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1.
随着大规模集成电路(VLSI)设备的实时测试和单芯片系统时代的到来,集成电路ATE设计人员忙于推出新的设计方案。他们不仅致力于测试技术的更新,更关注测试成本的降低,此外,全新的设备封闭使节点测试日益困难,印制电路ATE制造商为了保证所要求的高故障覆盖区,正努力改进测量流程。编辑部访问了几个主要的集成电路ATE和印制板ATE制造厂商负责人,并提供了新产品信息和98年的开发计划。  相似文献   
2.
以个人计算机为基础的个人仪器震惊了测试和测量界;带彩色发亮显示屏幕的示波器和开发系统在1982年,由于使用3个人仪器,工程师的工作场所已提高到系统综合的较高的水平。这些装置将两个重要的发展趋势综合在工作台测试设备中一即增加对日益便宜的计算能力的内部和外部的利用-,  相似文献   
3.
本文针对纺织工业中的染色工艺过程,设计了一套智能控制系统,并详细介绍了控制的设计思想和结构,实际运行结果证实了该系统能满足工艺要求。  相似文献   
4.
97年底,我们回顾了一年的发展并对下一步工作进行展望,我们常考虑如何使工作更有成效以取得更大的专业成就,这里存在许多值得考虑的因素,其中之一便是所使用的测量工具,对于电子工程师来说,主要是测量仪器,数据采集以及数据处理设备。为了有助于用户做年度计划,EE访问了主要的仪器和数据采集公式负责人,并刊登了他们对新设备开发,技术支持,产品选用以及行业发展趋势等问题的观点。  相似文献   
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