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以微波溶剂热法制备纳米晶粉体Ag8SnSe6,通过X射线粉末衍射、透射电子显微镜和X射线光电子能谱等手段表征其组成。实验考察了超声波辐照、合成时间和有机溶剂填充度等条件对其产率和粒径的影响。探讨了微波溶剂热法合成纳米晶的机理。漫反射紫外可见吸收光谱(UV-Vis)表明其禁带宽度为2.14 eV,具有优良的半导体性能。 相似文献
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一种单片机控制的高压开关电源 总被引:2,自引:1,他引:1
针对X射线荧光分析装置对供电高压电源在效率、体积和智能控制等方面的要求,研制了一种以单片机和脉宽调制(PMW)技术为基础的高压电源.以单片机89C52为控制主体,采用单端式推动、PID算法稳压控制,经变压器和倍压整流后输出高压.电源输出在0~50 kV连续可调,且体积小、效率高、长期运行性能稳定. 相似文献
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介绍了用能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)法测定石灰岩矿中Ca含量的分析方法。该方法将石灰岩矿样品粉碎,加入AgNO_3溶液反应产生AgCl沉淀,用EDXRF法测量AgCl沉淀物中Ag含量,再通过测得的Ag含量换算成Ca含量。实验结果表明:该方法测量结果的相对误差不大于0.7%,RSD不大于1.6%;与WDXRF法比较,测量石灰岩矿中Ca含量为49.28%时,其相对误差为1.38%。 相似文献
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在不同表面宏观电场下对定向生长于镍片上的碳纳米管膜的场致发射电流密度进行了测定,被测样品是在作者提供的纯镍基片上由美国Xintek公司加工,测试条件为:发射窗口直径3mm,平行板电极系统极间的距离0.4~1.0mm,可微调,测试电压0~1000V。在相同实验条件下,多次测量电场强度与发射电流密度的关系及其稳定性。在距离不变及中等工作电压的情况下,测定了样品连续工作及反复间断工作时场致发射电流的稳定性。将测量结果分别与美国公司公布的资料及作者两年前对西安交通大学所提供的硅基片碳纳米管所做的测定结果进行了对比,依据对本次样品的测量数据建立了相应的j-E关系曲线的数学拟合函数表达式,为用本次样品设计制造碳纳米管冷阴极X线管做了准备。 相似文献
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采用间接测量的方法,对菱镁矿的化学分析过程进行处理,建立目标元素Mg与中间观测元素Ba之间的对应关系,以Ba的能量色散X射线荧光(Energy Dispersive X-ray Fluorescence,EDXRF)测量结果,计算出菱镁矿测试样品中镁的含量为29.43%,相对标准偏差为0.58%。借助于具有含量梯度的验证样品对方法的准确性进行了验证,得到的定标曲线具有良好的线性关系,测量结果显示准确度和可靠性高、稳定性和重复性好。该方法克服了EDXRF对轻元素直接探测效率低、结果精度差的缺点,为镁的测量提供了一种快速、准确、经济的检测思路和方法。 相似文献
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