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41.
The aim of this article is to bring forth the issue of integrating the services provided by intelligent artifacts in Ambient Intelligence applications. Specifically, we propose a Distributed Constraint Optimization procedure for achieving a functional integration of intelligent artifacts in a smart home. To this end, we employ Adopt-N , a state-of-the-art algorithm for solving Distributed Constraint Optimization Problems (DCOP). This article attempts to state the smart home coordination problem in general terms, and provides the details of a DCOP-based approach by describing a case study taken from the RoboCare project. More specifically, we show how (1) DCOP is a convenient metaphor for casting smart home coordination problems, and (2) the specific features which distinguish Adopt-N from other algorithms for DCOP represent a strong asset in the smart home domain. 相似文献
42.
43.
用Tow-Thomas电路设计含有限非零传输零点有源滤波器的方法 总被引:4,自引:1,他引:3
Tow-Thomas电路是一种实现全极点滤波器的典型电路。本文给出了用Tow-Thoms电路设计含有限非零传输零点有源滤波器的方法,从而使Tow-Thomas电路可用于单片集成滤波器电路。而文中给出的公式可用于计算外接元件。设计实例表明了文中给出的计算公式的正确性。 相似文献
44.
45.
46.
智能工程与控制技术:历史,发展与未来 总被引:3,自引:0,他引:3
本文综述了智能工程和控制技术的发展历程和基本问题。文中着重论述了人工智能在过程控制系统中的必要性及开发实时智能控制系统的步骤;对符号推理系统、耦合推理系统、人工神经网络和集成分布式智能系统的特点和局限进行了比较。最后讨论了计算机集成过程系统(CIPS)的基本问题、基础技术和发展前景。 相似文献
47.
提出并讨论了两种实现码分多址系统中最佳多用户检测的神经网络方法。一种基于离散Hopfield神经网络,另一种基于采用反向传播算法的多层感知器神经网络。理论分析和计算机模拟都证实了这两种神经网络方法的可行性,优越性和实用性。前者适用“固定”用户情况;后者既可用于“固定”用户吼适用于移动用户的情况,因而在未来的CDMA个人通信网中有较好的应用前景。 相似文献
48.
刘崇新 《微电子学与计算机》1996,13(6):9-11
本文提出了以电流跟随器CF为基本电路元件的全集成MOSFET-C精确连续时间六阶低通滤波器电路,并应用PSPICE-Ⅱ通用模拟电路程序,对其幅频特性和相频特性进行了计算机仿真分析,得出了实用的结论。 相似文献
49.
我国企业在信息化建设过程中取得了一些成果 ,也出现了不少问题 ,本文主要针对这种现状 ,指出了企业存在的一些问题 ,并就信息系统开发、维护和集成 ,提出了一些建议。 相似文献
50.
P Sallagoity F Gaillard M Rivoire M Paoli M Haond S McClathie 《Microelectronics Reliability》1998,38(2):700
This paper presents Shallow Trench Isolation (STI) process steps for sub-1/4 μ CMOS technologies. Dummy active areas, vertical trench sidewalls, excellent gap filling, counter mask etch step and CMP end point detection, have been used for a 0.18 μm CMOS technology. Electrical results obtained with a 5.5 nm gate oxide thickness show good isolation down to 0.3 μm spacing. Good transistor performances have been demonstrated. 相似文献