基于Bo-BiLSTM网络的IGBT老化失效预测方法

针对绝缘栅双极型晶体管（IGBT）受热应力冲击后对其进行老化失效预测精度不高的情况,提出一种基于贝叶斯优化（Bo）-双向长短期记忆（BiLSTM）网络的IGBT老化失效预测方法。首先分析IGBT模块老化失效原理,然后基于NASA老化实验数据集建立失效特征数据库,最后利用Matlab软件构造Bo-BiLSTM网络预测失效特征参数数据。选取常用回归预测性能评估指标将长短期记忆（LSTM）网络模型、BiLSTM网络模型与Bo-BiLSTM网络模型的预测结果进行对比分析。结果表明,Bo-BiLSTM网络的模型拟合精度更高,基于Bo-BiLSTM网络的IGBT老化失效预测方法具有较好的预测效果,能够应用于IGBT的失效预测。