氧化钨电致变色薄膜的XPS分析

采用射频磁控溅射工艺,在柔性PET衬底上低温制备电致变色WOx/ITO/PET多层薄膜;利用X射线光电子能谱(XPS)分析所制备薄膜的着、退色态中W元素的价态以及O元素的化合环境.结果表明:WOx薄膜着色态中存在W6 和W5 的混合价态,而在退色态中W元素的化合价仅为W6 ;钨离子的不同价态和氧离子的不同化合环境的变化与WOx薄膜的电致变色机制密切相关.     

长期贮存寿命评估方法研究

报告了长期贮存寿命常用的两种评估方法(自然贮存试验评估和加速寿命试验评估)的研究现状,从工程应用角度实际使用出发,对自然贮存试验转化为类比法试验评估方法进行了研究,避免了自然贮存试验周期过长的缺点并保留了其真实性。同时,对加速寿命试验模型阿列尼乌斯方程的推导分析和建模应用进行了研究。     

波导检波装置的失效模式及改善措施

文中报告了波导检波装置应用过程中主要存在的三种失效模式现状：常温下检波电压幅值发生跳变,在某频点跳变量达到120 mV;高低常三温下检波电压幅值变化率超过25%;在高低常三温下检波电压幅值不满足250～900 mV幅值范围的要求。对这三种失效模式进行了研究,主要从检波二极管、检波盒体对检波性能的影响展开了具体的讨论。文中重点论述了检波二极管的功率容量饱和特性、检波二极管的温度特性,推导出检波电压幅值温度变化率公式;同时还分析了高、低温情况下由于检波腔体尺寸的微小变化使得谐振状态改变从而对产品高、低温下检波电压幅值变化的影响。最后,依据失效模式的机理分析给出了产品的改善措施。     

V_2O_5添加对NiCuZn铁氧体材料磁性能的影响

在前期实验的基础上并根据实际需要,选用Ni0.25Cu0.4Co0.15Zn0.2Fe2O4为主配方,采用普通氧化物陶瓷工艺制备NiCuZn铁氧体材料,通过添加V2O5助熔剂来改善材料的显微结构。主要研究了助剂含量对材料致密化程度、起始磁导率、截止频率、比损耗、温度稳定性等的影响。最终制备出可以用于射频领域的宽频带铁氧体材料,性能为:起始磁导率为7.4,截止频率700MHz左右,在-60～120℃磁导率的比温度系数小于4.5×10-4/℃,比损耗系数在100MHz以下小于1×10-2。     

Bi2O3掺杂和烧结温度对NiZn铁氧体截止频率的影响

以Ni0.25Co0.14Cu0.4Zn0.21Fe1.98O4为主配方,掺杂不同量的Bi2O3助熔剂,采用普通陶瓷工艺制备了NiZn铁氧体材料。分别采用X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)分析观察样品的相成分和微观形貌。用阻抗分析仪测试样品的磁谱,研究了Bi2O3助熔剂掺杂量和低温烧结对材料截止频率的影响。当起始磁导率为5.5时获得的截止频率为1GHz;材料中添加4wt%Bi2O3后,其烧结温度可以降低为850℃。     

Co2+取代对NiZn铁氧体材料截止频率fr的影响

采用普通陶瓷工艺制备Ni0.25Cu0.4CoxZn0.35-xFe2O4(x=0.05、0.10、0.15、0.20)铁氧体材料.首先研究了Co2 离子取代对材料截止频率fr的影响,结果表明随着Co2 离子含量的增多,材料的截止频率不断升高.然后在主配方Ni0.25Cu0.4Co0.15Zn0.2Fe2O4中掺入不同含量的PbO,并在不同温度烧结下,考察了PbO含量和烧结温度对材料截止频率的影响,结果发现,加入PbO使得材料的烧结温度降低,从而改变材料内部的微观结构,使得材料的晶粒更加细化、均匀且气孔率较低,最终制备出可应用于射频领域的细晶粒宽频带NiZn铁氧体材料,得到一种相对起始磁导率μi为7时截止频率fr为700MHz的低磁导率高截止频率材料.