机交互的理想方案。文中全面介绍了RA8816的硬件配置方法及关键的控制程序。  相似文献   
57.
提出了一种对标准单元的光学邻近效应校正结果进行复用的方法,并通过将传统标准单元中的所有核心逻辑通过反相器和二选一多路选择器的组合来实现,得到了一套可制造性强的精简标准单元库,从而使OPC复用技术得以有效实施,并将在很大程度上提高芯片生产效率和降低掩模数据存储量.精简标准单元库中单元的电气仿真结果表明其在面积、速度、功耗方面与传统标准单元库相比性能损失很小.  相似文献   
58.
与发达国家相比,我国高职院校的信息素养教育起步较晚、比较落后,在探索发展中存在一些问题值得我们思考和交流。文章从分析我国高职学生信息素养教育现状入手,对高职图书馆如何充分发挥自身优势有效开展学生信息素养教育进行了探讨。  相似文献   
59.
本文介绍了PROTEL元件符号图形库和点阵汉字库的结构,以及怎样将点阵汉字库转换到PROTEL元件符号图形库的方法。从而提出一种在利用PROTEL设计电路原理图时,加入汉字标注的途经。  相似文献   
60.
This work presents an effective way for evaluating and validating ensembles of combinational CMOS gates and logic cell libraries. The major contributions include an innovative design methodology for such a kind of test vehicle, as well as a simple and flexible multi-operating mode circuit architecture. The resulting circuit is quite useful for cell library verification at different levels: in the EDA environment and on silicon prototyping. The proposed methodology can be applied for analysis taking into account the logic gate functionality, timing performance, power consumption and circuit operating impact of nanometer aging effects. Simulation results demonstrate the circuit operation, features and facilities described herein.  相似文献   
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