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This paper introduces a new concept of testability called consecutive testability and proposes a design-for-testability method for making a given SoC consecutively testable based on integer linear programming problem. For a consecutively testable SoC, testing can be performed as follows. Test patterns of a core are propagated to the core inputs from test pattern sources (implemented either off-chip or on-chip) consecutively at the speed of system clock. Similarly the test responses are propagated to test response sinks (implemented either off-chip or on-chip) from the core outputs consecutively at the speed of system clock. The propagation of test patterns and responses is achieved by using interconnects and consecutive transparency properties of surrounding cores. All interconnects can be tested in a similar fashion. Therefore, it is possible to test not only logic faults but also timing faults that require consecutive application of test patterns at the speed of system clock since the consecutively testable SoC can achieve consecutive application of any test sequence at the speed of system clock. 相似文献
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CAS-BUS: A Test Access Mechanism and a Toolbox Environment for Core-Based System Chip Testing 总被引:2,自引:0,他引:2
As System on a Chip (SoC) testing faces new challenges, some new test architectures must be developed. This paper describes a Test Access Mechanism (TAM) named CAS-BUS that solves some of the new problems the test industry has to deal with. This TAM is scalable, flexible and dynamically reconfigurable. The CAS-BUS architecture is compatible with the IEEE P1500 standard proposal in its current state of development, and is controlled by Boundary Scan features.This basic CAS-BUS architecture has been extended with two independent variants. The first extension has been designed in order to manage SoC made up with both wrapped cores and non wrapped cores with Boundray Scan features. The second deals with a test pin expansion method in order to solve the I/O bandwidth problem. The proposed solution is based on a new compression/decompression mechanism which provides significant results in case of non correlated test patterns processing. This solution avoids TAM performance degradation.These test architectures are based on the CAS-BUS TAM and allow trade-offs to optimize both test time and area overhead. A tool-box environment is provided, in order to automatically generate the needed component to build the chosen SoC test architecture. 相似文献
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提出并讨论了两种实现码分多址系统中最佳多用户检测的神经网络方法。一种基于离散Hopfield神经网络,另一种基于采用反向传播算法的多层感知器神经网络。理论分析和计算机模拟都证实了这两种神经网络方法的可行性,优越性和实用性。前者适用“固定”用户情况;后者既可用于“固定”用户吼适用于移动用户的情况,因而在未来的CDMA个人通信网中有较好的应用前景。 相似文献
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通用串行总线(USB)数据传输模型 总被引:1,自引:1,他引:0
USB作为一种数据传输接口,了解它的通信传输机制是正确利用USB利用数据传输的基础,分层次结构对USB数据传输模型加以分析,可以使读者建立起USB体系结构、通信模型和总线事务的框架和概念,并最终对USB传输工作流程有一个清晰的认识。 相似文献
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工程应用中软件工具的多样性和设计活动的分散性形成了大量异构数据。本文分析了传统的异构数据管理方法的不足,提出使用数据库系统的文件系统结合的管理方法。针对此方法下所形成的异构数据源问题,给出了基于J2EE规范的数据访问对象抽象工厂解决方案。 相似文献
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